BOSIO, ALBERTO

BOSIO, ALBERTO  

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A 22n March Test for Realistic Static Linked Faults in SRAMs / Benso, Alfredo; Bosio, Alberto; DI CARLO, Stefano; DI NATALE, Giorgio; Prinetto, Paolo Ernesto. - STAMPA. - (2006), pp. 49-54. ((Intervento presentato al convegno IEEE 11th European Test Symposium (ETS) tenutosi a SouthAmpton, UK nel 21-24 May 2006 [10.1109/ETS.2006.2]. 1-gen-2006 BENSO, AlfredoBOSIO, ALBERTODI CARLO, STEFANODI NATALE, GiorgioPRINETTO, Paolo Ernesto 2006-ETS-March.pdf
A Black-Box-Oriented Test Methodology / Benso, Alfredo; Bosio, Alberto; Prinetto, Paolo Ernesto; Savino, Alessandro. - STAMPA. - (2006), pp. 11-15. ((Intervento presentato al convegno IEEE East-West Design & Test Workshop (EWDTW06) tenutosi a Sochi (Russia) nel Sept. 15-19, 2006. 1-gen-2006 BENSO, AlfredoBOSIO, ALBERTOPRINETTO, Paolo ErnestoSAVINO, ALESSANDRO 06-01-EWDTW.pdf
A Functional Verification based Fault Injection Environment / Benso, Alfredo; Bosio, Alberto; DI CARLO, Stefano; Mariani, R.. - STAMPA. - (2007), pp. 114-122. ((Intervento presentato al convegno IEEE 22nd International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI Systems (DFTS) tenutosi a Roma, IT nel 26-28 Sept. 2007 [10.1109/DFT.2007.31]. 1-gen-2007 BENSO, AlfredoBOSIO, ALBERTODI CARLO, STEFANO + 2007-DFT-FaultSim.pdf
A Unique March Test Algorithm for the Wide Spread of Realistic Memory Faults in SRAMs / Benso, Alfredo; Bosio, Alberto; DI CARLO, Stefano; DI NATALE, Giorgio; Prinetto, Paolo Ernesto. - STAMPA. - (2006), pp. 155-156. ((Intervento presentato al convegno IEEE 9th Workshop on Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems (DDECS) tenutosi a Prague, CZ nel 18-21 Apr. 2006 [10.1109/DDECS.2006.1649602]. 1-gen-2006 BENSO, AlfredoBOSIO, ALBERTODI CARLO, STEFANODI NATALE, GiorgioPRINETTO, Paolo Ernesto 2006-DDECS-MarchTest.pdf
Are IEEE 1500 compliant cores really compliant to the standard? / Benso, Alfredo; Bosio, Alberto; DI CARLO, Stefano; Prinetto, Paolo Ernesto. - In: IEEE DESIGN & TEST OF COMPUTERS. - ISSN 0740-7475. - STAMPA. - 26:3(2009), pp. 16-24. [10.1109/MDT.2009.46] 1-gen-2009 BENSO, AlfredoBOSIO, ALBERTODI CARLO, STEFANOPRINETTO, Paolo Ernesto 2009-MTD-IEEE1500.pdf
ATPG for Dynamic Burn-In Test in Full-Scan Circuits / Benso, Alfredo; Bosio, Alberto; DI CARLO, Stefano; DI NATALE, Giorgio; Prinetto, Paolo Ernesto. - STAMPA. - (2006), pp. 75-82. ((Intervento presentato al convegno IEEE 15th Asian Test Symposium (ATS) tenutosi a Fukuoka, JP nel 20-23 Nov. 2006 [10.1109/ATS.2006.260996]. 1-gen-2006 BENSO, AlfredoBOSIO, ALBERTODI CARLO, STEFANODI NATALE, GiorgioPRINETTO, Paolo Ernesto 2006-ATS-BurnIn.pdf
Automatic March tests generation for multi-port SRAMs / Benso, Alfredo; Bosio, Alberto; DI CARLO, Stefano; DI NATALE, Giorgio; Prinetto, Paolo Ernesto. - STAMPA. - (2006), pp. 385-392. ((Intervento presentato al convegno IEEE 3rd International Workshop on Electronic Design, Test and Applications (DELTA) tenutosi a Kuala Lumpur, MY nel 17-19 Jan. 2006 [10.1109/DELTA.2006.17]. 1-gen-2006 BENSO, AlfredoBOSIO, ALBERTODI CARLO, STEFANODI NATALE, GiorgioPRINETTO, Paolo Ernesto 2006-DELTA-Multiport.pdf
Automatic March tests generation for static and dynamic faults in SRAMs / Benso, Alfredo; Bosio, Alberto; DI CARLO, Stefano; DI NATALE, Giorgio; Prinetto, Paolo Ernesto. - STAMPA. - (2005), pp. 122-127. ((Intervento presentato al convegno IEEE 10th European Test Symposium (ETS) tenutosi a Tallin, EE nel 22-25 May 2005 [10.1109/ETS.2005.8]. 1-gen-2005 BENSO, AlfredoBOSIO, ALBERTODI CARLO, STEFANODI NATALE, GiorgioPRINETTO, Paolo Ernesto 2005-ETS-MarchTest.pdf
Automatic March Tests Generations for Static Linked Faults in SRAMs / Benso, Alfredo; Bosio, Alberto; DI CARLO, Stefano; DI NATALE, Giorgio; Prinetto, Paolo Ernesto. - STAMPA. - 1:(2006), pp. 1-6. ((Intervento presentato al convegno Design, Automation and Test in Europe, Conference and Exhibition (DATE) tenutosi a Munich, DE nel 6-10 Mar. 2006 [10.1109/DATE.2006.244097]. 1-gen-2006 BENSO, AlfredoBOSIO, ALBERTODI CARLO, STEFANODI NATALE, GiorgioPRINETTO, Paolo Ernesto 2006-DATE-MarchTest.pdf
Automating the IEEE std. 1500 compliance verification for embedded cores / Benso, Alfredo; DI CARLO, Stefano; Prinetto, Paolo Ernesto; Bosio, Alberto. - STAMPA. - (2007), pp. 171-178. ((Intervento presentato al convegno IEEE International High Level Design Validation and Test Workshop (HLDVT) tenutosi a Irvine (CA), USA nel 7-9 Nov. 2007 [10.1109/HLDVT.2007.4392810]. 1-gen-2007 BENSO, AlfredoDI CARLO, STEFANOPRINETTO, Paolo ErnestoBOSIO, ALBERTO 2007-HLDVT-IEEE1500.pdf
Cross-layer soft-error resilience analysis of computing systems / Bosio, A.; Canal, R.; Di Carlo, S.; Gizopoulos, D.; Savino, A.. - STAMPA. - (2020), pp. 79-79. ((Intervento presentato al convegno 50th Annual IEEE/IFIP International Conference on Dependable Systems and Networks: Supplemental Volume, DSN-S 2020 tenutosi a Valencia, Spain, Spain nel 29 June-2 July 2020 [10.1109/DSN-S50200.2020.00042]. 1-gen-2020 Bosio A.Di Carlo S.Savino A. + 09159134.pdfone_page_tutorial.pdf
Design, Verification, Test and In-Field Implications of Approximate Computing Systems / Bosio, A.; Di Carlo, S.; Girard, P.; Sanchez, E.; Savino, A.; Sekanina, L.; Traiola, M.; Vasicek, Z.; Virazel, A.. - STAMPA. - (2020), pp. 1-10. ((Intervento presentato al convegno 2020 IEEE European Test Symposium (ETS) tenutosi a Tallinn, Estonia, Estonia nel 25-29 May 2020 [10.1109/ETS48528.2020.9131557]. 1-gen-2020 Bosio, A.Di Carlo, S.Sanchez, E.Savino, A. + 09131557.pdfpaper.pdf
Design, Verification, Test, and In-Field Implications of Approximate Digital Integrated Circuits / Bosio, Alberto; Di Carlo, Stefano; Girard, Patrick; Ruospo, Annachiara; Sanchez, Ernesto; Savino, Alessandro; Sekanina, Lukas; Traiola, Marcello; Vasicek, Zdenek; Virazel, Arnaud. - STAMPA. - (2022), pp. 349-385. [10.1007/978-3-030-94705-7_12] 1-gen-2022 Bosio, AlbertoDi Carlo, StefanoRuospo, AnnachiaraSanchez, ErnestoSavino, Alessandro + chapter12.pdfprinted-chapter.pdf
An effective approach for functional test programs compaction / Touati, A.; Bosio, Alberto; Girard, P.; Virazel, A.; Bernardi, Paolo; SONZA REORDA, Matteo. - STAMPA. - (2016), pp. 1-6. ((Intervento presentato al convegno 19th IEEE International Symposium on Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems, DDECS 2016 tenutosi a svk nel 2016 [10.1109/DDECS.2016.7482466]. 1-gen-2016 BOSIO, ALBERTOBERNARDI, PAOLOSONZA REORDA, Matteo + 07482466.pdf
An Effective Fault-Injection Framework for Memory Reliability Enhancement Perspectives / Harcha, Ghita; Girard, Patrick; Virazel, Arnaud; Bosio, Alberto; Bernardi, Paolo. - (2017). ((Intervento presentato al convegno Design &Technology of Integrated Systems in Nanoscale Era. 1-gen-2017 BOSIO, ALBERTOBERNARDI, PAOLO + -
Evaluating Convolutional Neural Networks Reliability depending on their Data Representation / Ruospo, Annachiara; Bosio, Alberto; Ianne, Alessandro; Ernesto, Sanchez. - ELETTRONICO. - (2020), pp. 672-679. ((Intervento presentato al convegno Euromicro Conference on Digital System Design (DSD) 2020 tenutosi a Kranj, Slovenia (virtual event) nel August 26 – 28, 2020 [10.1109/DSD51259.2020.00109]. 1-gen-2020 Annachiara RuospoAlberto BosioAlessandro IanneErnesto Sanchez 09217880_POSTPRINT.pdfDSD_ACK_CR.pdf
Improving stress quality for SoC using faster-than-at-speed execution of functional programs / Bernardi, Paolo; Bosio, Alberto; Di Natale, Giorgio; Guerriero, Andrea; Sanchez, Ernesto; Venini, Federico. - STAMPA. - 508:(2017), pp. 130-151. [10.1007/978-3-319-67104-8_7] 1-gen-2017 Bernardi, PaoloBosio, AlbertoDi Natale, GiorgioSanchez, ErnestoVenini, Federico + -
Interactive Educational Tool for Memory Testing / Bosio, Alberto; DI CARLO, Stefano; DI NATALE, Giorgio; Fisherova, M.; Pikula, T.; Simlastik, M.. - STAMPA. - (2006), pp. 100-103. ((Intervento presentato al convegno 6th International Workshop on Microelectronic Education tenutosi a Stockholm, SE nel 8-9 Jun. 2006. 1-gen-2006 BOSIO, ALBERTODI CARLO, STEFANODI NATALE, Giorgio + 2006-EWME-MemApplet-AuthorVersion.pdf2006-EWME-MemApplet.pdf
March AB, a State-of-the-Art March Test for Realistic Static Linked Faults and Dynamic Faults in SRAMs / Bosio, Alberto; DI CARLO, Stefano; DI NATALE, Giorgio; Prinetto, Paolo Ernesto. - In: IET COMPUTERS & DIGITAL TECHNIQUES. - ISSN 1751-8601. - STAMPA. - 1:3(2007), pp. 237-245. [10.1049/iet-cdt:20060137] 1-gen-2007 BOSIO, ALBERTODI CARLO, STEFANODI NATALE, GiorgioPRINETTO, Paolo Ernesto 2007-IET-CDT-MarchAB-AuthorVersion.pdf10.1049_iet-cdt_20060137.pdf
March AB, March AB1: new March tests for unlinked dynamic memory faults / Benso, Alfredo; Bosio, Alberto; DI CARLO, Stefano; DI NATALE, Giorgio; Prinetto, Paolo Ernesto. - STAMPA. - (2005), pp. 834-841. ((Intervento presentato al convegno IEEE International Test Conference (ITC) tenutosi a Austin (TX), USA nel 8-10 Nov. 2005 [10.1109/TEST.2005.1584047]. 1-gen-2005 BENSO, AlfredoBOSIO, ALBERTODI CARLO, STEFANODI NATALE, GiorgioPRINETTO, Paolo Ernesto 2005-ITC-MarchAB.pdf