Archivio Istituzionale della RicercaDI NATALE, GIORGIO
DI NATALE, GIORGIO
Dipartimento di Automatica Informatica (attivo dal 01/01/1900 al 31/12/2011)
003280
A 22n March Test for Realistic Static Linked Faults in SRAMs
2006 Benso, Alfredo; Bosio, Alberto; DI CARLO, Stefano; DI NATALE, Giorgio; Prinetto, Paolo Ernesto
A programmable BIST architecture for clusters of Multiple-Port SRAMs
2000 Benso, Alfredo; DI CARLO, Stefano; DI NATALE, Giorgio; Prinetto, Paolo Ernesto; Lobetti Bodoni, M.
A tool for teaching memory testing based on BIST
2006 Fischerova, M.; Pikula, T.; Simlastik, M.; Bosio, Alberto; DI CARLO, Stefano; DI NATALE, Giorgio
A Unique March Test Algorithm for the Wide Spread of Realistic Memory Faults in SRAMs
2006 Benso, Alfredo; Bosio, Alberto; DI CARLO, Stefano; DI NATALE, Giorgio; Prinetto, Paolo Ernesto
A watchdog processor to detect data and control flow errors
2003 Benso, Alfredo; DI CARLO, Stefano; DI NATALE, Giorgio; Prinetto, Paolo Ernesto
AFSM-based deterministic hardware TPG
2005 Benso, Alfredo; DI CARLO, Stefano; DI NATALE, Giorgio; Prinetto, Paolo Ernesto
An effective distributed BIST architecture for RAMs
2000 Benso, Alfredo; Chiusano, SILVIA ANNA; DI CARLO, Stefano; DI NATALE, Giorgio; LOBETTI BODONI, M.; Prinetto, Paolo Ernesto
An On-line BIST RAM Architecture with Self Repair Capabilities
2002 Benso, Alfredo; Chiusano, SILVIA ANNA; DI NATALE, Giorgio; Prinetto, Paolo Ernesto
An optimal algorithm for the automatic generation of March tests
2002 Benso, Alfredo; DI CARLO, Stefano; DI NATALE, Giorgio; Prinetto, Paolo Ernesto
Analysis of System-Failure Rate Caused by Soft-Errors using a UML-Based Systematic Methodology in an SoC
2007 Hosseinabady, M.; Neishaburi, M. H.; Navabi, Z.; Benso, Alfredo; DI CARLO, Stefano; Prinetto, Paolo Ernesto; DI NATALE, Giorgio
ATPG for Dynamic Burn-In Test in Full-Scan Circuits
2006 Benso, Alfredo; Bosio, Alberto; DI CARLO, Stefano; DI NATALE, Giorgio; Prinetto, Paolo Ernesto
Automatic March tests generation for multi-port SRAMs
2006 Benso, Alfredo; Bosio, Alberto; DI CARLO, Stefano; DI NATALE, Giorgio; Prinetto, Paolo Ernesto
Automatic March tests generation for static and dynamic faults in SRAMs
2005 Benso, Alfredo; Bosio, Alberto; DI CARLO, Stefano; DI NATALE, Giorgio; Prinetto, Paolo Ernesto
Automatic March Tests Generations for Static Linked Faults in SRAMs
2006 Benso, Alfredo; Bosio, Alberto; DI CARLO, Stefano; DI NATALE, Giorgio; Prinetto, Paolo Ernesto
Control-flow checking via regular expressions
2001 Benso, Alfredo; DI CARLO, Stefano; DI NATALE, Giorgio; Prinetto, Paolo Ernesto; Tagliaferri, Luca
Data criticality estimation in software applications
2003 Benso, Alfredo; DI CARLO, Stefano; DI NATALE, Giorgio; Prinetto, Paolo Ernesto; Tagliaferri, Luca
FAUST: fault-injection script-based tool
2003 Benso, Alfredo; DI CARLO, Stefano; DI NATALE, Giorgio; Prinetto, Paolo Ernesto; Solcia, Ivano; Tagliaferri, Luca
Improving stress quality for SoC using faster-than-at-speed execution of functional programs
2017 Bernardi, Paolo; Bosio, Alberto; Di Natale, Giorgio; Guerriero, Andrea; Sanchez, Ernesto; Venini, Federico
Interactive Educational Tool for Memory Testing
2006 Bosio, Alberto; DI CARLO, Stefano; DI NATALE, Giorgio; Fisherova, M.; Pikula, T.; Simlastik, M.
March AB, a State-of-the-Art March Test for Realistic Static Linked Faults and Dynamic Faults in SRAMs
2007 Bosio, Alberto; DI CARLO, Stefano; DI NATALE, Giorgio; Prinetto, Paolo Ernesto
| Citazione | Data di pubblicazione | Autori | File |
|---|---|---|---|
| A 22n March Test for Realistic Static Linked Faults in SRAMs / Benso, Alfredo; Bosio, Alberto; DI CARLO, Stefano; DI NATALE, Giorgio; Prinetto, Paolo Ernesto. - STAMPA. - (2006), pp. 49-54. ((Intervento presentato al convegno IEEE 11th European Test Symposium (ETS) tenutosi a SouthAmpton, UK nel 21-24 May 2006 [10.1109/ETS.2006.2]. | 1-gen-2006 | BENSO, AlfredoBOSIO, ALBERTODI CARLO, STEFANODI NATALE, GiorgioPRINETTO, Paolo Ernesto | 2006-ETS-March.pdf |
| A programmable BIST architecture for clusters of Multiple-Port SRAMs / Benso, Alfredo; DI CARLO, Stefano; DI NATALE, Giorgio; Prinetto, Paolo Ernesto; Lobetti Bodoni, M.. - STAMPA. - (2000), pp. 557-566. ((Intervento presentato al convegno IEEE International Test Conference (ITC) tenutosi a Atlantic City (NJ), USA nel 3-5 Oct. 2000 [10.1109/TEST.2000.894249]. | 1-gen-2000 | BENSO, AlfredoDI CARLO, STEFANODI NATALE, GiorgioPRINETTO, Paolo Ernesto + | 2000-ITC-RAM BIST-AuthorVersion.pdf |
| A tool for teaching memory testing based on BIST / Fischerova, M.; Pikula, T.; Simlastik, M.; Bosio, Alberto; DI CARLO, Stefano; DI NATALE, Giorgio. - STAMPA. - (2006), pp. 187-190. ((Intervento presentato al convegno IEEE International Biennal Baltic Electronics Conference (BEC) tenutosi a Tallin, EE nel 2-4 Oct. 2006 [10.1109/BEC.2006.311094]. | 1-gen-2006 | BOSIO, ALBERTODI CARLO, STEFANODI NATALE, Giorgio + | 2006-BEC-MemoryApplets-AuthorVersion.pdf |
| A Unique March Test Algorithm for the Wide Spread of Realistic Memory Faults in SRAMs / Benso, Alfredo; Bosio, Alberto; DI CARLO, Stefano; DI NATALE, Giorgio; Prinetto, Paolo Ernesto. - STAMPA. - (2006), pp. 155-156. ((Intervento presentato al convegno IEEE 9th Workshop on Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems (DDECS) tenutosi a Prague, CZ nel 18-21 Apr. 2006 [10.1109/DDECS.2006.1649602]. | 1-gen-2006 | BENSO, AlfredoBOSIO, ALBERTODI CARLO, STEFANODI NATALE, GiorgioPRINETTO, Paolo Ernesto | 2006-DDECS-MarchTest.pdf |
| A watchdog processor to detect data and control flow errors / Benso, Alfredo; DI CARLO, Stefano; DI NATALE, Giorgio; Prinetto, Paolo Ernesto. - STAMPA. - (2003), pp. 144-148. ((Intervento presentato al convegno IEEE 9th International On-Line Testing Symposium (IOLTS) tenutosi a Kos, GR nel 7-9 July 2003 [10.1109/OLT.2003.1214381]. | 1-gen-2003 | BENSO, AlfredoDI CARLO, STEFANODI NATALE, GiorgioPRINETTO, Paolo Ernesto | 2003-IOLTS-Watchdog-AuthorVersion.pdf |
| AFSM-based deterministic hardware TPG / Benso, Alfredo; DI CARLO, Stefano; DI NATALE, Giorgio; Prinetto, Paolo Ernesto. - STAMPA. - (2005), pp. 178-181. ((Intervento presentato al convegno IEEE 8th Workshop on Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems (DDECS) tenutosi a Sopron, HU nel 13-16 Apr. 2005. | 1-gen-2005 | BENSO, AlfredoDI CARLO, STEFANODI NATALE, GiorgioPRINETTO, Paolo Ernesto | 2005-DDECS-AFSM.pdf |
| An effective distributed BIST architecture for RAMs / Benso, Alfredo; Chiusano, SILVIA ANNA; DI CARLO, Stefano; DI NATALE, Giorgio; LOBETTI BODONI, M.; Prinetto, Paolo Ernesto. - STAMPA. - (2000), pp. 119-124. ((Intervento presentato al convegno IEEE European Test Workshop (ETW) tenutosi a Cascais, PT nel 23-26 May 2000 [10.1109/ETW.2000.873788]. | 1-gen-2000 | BENSO, AlfredoCHIUSANO, SILVIA ANNADI CARLO, STEFANODI NATALE, GiorgioPRINETTO, Paolo Ernesto + | 2000-ETW-DistributedMemory-AuthorVersion.PDF |
| An On-line BIST RAM Architecture with Self Repair Capabilities / Benso, Alfredo; Chiusano, SILVIA ANNA; DI NATALE, Giorgio; Prinetto, Paolo Ernesto. - In: IEEE TRANSACTIONS ON RELIABILITY. - ISSN 0018-9529. - STAMPA. - 51:(2002), pp. 123-128. [10.1109/24.994929] | 1-gen-2002 | BENSO, AlfredoCHIUSANO, SILVIA ANNADI NATALE, GiorgioPRINETTO, Paolo Ernesto | 2002-IEEEReliability-OnlineBISTR-Ram.pdf |
| An optimal algorithm for the automatic generation of March tests / Benso, Alfredo; DI CARLO, Stefano; DI NATALE, Giorgio; Prinetto, Paolo Ernesto. - STAMPA. - (2002), pp. 938-943. ((Intervento presentato al convegno Design, Automation and Test in Europe, Conference and Exhibition (DATE) tenutosi a Paris, FR nel 4-8 Mar. 2002 [10.1109/DATE.2002.998412]. | 1-gen-2002 | BENSO, AlfredoDI CARLO, STEFANODI NATALE, GiorgioPRINETTO, Paolo Ernesto | 2002-DATE-MarchTestGen-AuthorVersion.pdf; 2002-DATE-MarchTestGen.pdf |
| Analysis of System-Failure Rate Caused by Soft-Errors using a UML-Based Systematic Methodology in an SoC / Hosseinabady, M.; Neishaburi, M. H.; Navabi, Z.; Benso, Alfredo; DI CARLO, Stefano; Prinetto, Paolo Ernesto; DI NATALE, Giorgio. - STAMPA. - (2007), pp. 205-206. ((Intervento presentato al convegno IEEE 13th International On-Line Testing Symposium (IOLTS) tenutosi a Crete, GR nel 8-11 July 2007 [10.1109/IOLTS.2007.17]. | 1-gen-2007 | BENSO, AlfredoDI CARLO, STEFANOPRINETTO, Paolo ErnestoDI NATALE, Giorgio + | 2007-IOLTS-SEU.pdf |
| ATPG for Dynamic Burn-In Test in Full-Scan Circuits / Benso, Alfredo; Bosio, Alberto; DI CARLO, Stefano; DI NATALE, Giorgio; Prinetto, Paolo Ernesto. - STAMPA. - (2006), pp. 75-82. ((Intervento presentato al convegno IEEE 15th Asian Test Symposium (ATS) tenutosi a Fukuoka, JP nel 20-23 Nov. 2006 [10.1109/ATS.2006.260996]. | 1-gen-2006 | BENSO, AlfredoBOSIO, ALBERTODI CARLO, STEFANODI NATALE, GiorgioPRINETTO, Paolo Ernesto | 2006-ATS-BurnIn.pdf |
| Automatic March tests generation for multi-port SRAMs / Benso, Alfredo; Bosio, Alberto; DI CARLO, Stefano; DI NATALE, Giorgio; Prinetto, Paolo Ernesto. - STAMPA. - (2006), pp. 385-392. ((Intervento presentato al convegno IEEE 3rd International Workshop on Electronic Design, Test and Applications (DELTA) tenutosi a Kuala Lumpur, MY nel 17-19 Jan. 2006 [10.1109/DELTA.2006.17]. | 1-gen-2006 | BENSO, AlfredoBOSIO, ALBERTODI CARLO, STEFANODI NATALE, GiorgioPRINETTO, Paolo Ernesto | 2006-DELTA-Multiport.pdf |
| Automatic March tests generation for static and dynamic faults in SRAMs / Benso, Alfredo; Bosio, Alberto; DI CARLO, Stefano; DI NATALE, Giorgio; Prinetto, Paolo Ernesto. - STAMPA. - (2005), pp. 122-127. ((Intervento presentato al convegno IEEE 10th European Test Symposium (ETS) tenutosi a Tallin, EE nel 22-25 May 2005 [10.1109/ETS.2005.8]. | 1-gen-2005 | BENSO, AlfredoBOSIO, ALBERTODI CARLO, STEFANODI NATALE, GiorgioPRINETTO, Paolo Ernesto | 2005-ETS-MarchTest.pdf |
| Automatic March Tests Generations for Static Linked Faults in SRAMs / Benso, Alfredo; Bosio, Alberto; DI CARLO, Stefano; DI NATALE, Giorgio; Prinetto, Paolo Ernesto. - STAMPA. - 1:(2006), pp. 1-6. ((Intervento presentato al convegno Design, Automation and Test in Europe, Conference and Exhibition (DATE) tenutosi a Munich, DE nel 6-10 Mar. 2006 [10.1109/DATE.2006.244097]. | 1-gen-2006 | BENSO, AlfredoBOSIO, ALBERTODI CARLO, STEFANODI NATALE, GiorgioPRINETTO, Paolo Ernesto | 2006-DATE-MarchTest.pdf |
| Control-flow checking via regular expressions / Benso, Alfredo; DI CARLO, Stefano; DI NATALE, Giorgio; Prinetto, Paolo Ernesto; Tagliaferri, Luca. - STAMPA. - (2001), pp. 299-303. ((Intervento presentato al convegno IEEE 10th Asian Test Symposium (ATS) tenutosi a Kyoto, JP nel 19-21 Nov. 2001 [10.1109/ATS.2001.990300]. | 1-gen-2001 | BENSO, AlfredoDI CARLO, STEFANODI NATALE, GiorgioPRINETTO, Paolo ErnestoTAGLIAFERRI, Luca | 2001-ATS-ControlFlow-AuthorVersion.pdf; 2001-ATS-ControlFlow.pdf |
| Data criticality estimation in software applications / Benso, Alfredo; DI CARLO, Stefano; DI NATALE, Giorgio; Prinetto, Paolo Ernesto; Tagliaferri, Luca. - STAMPA. - 1:(2003), pp. 802-810. ((Intervento presentato al convegno IEEE International Test Conference (ITC) tenutosi a Charlotte (NC), USA nel 30 Sept. - 2 Oct., 2003 [10.1109/TEST.2003.1270912]. | 1-gen-2003 | BENSO, AlfredoDI CARLO, STEFANODI NATALE, GiorgioPRINETTO, Paolo ErnestoTAGLIAFERRI, Luca | 2003-ITC-DataCriticality-AuthorVersion.pdf; 2003-ITC-DataCriticality.pdf |
| FAUST: fault-injection script-based tool / Benso, Alfredo; DI CARLO, Stefano; DI NATALE, Giorgio; Prinetto, Paolo Ernesto; Solcia, Ivano; Tagliaferri, Luca. - STAMPA. - (2003), pp. 160-160. ((Intervento presentato al convegno IEEE 9th On-Line Testing Symposium (IOLTS) tenutosi a Kos, GR nel 7-9 July 2003 [10.1109/OLT.2003.1214386]. | 1-gen-2003 | BENSO, AlfredoDI CARLO, STEFANODI NATALE, GiorgioPRINETTO, Paolo ErnestoSOLCIA, IVANOTAGLIAFERRI, Luca | 2003-IOLTS-Faust.pdf; 2003-IOLTS-Faust-AuthorVersion.pdf |
| Improving stress quality for SoC using faster-than-at-speed execution of functional programs / Bernardi, Paolo; Bosio, Alberto; Di Natale, Giorgio; Guerriero, Andrea; Sanchez, Ernesto; Venini, Federico - In: IFIP Advances in Information and Communication Technology / Bernardi, Paolo. - STAMPA. - [s.l] : Springer New York LLC, 2017. - ISBN 9783319671031. - pp. 130-151 [10.1007/978-3-319-67104-8_7] | 1-gen-2017 | Bernardi, PaoloBosio, AlbertoDi Natale, GiorgioSanchez, ErnestoVenini, Federico + | - |
| Interactive Educational Tool for Memory Testing / Bosio, Alberto; DI CARLO, Stefano; DI NATALE, Giorgio; Fisherova, M.; Pikula, T.; Simlastik, M.. - STAMPA. - (2006), pp. 100-103. ((Intervento presentato al convegno 6th International Workshop on Microelectronic Education tenutosi a Stockholm, SE nel 8-9 Jun. 2006. | 1-gen-2006 | BOSIO, ALBERTODI CARLO, STEFANODI NATALE, Giorgio + | 2006-EWME-MemApplet-AuthorVersion.pdf |
| March AB, a State-of-the-Art March Test for Realistic Static Linked Faults and Dynamic Faults in SRAMs / Bosio, Alberto; DI CARLO, Stefano; DI NATALE, Giorgio; Prinetto, Paolo Ernesto. - In: IET COMPUTERS & DIGITAL TECHNIQUES. - ISSN 1751-8601. - STAMPA. - 1:3(2007), pp. 237-245. [10.1049/iet-cdt:20060137] | 1-gen-2007 | BOSIO, ALBERTODI CARLO, STEFANODI NATALE, GiorgioPRINETTO, Paolo Ernesto | 2007-IET-CDT-MarchAB-AuthorVersion.pdf |