DI NATALE, GIORGIO

DI NATALE, GIORGIO  

Dipartimento di Automatica Informatica (attivo dal 01/01/1900 al 31/12/2011)  

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A 22n March Test for Realistic Static Linked Faults in SRAMs / Benso, Alfredo; Bosio, Alberto; DI CARLO, Stefano; DI NATALE, Giorgio; Prinetto, Paolo Ernesto. - STAMPA. - (2006), pp. 49-54. ((Intervento presentato al convegno IEEE 11th European Test Symposium (ETS) tenutosi a SouthAmpton, UK nel 21-24 May 2006 [10.1109/ETS.2006.2]. 1-gen-2006 BENSO, AlfredoBOSIO, ALBERTODI CARLO, STEFANODI NATALE, GiorgioPRINETTO, Paolo Ernesto 2006-ETS-March.pdf
A Unique March Test Algorithm for the Wide Spread of Realistic Memory Faults in SRAMs / Benso, Alfredo; Bosio, Alberto; DI CARLO, Stefano; DI NATALE, Giorgio; Prinetto, Paolo Ernesto. - STAMPA. - (2006), pp. 155-156. ((Intervento presentato al convegno IEEE 9th Workshop on Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems (DDECS) tenutosi a Prague, CZ nel 18-21 Apr. 2006 [10.1109/DDECS.2006.1649602]. 1-gen-2006 BENSO, AlfredoBOSIO, ALBERTODI CARLO, STEFANODI NATALE, GiorgioPRINETTO, Paolo Ernesto 2006-DDECS-MarchTest.pdf
AFSM-based deterministic hardware TPG / Benso, Alfredo; DI CARLO, Stefano; DI NATALE, Giorgio; Prinetto, Paolo Ernesto. - STAMPA. - (2005), pp. 178-181. ((Intervento presentato al convegno IEEE 8th Workshop on Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems (DDECS) tenutosi a Sopron, HU nel 13-16 Apr. 2005. 1-gen-2005 BENSO, AlfredoDI CARLO, STEFANODI NATALE, GiorgioPRINETTO, Paolo Ernesto 2005-DDECS-AFSM.pdf
An effective distributed BIST architecture for RAMs / Benso, Alfredo; Chiusano, SILVIA ANNA; DI CARLO, Stefano; DI NATALE, Giorgio; LOBETTI BODONI, M.; Prinetto, Paolo Ernesto. - STAMPA. - (2000), pp. 119-124. ((Intervento presentato al convegno IEEE European Test Workshop (ETW) tenutosi a Cascais, PT nel 23-26 May 2000 [10.1109/ETW.2000.873788]. 1-gen-2000 BENSO, AlfredoCHIUSANO, SILVIA ANNADI CARLO, STEFANODI NATALE, GiorgioPRINETTO, Paolo Ernesto + 2000-ETW-DistributedMemory.pdf2000-ETW-DistributedMemory-AuthorVersion.PDF
An On-line BIST RAM Architecture with Self Repair Capabilities / Benso, Alfredo; Chiusano, SILVIA ANNA; DI NATALE, Giorgio; Prinetto, Paolo Ernesto. - In: IEEE TRANSACTIONS ON RELIABILITY. - ISSN 0018-9529. - STAMPA. - 51:(2002), pp. 123-128. [10.1109/24.994929] 1-gen-2002 BENSO, AlfredoCHIUSANO, SILVIA ANNADI NATALE, GiorgioPRINETTO, Paolo Ernesto 2002-IEEEReliability-OnlineBISTR-Ram.pdf
An optimal algorithm for the automatic generation of March tests / Benso, Alfredo; DI CARLO, Stefano; DI NATALE, Giorgio; Prinetto, Paolo Ernesto. - STAMPA. - (2002), pp. 938-943. ((Intervento presentato al convegno Design, Automation and Test in Europe, Conference and Exhibition (DATE) tenutosi a Paris, FR nel 4-8 Mar. 2002 [10.1109/DATE.2002.998412]. 1-gen-2002 BENSO, AlfredoDI CARLO, STEFANODI NATALE, GiorgioPRINETTO, Paolo Ernesto 2002-DATE-MarchTestGen-AuthorVersion.pdf2002-DATE-MarchTestGen.pdf
Analysis of System-Failure Rate Caused by Soft-Errors using a UML-Based Systematic Methodology in an SoC / Hosseinabady, M.; Neishaburi, M. H.; Navabi, Z.; Benso, Alfredo; DI CARLO, Stefano; Prinetto, Paolo Ernesto; DI NATALE, Giorgio. - STAMPA. - (2007), pp. 205-206. ((Intervento presentato al convegno IEEE 13th International On-Line Testing Symposium (IOLTS) tenutosi a Crete, GR nel 8-11 July 2007 [10.1109/IOLTS.2007.17]. 1-gen-2007 BENSO, AlfredoDI CARLO, STEFANOPRINETTO, Paolo ErnestoDI NATALE, Giorgio + 2007-IOLTS-SEU.pdf
ATPG for Dynamic Burn-In Test in Full-Scan Circuits / Benso, Alfredo; Bosio, Alberto; DI CARLO, Stefano; DI NATALE, Giorgio; Prinetto, Paolo Ernesto. - STAMPA. - (2006), pp. 75-82. ((Intervento presentato al convegno IEEE 15th Asian Test Symposium (ATS) tenutosi a Fukuoka, JP nel 20-23 Nov. 2006 [10.1109/ATS.2006.260996]. 1-gen-2006 BENSO, AlfredoBOSIO, ALBERTODI CARLO, STEFANODI NATALE, GiorgioPRINETTO, Paolo Ernesto 2006-ATS-BurnIn.pdf
Automatic March tests generation for multi-port SRAMs / Benso, Alfredo; Bosio, Alberto; DI CARLO, Stefano; DI NATALE, Giorgio; Prinetto, Paolo Ernesto. - STAMPA. - (2006), pp. 385-392. ((Intervento presentato al convegno IEEE 3rd International Workshop on Electronic Design, Test and Applications (DELTA) tenutosi a Kuala Lumpur, MY nel 17-19 Jan. 2006 [10.1109/DELTA.2006.17]. 1-gen-2006 BENSO, AlfredoBOSIO, ALBERTODI CARLO, STEFANODI NATALE, GiorgioPRINETTO, Paolo Ernesto 2006-DELTA-Multiport.pdf
Automatic March tests generation for static and dynamic faults in SRAMs / Benso, Alfredo; Bosio, Alberto; DI CARLO, Stefano; DI NATALE, Giorgio; Prinetto, Paolo Ernesto. - STAMPA. - (2005), pp. 122-127. ((Intervento presentato al convegno IEEE 10th European Test Symposium (ETS) tenutosi a Tallin, EE nel 22-25 May 2005 [10.1109/ETS.2005.8]. 1-gen-2005 BENSO, AlfredoBOSIO, ALBERTODI CARLO, STEFANODI NATALE, GiorgioPRINETTO, Paolo Ernesto 2005-ETS-MarchTest.pdf
Automatic March Tests Generations for Static Linked Faults in SRAMs / Benso, Alfredo; Bosio, Alberto; DI CARLO, Stefano; DI NATALE, Giorgio; Prinetto, Paolo Ernesto. - STAMPA. - 1:(2006), pp. 1-6. ((Intervento presentato al convegno Design, Automation and Test in Europe, Conference and Exhibition (DATE) tenutosi a Munich, DE nel 6-10 Mar. 2006 [10.1109/DATE.2006.244097]. 1-gen-2006 BENSO, AlfredoBOSIO, ALBERTODI CARLO, STEFANODI NATALE, GiorgioPRINETTO, Paolo Ernesto 2006-DATE-MarchTest.pdf
Control-flow checking via regular expressions / Benso, Alfredo; DI CARLO, Stefano; DI NATALE, Giorgio; Prinetto, Paolo Ernesto; Tagliaferri, Luca. - STAMPA. - (2001), pp. 299-303. ((Intervento presentato al convegno IEEE 10th Asian Test Symposium (ATS) tenutosi a Kyoto, JP nel 19-21 Nov. 2001 [10.1109/ATS.2001.990300]. 1-gen-2001 BENSO, AlfredoDI CARLO, STEFANODI NATALE, GiorgioPRINETTO, Paolo ErnestoTAGLIAFERRI, Luca 2001-ATS-ControlFlow-AuthorVersion.pdf2001-ATS-ControlFlow.pdf
Data criticality estimation in software applications / Benso, Alfredo; DI CARLO, Stefano; DI NATALE, Giorgio; Prinetto, Paolo Ernesto; Tagliaferri, Luca. - STAMPA. - 1:(2003), pp. 802-810. ((Intervento presentato al convegno IEEE International Test Conference (ITC) tenutosi a Charlotte (NC), USA nel 30 Sept. - 2 Oct., 2003 [10.1109/TEST.2003.1270912]. 1-gen-2003 BENSO, AlfredoDI CARLO, STEFANODI NATALE, GiorgioPRINETTO, Paolo ErnestoTAGLIAFERRI, Luca 2003-ITC-DataCriticality-AuthorVersion.pdf2003-ITC-DataCriticality.pdf
FAUST: fault-injection script-based tool / Benso, Alfredo; DI CARLO, Stefano; DI NATALE, Giorgio; Prinetto, Paolo Ernesto; Solcia, Ivano; Tagliaferri, Luca. - STAMPA. - (2003), pp. 160-160. ((Intervento presentato al convegno IEEE 9th On-Line Testing Symposium (IOLTS) tenutosi a Kos, GR nel 7-9 July 2003 [10.1109/OLT.2003.1214386]. 1-gen-2003 BENSO, AlfredoDI CARLO, STEFANODI NATALE, GiorgioPRINETTO, Paolo ErnestoSOLCIA, IVANOTAGLIAFERRI, Luca 2003-IOLTS-Faust.pdf2003-IOLTS-Faust-AuthorVersion.pdf
Improving stress quality for SoC using faster-than-at-speed execution of functional programs / Bernardi, Paolo; Bosio, Alberto; Di Natale, Giorgio; Guerriero, Andrea; Sanchez, Ernesto; Venini, Federico. - STAMPA. - 508:(2017), pp. 130-151. [10.1007/978-3-319-67104-8_7] 1-gen-2017 Bernardi, PaoloBosio, AlbertoDi Natale, GiorgioSanchez, ErnestoVenini, Federico + -
Interactive Educational Tool for Memory Testing / Bosio, Alberto; DI CARLO, Stefano; DI NATALE, Giorgio; Fisherova, M.; Pikula, T.; Simlastik, M.. - STAMPA. - (2006), pp. 100-103. ((Intervento presentato al convegno 6th International Workshop on Microelectronic Education tenutosi a Stockholm, SE nel 8-9 Jun. 2006. 1-gen-2006 BOSIO, ALBERTODI CARLO, STEFANODI NATALE, Giorgio + 2006-EWME-MemApplet-AuthorVersion.pdf2006-EWME-MemApplet.pdf
March AB, a State-of-the-Art March Test for Realistic Static Linked Faults and Dynamic Faults in SRAMs / Bosio, Alberto; DI CARLO, Stefano; DI NATALE, Giorgio; Prinetto, Paolo Ernesto. - In: IET COMPUTERS & DIGITAL TECHNIQUES. - ISSN 1751-8601. - STAMPA. - 1:3(2007), pp. 237-245. [10.1049/iet-cdt:20060137] 1-gen-2007 BOSIO, ALBERTODI CARLO, STEFANODI NATALE, GiorgioPRINETTO, Paolo Ernesto 2007-IET-CDT-MarchAB-AuthorVersion.pdf10.1049_iet-cdt_20060137.pdf
March AB, March AB1: new March tests for unlinked dynamic memory faults / Benso, Alfredo; Bosio, Alberto; DI CARLO, Stefano; DI NATALE, Giorgio; Prinetto, Paolo Ernesto. - STAMPA. - (2005), pp. 834-841. ((Intervento presentato al convegno IEEE International Test Conference (ITC) tenutosi a Austin (TX), USA nel 8-10 Nov. 2005 [10.1109/TEST.2005.1584047]. 1-gen-2005 BENSO, AlfredoBOSIO, ALBERTODI CARLO, STEFANODI NATALE, GiorgioPRINETTO, Paolo Ernesto 2005-ITC-MarchAB.pdf
March Test Generation Revealed / Benso, Alfredo; Bosio, Alberto; DI CARLO, Stefano; DI NATALE, Giorgio; Prinetto, Paolo Ernesto. - In: IEEE TRANSACTIONS ON COMPUTERS. - ISSN 0018-9340. - STAMPA. - 57:12(2008), pp. 1704-1713. [10.1109/TC.2008.105] 1-gen-2008 BENSO, AlfredoBOSIO, ALBERTODI CARLO, STEFANODI NATALE, GiorgioPRINETTO, Paolo Ernesto 2008-TC-MarchTest.pdf
Memory Fault Simulator for Static-Linked Faults / Benso, Alfredo; Bosio, Alberto; DI CARLO, Stefano; DI NATALE, Giorgio; Prinetto, Paolo Ernesto. - STAMPA. - (2006), pp. 31-36. ((Intervento presentato al convegno IEEE 15th AsianTest Symposium (ATS) tenutosi a Fukuoka, JP nel 20-23 Nov. 2006 [10.1109/ATS.2006.260989]. 1-gen-2006 BENSO, AlfredoBOSIO, ALBERTODI CARLO, STEFANODI NATALE, GiorgioPRINETTO, Paolo Ernesto 2006-ATS-MemorySim.pdf2006-ATS-MemorySim-AuthorVersion.pdf