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DI NATALE, GIORGIO

DI NATALE, GIORGIO  

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Improving Software Reliability with Rust: Implementation for Enhanced Control Flow Checking Methods / Sini, Jacopo; Solouki, Mohammadreza Amel; Violante, Massimo; Di Natale, Giorgio. - (2025), pp. 1-7. ( Design, Automation and Test in Europe Conference and Exhibition Lyon (FRA) 31 March 2025 - 02 April 2025) [10.23919/date64628.2025.10992995]. 1-gen-2025 Sini, JacopoSolouki, Mohammadreza AmelViolante, MassimoDi Natale, Giorgio camera-ready.pdf; Improving_Software_Reliability_with_Rust_Implementation_for_Enhanced_Control_Flow_Checking_Methods.pdf
Scan chain encryption for the test, diagnosis and debug of secure circuits / Da Silva, Mathieu; Flottes, Marie Lise; DI NATALE, Giorgio; Rouzeyre, Bruno; Prinetto, Paolo Ernesto; Restifo, Marco. - ELETTRONICO. - (2017), pp. 1-6. ( 22nd IEEE European Test Symposium, ETS 2017 cyp 2017) [10.1109/ETS.2017.7968248]. 1-gen-2017 DI NATALE, GIORGIOPRINETTO, Paolo ErnestoRESTIFO, MARCO + -
On the randomness of Field Coupled Nanomagnets / Bollo, Matteo; DI NATALE, Giorgio. - STAMPA. - (2016). ( 2016 TRUDEVICE Final Conference (FCTRU'16) Barcellona (ES) November 14-16). 1-gen-2016 BOLLO, MATTEODI NATALE, GIORGIO -
Analysis of System-Failure Rate Caused by Soft-Errors using a UML-Based Systematic Methodology in an SoC / Hosseinabady, M.; Neishaburi, M. H.; Navabi, Z.; Benso, Alfredo; DI CARLO, Stefano; Prinetto, Paolo Ernesto; DI NATALE, Giorgio. - STAMPA. - (2007), pp. 205-206. ( IEEE 13th International On-Line Testing Symposium (IOLTS) Crete, GR 8-11 July 2007) [10.1109/IOLTS.2007.17]. 1-gen-2007 BENSO, AlfredoDI CARLO, STEFANOPRINETTO, Paolo ErnestoDI NATALE, Giorgio + 2007-IOLTS-SEU.pdf
A 22n March Test for Realistic Static Linked Faults in SRAMs / Benso, Alfredo; Bosio, Alberto; DI CARLO, Stefano; DI NATALE, Giorgio; Prinetto, Paolo Ernesto. - STAMPA. - (2006), pp. 49-54. ( IEEE 11th European Test Symposium (ETS) SouthAmpton, UK 21-24 May 2006) [10.1109/ETS.2006.2]. 1-gen-2006 BENSO, AlfredoBOSIO, ALBERTODI CARLO, STEFANODI NATALE, GiorgioPRINETTO, Paolo Ernesto 2006-ETS-March.pdf
A tool for teaching memory testing based on BIST / Fischerova, M.; Pikula, T.; Simlastik, M.; Bosio, Alberto; DI CARLO, Stefano; DI NATALE, Giorgio. - STAMPA. - (2006), pp. 187-190. ( IEEE International Biennal Baltic Electronics Conference (BEC) Tallin, EE 2-4 Oct. 2006) [10.1109/BEC.2006.311094]. 1-gen-2006 BOSIO, ALBERTODI CARLO, STEFANODI NATALE, Giorgio + 2006-BEC-MemoryApplets-AuthorVersion.pdf
A Unique March Test Algorithm for the Wide Spread of Realistic Memory Faults in SRAMs / Benso, Alfredo; Bosio, Alberto; DI CARLO, Stefano; DI NATALE, Giorgio; Prinetto, Paolo Ernesto. - STAMPA. - (2006), pp. 155-156. ( IEEE 9th Workshop on Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems (DDECS) Prague, CZ 18-21 Apr. 2006) [10.1109/DDECS.2006.1649602]. 1-gen-2006 BENSO, AlfredoBOSIO, ALBERTODI CARLO, STEFANODI NATALE, GiorgioPRINETTO, Paolo Ernesto 2006-DDECS-MarchTest.pdf
ATPG for Dynamic Burn-In Test in Full-Scan Circuits / Benso, Alfredo; Bosio, Alberto; DI CARLO, Stefano; DI NATALE, Giorgio; Prinetto, Paolo Ernesto. - STAMPA. - (2006), pp. 75-82. ( IEEE 15th Asian Test Symposium (ATS) Fukuoka, JP 20-23 Nov. 2006) [10.1109/ATS.2006.260996]. 1-gen-2006 BENSO, AlfredoBOSIO, ALBERTODI CARLO, STEFANODI NATALE, GiorgioPRINETTO, Paolo Ernesto 2006-ATS-BurnIn.pdf
Automatic March tests generation for multi-port SRAMs / Benso, Alfredo; Bosio, Alberto; DI CARLO, Stefano; DI NATALE, Giorgio; Prinetto, Paolo Ernesto. - STAMPA. - (2006), pp. 385-392. ( IEEE 3rd International Workshop on Electronic Design, Test and Applications (DELTA) Kuala Lumpur, MY 17-19 Jan. 2006) [10.1109/DELTA.2006.17]. 1-gen-2006 BENSO, AlfredoBOSIO, ALBERTODI CARLO, STEFANODI NATALE, GiorgioPRINETTO, Paolo Ernesto 2006-DELTA-Multiport.pdf
Automatic March Tests Generations for Static Linked Faults in SRAMs / Benso, Alfredo; Bosio, Alberto; DI CARLO, Stefano; DI NATALE, Giorgio; Prinetto, Paolo Ernesto. - STAMPA. - 1:(2006), pp. 1-6. ( Design, Automation and Test in Europe, Conference and Exhibition (DATE) Munich, DE 6-10 Mar. 2006) [10.1109/DATE.2006.244097]. 1-gen-2006 BENSO, AlfredoBOSIO, ALBERTODI CARLO, STEFANODI NATALE, GiorgioPRINETTO, Paolo Ernesto 2006-DATE-MarchTest.pdf
Interactive Educational Tool for Memory Testing / Bosio, Alberto; DI CARLO, Stefano; DI NATALE, Giorgio; Fisherova, M.; Pikula, T.; Simlastik, M.. - STAMPA. - (2006), pp. 100-103. ( 6th International Workshop on Microelectronic Education Stockholm, SE 8-9 Jun. 2006). 1-gen-2006 BOSIO, ALBERTODI CARLO, STEFANODI NATALE, Giorgio + 2006-EWME-MemApplet-AuthorVersion.pdf
Memory Fault Simulator for Static-Linked Faults / Benso, Alfredo; Bosio, Alberto; DI CARLO, Stefano; DI NATALE, Giorgio; Prinetto, Paolo Ernesto. - STAMPA. - (2006), pp. 31-36. ( IEEE 15th AsianTest Symposium (ATS) Fukuoka, JP 20-23 Nov. 2006) [10.1109/ATS.2006.260989]. 1-gen-2006 BENSO, AlfredoBOSIO, ALBERTODI CARLO, STEFANODI NATALE, GiorgioPRINETTO, Paolo Ernesto 2006-ATS-MemorySim.pdf; 2006-ATS-MemorySim-AuthorVersion.pdf
Single-Event Upset Analysis and Protection in High Speed Circuits / Hosseinabady, M.; Lofti Kamran, P.; DI NATALE, Giorgio; DI CARLO, Stefano; Benso, Alfredo; Prinetto, Paolo Ernesto. - STAMPA. - (2006), pp. 29-34. ( IEEE 11th European Test Symposium (ETS) SouthAmpton (UK) 21-24 May 2006) [10.1109/ETS.2006.41]. 1-gen-2006 DI NATALE, GiorgioDI CARLO, STEFANOBENSO, AlfredoPRINETTO, Paolo Ernesto + 2006-ETS-SEU.pdf; 2006-ETS-SEU-AuthorVersion.pdf
AFSM-based deterministic hardware TPG / Benso, Alfredo; DI CARLO, Stefano; DI NATALE, Giorgio; Prinetto, Paolo Ernesto. - STAMPA. - (2005), pp. 178-181. ( IEEE 8th Workshop on Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems (DDECS) Sopron, HU 13-16 Apr. 2005). 1-gen-2005 BENSO, AlfredoDI CARLO, STEFANODI NATALE, GiorgioPRINETTO, Paolo Ernesto 2005-DDECS-AFSM.pdf
Automatic March tests generation for static and dynamic faults in SRAMs / Benso, Alfredo; Bosio, Alberto; DI CARLO, Stefano; DI NATALE, Giorgio; Prinetto, Paolo Ernesto. - STAMPA. - (2005), pp. 122-127. ( IEEE 10th European Test Symposium (ETS) Tallin, EE 22-25 May 2005) [10.1109/ETS.2005.8]. 1-gen-2005 BENSO, AlfredoBOSIO, ALBERTODI CARLO, STEFANODI NATALE, GiorgioPRINETTO, Paolo Ernesto 2005-ETS-MarchTest.pdf
March AB, March AB1: new March tests for unlinked dynamic memory faults / Benso, Alfredo; Bosio, Alberto; DI CARLO, Stefano; DI NATALE, Giorgio; Prinetto, Paolo Ernesto. - STAMPA. - (2005), pp. 834-841. ( IEEE International Test Conference (ITC) Austin (TX), USA 8-10 Nov. 2005) [10.1109/TEST.2005.1584047]. 1-gen-2005 BENSO, AlfredoBOSIO, ALBERTODI CARLO, STEFANODI NATALE, GiorgioPRINETTO, Paolo Ernesto 2005-ITC-MarchAB.pdf
PROMON: a profile monitor of software applications / Benso, Alfredo; DI CARLO, Stefano; DI NATALE, Giorgio; Prinetto, Paolo Ernesto; Tagliaferri, Luca; Tibaldi, Clara. - STAMPA. - (2005), pp. 81-86. ( IEEE 8th Workshop on Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems (DDECS) Sopron, HU 13-16 Apr. 2005). 1-gen-2005 BENSO, AlfredoDI CARLO, STEFANODI NATALE, GiorgioPRINETTO, Paolo ErnestoTAGLIAFERRI, LucaTIBALDI, CLARA 2005-DDECS-Promon.pdf
A watchdog processor to detect data and control flow errors / Benso, Alfredo; DI CARLO, Stefano; DI NATALE, Giorgio; Prinetto, Paolo Ernesto. - STAMPA. - (2003), pp. 144-148. ( IEEE 9th International On-Line Testing Symposium (IOLTS) Kos, GR 7-9 July 2003) [10.1109/OLT.2003.1214381]. 1-gen-2003 BENSO, AlfredoDI CARLO, STEFANODI NATALE, GiorgioPRINETTO, Paolo Ernesto 2003-IOLTS-Watchdog-AuthorVersion.pdf
Data criticality estimation in software applications / Benso, Alfredo; DI CARLO, Stefano; DI NATALE, Giorgio; Prinetto, Paolo Ernesto; Tagliaferri, Luca. - STAMPA. - 1:(2003), pp. 802-810. ( IEEE International Test Conference (ITC) Charlotte (NC), USA 30 Sept. - 2 Oct., 2003) [10.1109/TEST.2003.1270912]. 1-gen-2003 BENSO, AlfredoDI CARLO, STEFANODI NATALE, GiorgioPRINETTO, Paolo ErnestoTAGLIAFERRI, Luca 2003-ITC-DataCriticality-AuthorVersion.pdf; 2003-ITC-DataCriticality.pdf
FAUST: fault-injection script-based tool / Benso, Alfredo; DI CARLO, Stefano; DI NATALE, Giorgio; Prinetto, Paolo Ernesto; Solcia, Ivano; Tagliaferri, Luca. - STAMPA. - (2003), pp. 160-160. ( IEEE 9th On-Line Testing Symposium (IOLTS) Kos, GR 7-9 July 2003) [10.1109/OLT.2003.1214386]. 1-gen-2003 BENSO, AlfredoDI CARLO, STEFANODI NATALE, GiorgioPRINETTO, Paolo ErnestoSOLCIA, IVANOTAGLIAFERRI, Luca 2003-IOLTS-Faust.pdf; 2003-IOLTS-Faust-AuthorVersion.pdf