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DI NATALE, GIORGIO

DI NATALE, GIORGIO  

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Improving stress quality for SoC using faster-than-at-speed execution of functional programs / Bernardi, Paolo; Bosio, Alberto; Di Natale, Giorgio; Guerriero, Andrea; Sanchez, Ernesto; Venini, Federico - In: IFIP Advances in Information and Communication Technology / Bernardi, Paolo. - STAMPA. - [s.l] : Springer New York LLC, 2017. - ISBN 9783319671031. - pp. 130-151 [10.1007/978-3-319-67104-8_7] 1-gen-2017 Bernardi, PaoloBosio, AlbertoDi Natale, GiorgioSanchez, ErnestoVenini, Federico + -
Scan chain encryption for the test, diagnosis and debug of secure circuits / Da Silva, Mathieu; Flottes, Marie Lise; DI NATALE, Giorgio; Rouzeyre, Bruno; Prinetto, Paolo Ernesto; Restifo, Marco. - ELETTRONICO. - (2017), pp. 1-6. (Intervento presentato al convegno 22nd IEEE European Test Symposium, ETS 2017 tenutosi a cyp nel 2017) [10.1109/ETS.2017.7968248]. 1-gen-2017 DI NATALE, GIORGIOPRINETTO, Paolo ErnestoRESTIFO, MARCO + -
On the randomness of Field Coupled Nanomagnets / Bollo, Matteo; DI NATALE, Giorgio. - STAMPA. - (2016). (Intervento presentato al convegno 2016 TRUDEVICE Final Conference (FCTRU'16) tenutosi a Barcellona (ES) nel November 14-16). 1-gen-2016 BOLLO, MATTEODI NATALE, GIORGIO -
March Test Generation Revealed / Benso, Alfredo; Bosio, Alberto; DI CARLO, Stefano; DI NATALE, Giorgio; Prinetto, Paolo Ernesto. - In: IEEE TRANSACTIONS ON COMPUTERS. - ISSN 0018-9340. - STAMPA. - 57:12(2008), pp. 1704-1713. [10.1109/TC.2008.105] 1-gen-2008 BENSO, AlfredoBOSIO, ALBERTODI CARLO, STEFANODI NATALE, GiorgioPRINETTO, Paolo Ernesto 2008-TC-MarchTest.pdf
Analysis of System-Failure Rate Caused by Soft-Errors using a UML-Based Systematic Methodology in an SoC / Hosseinabady, M.; Neishaburi, M. H.; Navabi, Z.; Benso, Alfredo; DI CARLO, Stefano; Prinetto, Paolo Ernesto; DI NATALE, Giorgio. - STAMPA. - (2007), pp. 205-206. (Intervento presentato al convegno IEEE 13th International On-Line Testing Symposium (IOLTS) tenutosi a Crete, GR nel 8-11 July 2007) [10.1109/IOLTS.2007.17]. 1-gen-2007 BENSO, AlfredoDI CARLO, STEFANOPRINETTO, Paolo ErnestoDI NATALE, Giorgio + 2007-IOLTS-SEU.pdf
March AB, a State-of-the-Art March Test for Realistic Static Linked Faults and Dynamic Faults in SRAMs / Bosio, Alberto; DI CARLO, Stefano; DI NATALE, Giorgio; Prinetto, Paolo Ernesto. - In: IET COMPUTERS & DIGITAL TECHNIQUES. - ISSN 1751-8601. - STAMPA. - 1:3(2007), pp. 237-245. [10.1049/iet-cdt:20060137] 1-gen-2007 BOSIO, ALBERTODI CARLO, STEFANODI NATALE, GiorgioPRINETTO, Paolo Ernesto 2007-IET-CDT-MarchAB-AuthorVersion.pdf
A 22n March Test for Realistic Static Linked Faults in SRAMs / Benso, Alfredo; Bosio, Alberto; DI CARLO, Stefano; DI NATALE, Giorgio; Prinetto, Paolo Ernesto. - STAMPA. - (2006), pp. 49-54. (Intervento presentato al convegno IEEE 11th European Test Symposium (ETS) tenutosi a SouthAmpton, UK nel 21-24 May 2006) [10.1109/ETS.2006.2]. 1-gen-2006 BENSO, AlfredoBOSIO, ALBERTODI CARLO, STEFANODI NATALE, GiorgioPRINETTO, Paolo Ernesto 2006-ETS-March.pdf
A tool for teaching memory testing based on BIST / Fischerova, M.; Pikula, T.; Simlastik, M.; Bosio, Alberto; DI CARLO, Stefano; DI NATALE, Giorgio. - STAMPA. - (2006), pp. 187-190. (Intervento presentato al convegno IEEE International Biennal Baltic Electronics Conference (BEC) tenutosi a Tallin, EE nel 2-4 Oct. 2006) [10.1109/BEC.2006.311094]. 1-gen-2006 BOSIO, ALBERTODI CARLO, STEFANODI NATALE, Giorgio + 2006-BEC-MemoryApplets-AuthorVersion.pdf
A Unique March Test Algorithm for the Wide Spread of Realistic Memory Faults in SRAMs / Benso, Alfredo; Bosio, Alberto; DI CARLO, Stefano; DI NATALE, Giorgio; Prinetto, Paolo Ernesto. - STAMPA. - (2006), pp. 155-156. (Intervento presentato al convegno IEEE 9th Workshop on Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems (DDECS) tenutosi a Prague, CZ nel 18-21 Apr. 2006) [10.1109/DDECS.2006.1649602]. 1-gen-2006 BENSO, AlfredoBOSIO, ALBERTODI CARLO, STEFANODI NATALE, GiorgioPRINETTO, Paolo Ernesto 2006-DDECS-MarchTest.pdf
ATPG for Dynamic Burn-In Test in Full-Scan Circuits / Benso, Alfredo; Bosio, Alberto; DI CARLO, Stefano; DI NATALE, Giorgio; Prinetto, Paolo Ernesto. - STAMPA. - (2006), pp. 75-82. (Intervento presentato al convegno IEEE 15th Asian Test Symposium (ATS) tenutosi a Fukuoka, JP nel 20-23 Nov. 2006) [10.1109/ATS.2006.260996]. 1-gen-2006 BENSO, AlfredoBOSIO, ALBERTODI CARLO, STEFANODI NATALE, GiorgioPRINETTO, Paolo Ernesto 2006-ATS-BurnIn.pdf
Automatic March tests generation for multi-port SRAMs / Benso, Alfredo; Bosio, Alberto; DI CARLO, Stefano; DI NATALE, Giorgio; Prinetto, Paolo Ernesto. - STAMPA. - (2006), pp. 385-392. (Intervento presentato al convegno IEEE 3rd International Workshop on Electronic Design, Test and Applications (DELTA) tenutosi a Kuala Lumpur, MY nel 17-19 Jan. 2006) [10.1109/DELTA.2006.17]. 1-gen-2006 BENSO, AlfredoBOSIO, ALBERTODI CARLO, STEFANODI NATALE, GiorgioPRINETTO, Paolo Ernesto 2006-DELTA-Multiport.pdf
Automatic March Tests Generations for Static Linked Faults in SRAMs / Benso, Alfredo; Bosio, Alberto; DI CARLO, Stefano; DI NATALE, Giorgio; Prinetto, Paolo Ernesto. - STAMPA. - 1:(2006), pp. 1-6. (Intervento presentato al convegno Design, Automation and Test in Europe, Conference and Exhibition (DATE) tenutosi a Munich, DE nel 6-10 Mar. 2006) [10.1109/DATE.2006.244097]. 1-gen-2006 BENSO, AlfredoBOSIO, ALBERTODI CARLO, STEFANODI NATALE, GiorgioPRINETTO, Paolo Ernesto 2006-DATE-MarchTest.pdf
Interactive Educational Tool for Memory Testing / Bosio, Alberto; DI CARLO, Stefano; DI NATALE, Giorgio; Fisherova, M.; Pikula, T.; Simlastik, M.. - STAMPA. - (2006), pp. 100-103. (Intervento presentato al convegno 6th International Workshop on Microelectronic Education tenutosi a Stockholm, SE nel 8-9 Jun. 2006). 1-gen-2006 BOSIO, ALBERTODI CARLO, STEFANODI NATALE, Giorgio + 2006-EWME-MemApplet-AuthorVersion.pdf
Memory Fault Simulator for Static-Linked Faults / Benso, Alfredo; Bosio, Alberto; DI CARLO, Stefano; DI NATALE, Giorgio; Prinetto, Paolo Ernesto. - STAMPA. - (2006), pp. 31-36. (Intervento presentato al convegno IEEE 15th AsianTest Symposium (ATS) tenutosi a Fukuoka, JP nel 20-23 Nov. 2006) [10.1109/ATS.2006.260989]. 1-gen-2006 BENSO, AlfredoBOSIO, ALBERTODI CARLO, STEFANODI NATALE, GiorgioPRINETTO, Paolo Ernesto 2006-ATS-MemorySim.pdf; 2006-ATS-MemorySim-AuthorVersion.pdf
Single-Event Upset Analysis and Protection in High Speed Circuits / Hosseinabady, M.; Lofti Kamran, P.; DI NATALE, Giorgio; DI CARLO, Stefano; Benso, Alfredo; Prinetto, Paolo Ernesto. - STAMPA. - (2006), pp. 29-34. (Intervento presentato al convegno IEEE 11th European Test Symposium (ETS) tenutosi a SouthAmpton (UK) nel 21-24 May 2006) [10.1109/ETS.2006.41]. 1-gen-2006 DI NATALE, GiorgioDI CARLO, STEFANOBENSO, AlfredoPRINETTO, Paolo Ernesto + 2006-ETS-SEU.pdf; 2006-ETS-SEU-AuthorVersion.pdf
AFSM-based deterministic hardware TPG / Benso, Alfredo; DI CARLO, Stefano; DI NATALE, Giorgio; Prinetto, Paolo Ernesto. - STAMPA. - (2005), pp. 178-181. (Intervento presentato al convegno IEEE 8th Workshop on Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems (DDECS) tenutosi a Sopron, HU nel 13-16 Apr. 2005). 1-gen-2005 BENSO, AlfredoDI CARLO, STEFANODI NATALE, GiorgioPRINETTO, Paolo Ernesto 2005-DDECS-AFSM.pdf
Automatic March tests generation for static and dynamic faults in SRAMs / Benso, Alfredo; Bosio, Alberto; DI CARLO, Stefano; DI NATALE, Giorgio; Prinetto, Paolo Ernesto. - STAMPA. - (2005), pp. 122-127. (Intervento presentato al convegno IEEE 10th European Test Symposium (ETS) tenutosi a Tallin, EE nel 22-25 May 2005) [10.1109/ETS.2005.8]. 1-gen-2005 BENSO, AlfredoBOSIO, ALBERTODI CARLO, STEFANODI NATALE, GiorgioPRINETTO, Paolo Ernesto 2005-ETS-MarchTest.pdf
March AB, March AB1: new March tests for unlinked dynamic memory faults / Benso, Alfredo; Bosio, Alberto; DI CARLO, Stefano; DI NATALE, Giorgio; Prinetto, Paolo Ernesto. - STAMPA. - (2005), pp. 834-841. (Intervento presentato al convegno IEEE International Test Conference (ITC) tenutosi a Austin (TX), USA nel 8-10 Nov. 2005) [10.1109/TEST.2005.1584047]. 1-gen-2005 BENSO, AlfredoBOSIO, ALBERTODI CARLO, STEFANODI NATALE, GiorgioPRINETTO, Paolo Ernesto 2005-ITC-MarchAB.pdf
PROMON: a profile monitor of software applications / Benso, Alfredo; DI CARLO, Stefano; DI NATALE, Giorgio; Prinetto, Paolo Ernesto; Tagliaferri, Luca; Tibaldi, Clara. - STAMPA. - (2005), pp. 81-86. (Intervento presentato al convegno IEEE 8th Workshop on Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems (DDECS) tenutosi a Sopron, HU nel 13-16 Apr. 2005). 1-gen-2005 BENSO, AlfredoDI CARLO, STEFANODI NATALE, GiorgioPRINETTO, Paolo ErnestoTAGLIAFERRI, LucaTIBALDI, CLARA 2005-DDECS-Promon.pdf
A watchdog processor to detect data and control flow errors / Benso, Alfredo; DI CARLO, Stefano; DI NATALE, Giorgio; Prinetto, Paolo Ernesto. - STAMPA. - (2003), pp. 144-148. (Intervento presentato al convegno IEEE 9th International On-Line Testing Symposium (IOLTS) tenutosi a Kos, GR nel 7-9 July 2003) [10.1109/OLT.2003.1214381]. 1-gen-2003 BENSO, AlfredoDI CARLO, STEFANODI NATALE, GiorgioPRINETTO, Paolo Ernesto 2003-IOLTS-Watchdog-AuthorVersion.pdf