Archivio Istituzionale della RicercaDI NATALE, GIORGIO
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March Test Generation Revealed
2008 Benso, Alfredo; Bosio, Alberto; DI CARLO, Stefano; DI NATALE, Giorgio; Prinetto, Paolo Ernesto
March AB, a State-of-the-Art March Test for Realistic Static Linked Faults and Dynamic Faults in SRAMs
2007 Bosio, Alberto; DI CARLO, Stefano; DI NATALE, Giorgio; Prinetto, Paolo Ernesto
Online self-repair of FIR filters
2003 Benso, Alfredo; DI CARLO, Stefano; DI NATALE, Giorgio; Prinetto, Paolo Ernesto
Programmable built-in self-testing of embedded RAM clusters in system-on-chip architectures
2003 Benso, Alfredo; DI CARLO, Stefano; DI NATALE, Giorgio; Lobetti Bodoni, M.; Prinetto, Paolo Ernesto
An On-line BIST RAM Architecture with Self Repair Capabilities
2002 Benso, Alfredo; Chiusano, SILVIA ANNA; DI NATALE, Giorgio; Prinetto, Paolo Ernesto
Online and Offline BIST in IP-Core Design
2001 Benso, Alfredo; Chiusano, SILVIA ANNA; DI NATALE, Giorgio; Prinetto, Paolo Ernesto; Lobetti Bodoni, M.
| Citazione | Data di pubblicazione | Autori | File |
|---|---|---|---|
| March Test Generation Revealed / Benso, Alfredo; Bosio, Alberto; DI CARLO, Stefano; DI NATALE, Giorgio; Prinetto, Paolo Ernesto. - In: IEEE TRANSACTIONS ON COMPUTERS. - ISSN 0018-9340. - STAMPA. - 57:12(2008), pp. 1704-1713. [10.1109/TC.2008.105] | 1-gen-2008 | BENSO, AlfredoBOSIO, ALBERTODI CARLO, STEFANODI NATALE, GiorgioPRINETTO, Paolo Ernesto | 2008-TC-MarchTest.pdf |
| March AB, a State-of-the-Art March Test for Realistic Static Linked Faults and Dynamic Faults in SRAMs / Bosio, Alberto; DI CARLO, Stefano; DI NATALE, Giorgio; Prinetto, Paolo Ernesto. - In: IET COMPUTERS & DIGITAL TECHNIQUES. - ISSN 1751-8601. - STAMPA. - 1:3(2007), pp. 237-245. [10.1049/iet-cdt:20060137] | 1-gen-2007 | BOSIO, ALBERTODI CARLO, STEFANODI NATALE, GiorgioPRINETTO, Paolo Ernesto | 2007-IET-CDT-MarchAB-AuthorVersion.pdf |
| Online self-repair of FIR filters / Benso, Alfredo; DI CARLO, Stefano; DI NATALE, Giorgio; Prinetto, Paolo Ernesto. - In: IEEE DESIGN & TEST OF COMPUTERS. - ISSN 0740-7475. - STAMPA. - 20:3(2003), pp. 50-57. [10.1109/MDT.2003.1198686] | 1-gen-2003 | BENSO, AlfredoDI CARLO, STEFANODI NATALE, GiorgioPRINETTO, Paolo Ernesto | 2003-MTD-FIR.pdf |
| Programmable built-in self-testing of embedded RAM clusters in system-on-chip architectures / Benso, Alfredo; DI CARLO, Stefano; DI NATALE, Giorgio; Lobetti Bodoni, M.; Prinetto, Paolo Ernesto. - In: IEEE COMMUNICATIONS MAGAZINE. - ISSN 0163-6804. - STAMPA. - 41:9(2003), pp. 90-97. [10.1109/MCOM.2003.1232242] | 1-gen-2003 | BENSO, AlfredoDI CARLO, STEFANODI NATALE, GiorgioPRINETTO, Paolo Ernesto + | 2003-MCOM-RAMDist-AuthorVersion.pdf; 2003-MCOM-RAMDist.pdf |
| An On-line BIST RAM Architecture with Self Repair Capabilities / Benso, Alfredo; Chiusano, SILVIA ANNA; DI NATALE, Giorgio; Prinetto, Paolo Ernesto. - In: IEEE TRANSACTIONS ON RELIABILITY. - ISSN 0018-9529. - STAMPA. - 51:(2002), pp. 123-128. [10.1109/24.994929] | 1-gen-2002 | BENSO, AlfredoCHIUSANO, SILVIA ANNADI NATALE, GiorgioPRINETTO, Paolo Ernesto | 2002-IEEEReliability-OnlineBISTR-Ram.pdf |
| Online and Offline BIST in IP-Core Design / Benso, Alfredo; Chiusano, SILVIA ANNA; DI NATALE, Giorgio; Prinetto, Paolo Ernesto; Lobetti Bodoni, M.. - In: IEEE DESIGN & TEST OF COMPUTERS. - ISSN 0740-7475. - STAMPA. - 18(5):(2001), pp. 92-99. [10.1109/54.953276] | 1-gen-2001 | BENSO, AlfredoCHIUSANO, SILVIA ANNADI NATALE, GIORGIOPRINETTO, Paolo Ernesto + | 2001-IEEED&T-BIST-IPCore.pdf |