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EnglishMultiport memories are widely used as embedded cores in all communication system-on-chip devices. Due to their high complexity and very low accessibility, built-in self-test (BIST) is the most common solution implemented to test the different memories embedded in the system. This article presents a programmable BIST architecture based on a single microprogrammable BIST processor and a set of memory wrappers designed to simplify the test of a system containing a large number of distributed multiport memories of different sizes (number of bits, number of words), access protocols (asynchronous, synchronous), and timing.
| Titolo: | Programmable built-in self-testing of embedded RAM clusters in system-on-chip architectures |
| Autori: | |
| Data di pubblicazione: | 2003 |
| Rivista: | |
| Digital Object Identifier (DOI): | 10.1109/MCOM.2003.1232242 |
| Appare nelle tipologie: | 1.1 Articolo in rivista |
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|---|---|---|---|---|
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http://hdl.handle.net/11583/1404469
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