BERNARDI, PAOLO

BERNARDI, PAOLO  

Dipartimento di Automatica e Informatica  

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A BIST-based Solution for the Diagnosis of Embedded Memories Adopting Image Processing Techniques / D., Appello; A., Fudoli; V., Tancorre; Bernardi, Paolo; Corno, Fulvio; Rebaudengo, Maurizio; SONZA REORDA, Matteo. - In: JOURNAL OF ELECTRONIC TESTING. - ISSN 0923-8174. - 20:(2004), pp. 79-87. [10.1023/B:JETT.0000009315.57771.94] 1-gen-2004 BERNARDI, PAOLOCORNO, FulvioREBAUDENGO, MaurizioSONZA REORDA, Matteo + -
A Deterministic Methodology for Identifying Functionally Untestable Path-Delay Faults in Microprocessor Cores / Bernardi, Paolo; Grosso, Michelangelo; SANCHEZ SANCHEZ, EDGAR ERNESTO; SONZA REORDA, Matteo. - (2009), pp. 103-108. ((Intervento presentato al convegno 9th International Workshop on Microprocessor Test and Verification (MTV'08) tenutosi a Austin, TX (U.S.A.) nel 8-10 Dic., 2008 [10.1109/MTV.2008.9]. 1-gen-2009 BERNARDI, PAOLOGROSSO, MICHELANGELOSANCHEZ SANCHEZ, EDGAR ERNESTOSONZA REORDA, Matteo -
A fault grading methodology for software-based self-test programs in systems-on-chip / Ballan, O.; Bernardi, Paolo; Fontana, G.; Grosso, Michelangelo; SANCHEZ SANCHEZ, EDGAR ERNESTO. - (2010), pp. 43-46. ((Intervento presentato al convegno International Workshop on Microprocessor Test and Verification tenutosi a Austin (TX), USA nel Dec. 13-15, 2010 [10.1109/MTV.2010.16]. 1-gen-2010 BERNARDI, PAOLOGROSSO, MICHELANGELOSANCHEZ SANCHEZ, EDGAR ERNESTO + -
A Hybrid Approach for Detection and Correction of Transient Faults in SoCs / Bernardi, Paolo; Grosso, Michelangelo; Bolzani Poehls, L.; SONZA REORDA, Matteo. - In: IEEE TRANSACTIONS ON DEPENDABLE AND SECURE COMPUTING. - ISSN 1545-5971. - STAMPA. - Volume: 7 , Issue: 4:(2010), pp. 439-445. [10.1109/TDSC.2010.33] 1-gen-2010 BERNARDI, PAOLOGROSSO, MICHELANGELOSONZA REORDA, Matteo + 05551155.pdf
A Hybrid Approach to Fault Detection and Correction in SoCs / Bernardi, Paolo; VEIRAS BOLZANI, Leticia Maria; SONZA REORDA, Matteo. - (2007), pp. 107-112. ((Intervento presentato al convegno IOLTS2007: IEEE International On-Line Testing Symposium tenutosi a Hersonissos, Greece nel July 2007. 1-gen-2007 BERNARDI, PAOLOVEIRAS BOLZANI, Leticia MariaSONZA REORDA, Matteo -
A new Architecture to Cross-Fertilize On-line and Manufacturing Testing / Bernardi, Paolo; SONZA REORDA, Matteo. - STAMPA. - (2011), pp. 142-147. ((Intervento presentato al convegno Twentieth IEEE Asian Test Symposium (ATS 2011) tenutosi a New Delhi, India nel 20-23 November 2011. 1-gen-2011 BERNARDI, PAOLOSONZA REORDA, Matteo -
A new DFM-proactive technique / D., Appello; Bernardi, Paolo; Grosso, Michelangelo; Rebaudengo, Maurizio; SONZA REORDA, Matteo; V., Tancorre. - (2005). ((Intervento presentato al convegno SDD'05: 2nd IEEE International Workshop on Silicon Debug and Diagnosis tenutosi a Austin, Texas, USA nel 10 - 11 novembre 2005. 1-gen-2005 BERNARDI, PAOLOGROSSO, MICHELANGELOREBAUDENGO, MaurizioSONZA REORDA, Matteo + -
A new hybrid fault detection technique for systems-on-a-chip / Bernardi, Paolo; VEIRAS BOLZANI, Leticia Maria; Rebaudengo, Maurizio; SONZA REORDA, Matteo; F. L., Vargas; Violante, Massimo. - In: IEEE TRANSACTIONS ON COMPUTERS. - ISSN 0018-9340. - 55:(2006), pp. 185-198. [10.1109/TC.2006.15] 1-gen-2006 BERNARDI, PAOLOVEIRAS BOLZANI, Leticia MariaREBAUDENGO, MaurizioSONZA REORDA, MatteoVIOLANTE, MASSIMO + TC_2006..pdf
A novel SBST generation technique for path-delay faults in microprocessors based on BDD analysis and evolutionary algorithm / Christou, K; MICHAEL M., K; Bernardi, Paolo; Grosso, Michelangelo; SANCHEZ SANCHEZ, EDGAR ERNESTO; SONZA REORDA, Matteo. - (2008), pp. 389-394. ((Intervento presentato al convegno 26th IEEE VLSI Test Symposium tenutosi a San Diego, CA, USA nel apr 27 - may 1 [10.1109/VTS.2008.37]. 1-gen-2008 BERNARDI, PAOLOGROSSO, MICHELANGELOSANCHEZ SANCHEZ, EDGAR ERNESTOSONZA REORDA, Matteo + -
A P1500-compatible programmable BIST approach for the test of embedded flash memories / Bernardi, Paolo; Rebaudengo, Maurizio; SONZA REORDA, Matteo; Violante, Massimo. - (2003), pp. 720-725. ((Intervento presentato al convegno Design, Automation and Test in Europe tenutosi a Munich (DEU) nel 7 March 2003 [10.1109/DATE.2003.1253692]. 1-gen-2003 BERNARDI, PAOLOREBAUDENGO, MaurizioSONZA REORDA, MatteoVIOLANTE, MASSIMO 1418985.pdf
A Parallel Tester Architecture for Accelerometerand Gyroscope MEMS Calibration and Test / Ciganda, LYL MERCEDES; Bernardi, Paolo; SONZA REORDA, Matteo; Barbieri, D.; Bonaria, L.; Losco, R.; Marcigot, L.; Straiotto, M.. - In: JOURNAL OF ELECTRONIC TESTING. - ISSN 0923-8174. - STAMPA. - 27:3(2011), pp. 389-402. [10.1007/s10836-011-5210-2] 1-gen-2011 CIGANDA, LYL MERCEDESBERNARDI, PAOLOSONZA REORDA, Matteo + -
A pattern ordering algorithm for reducing the size of fault dictionaries / Bernardi, Paolo; Grosso, Michelangelo; Rebaudengo, Maurizio; SONZA REORDA, Matteo. - (2006), pp. 166-171. ((Intervento presentato al convegno IEEE VLSI Test Symposium VTS tenutosi a Berkeley, CA, USA nel 30 Aprile - 4 Maggio 2006 [10.1109/VTS.2006.9]. 1-gen-2006 BERNARDI, PAOLOGROSSO, MICHELANGELOREBAUDENGO, MaurizioSONZA REORDA, Matteo -
A programmable BIST approach for the diagnosis of embedded memory cores / D., Appello; Bernardi, Paolo; A., Fudoli; Rebaudengo, Maurizio; SONZA REORDA, Matteo; V., Tancorre; Violante, Massimo. - (2003), pp. 101-102. ((Intervento presentato al convegno ETW03: 8th IEEE European Test Workshop ( tenutosi a Maastricht, Olanda nel 25-28 maggio 2003. 1-gen-2003 BERNARDI, PAOLOREBAUDENGO, MaurizioSONZA REORDA, MatteoVIOLANTE, MASSIMO + -
A Programmable BIST for DRAM Testing and Diagnosis / Grosso, Michelangelo; Bernardi, Paolo; SONZA REORDA, Matteo; Y., Zhang. - (2010). ((Intervento presentato al convegno IEEE International Test Conference tenutosi a Austin, USA nel November 2010. 1-gen-2010 GROSSO, MICHELANGELOBERNARDI, PAOLOSONZA REORDA, Matteo + -
A SBST strategy to test microprocessors' branch target buffer / Bernardi, Paolo; Ciganda, LYL MERCEDES; Grosso, Michelangelo; SANCHEZ SANCHEZ, EDGAR ERNESTO; SONZA REORDA, Matteo. - STAMPA. - (2012), pp. 306-311. ((Intervento presentato al convegno IEEE 15th International Symposium on Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems (DDECS 2012) tenutosi a Tallinn, Estonia nel April 18-20, 2012. 1-gen-2012 BERNARDI, PAOLOCIGANDA, LYL MERCEDESGROSSO, MICHELANGELOSANCHEZ SANCHEZ, EDGAR ERNESTOSONZA REORDA, Matteo -
A System-layer Infrastructure for SoC Diagnosis / Bernardi, Paolo; Grosso, Michelangelo; Rebaudengo, Maurizio; SONZA REORDA, Matteo. - In: JOURNAL OF ELECTRONIC TESTING. - ISSN 0923-8174. - 23:(2007), pp. 389-404. 1-gen-2007 BERNARDI, PAOLOGROSSO, MICHELANGELOREBAUDENGO, MaurizioSONZA REORDA, Matteo -
A tester architecture suitable for MEMS calibration and testing / Ciganda, LYL MERCEDES; Bernardi, Paolo; SONZA REORDA, Matteo; Barbieri, D.; Straiotto, M.; Bonaria, L.. - (2010). ((Intervento presentato al convegno ITC 2010, International Test Conference tenutosi a Austin (USA) nel Oct 31 – Nov 5, 2010. 1-gen-2010 CIGANDA, LYL MERCEDESBERNARDI, PAOLOSONZA REORDA, Matteo + -
A Tool for Supporting and Automating the Test of Complex System-on-Chips / Bernardi, Paolo; Grosso, Michelangelo; Rebaudengo, Maurizio; SONZA REORDA, Matteo; D., Appello; R., Mattiuzzo; V., Tancorre. - (2005). ((Intervento presentato al convegno ITSW 2005: IEEE International Test Synthesis Workshop tenutosi a San Antonio, Texas, USA nel 11-12 aprile 2005. 1-gen-2005 BERNARDI, PAOLOGROSSO, MICHELANGELOREBAUDENGO, MaurizioSONZA REORDA, Matteo + -
Accelerated Analysis of Simulation Dumps through Parallelization on Multicore Architectures / Calabrese, A.; Bernardi, P.; Littardi, S.; Quer, S.. - ELETTRONICO. - (2020), pp. 1-1. ((Intervento presentato al convegno International Test Conference 2020 (ITC2020) nel 3-5 November 2020. 1-gen-2020 A. CalabreseP. BernardiS. LittardiS. Quer poster.pdf
Accelerated Analysis of Simulation Dumps through Parallelization on Multicore Architectures / Appello, D.; Bernardi, P.; Calabrese, A.; Littardi, S.; Pollaccia, G.; Quer, S.; Tancorre, V.; Ugioli, R.. - (2021), pp. 69-74. ((Intervento presentato al convegno 24th International Symposium on Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems, DDECS 2021 tenutosi a aut nel 2021 [10.1109/DDECS52668.2021.9417048]. 1-gen-2021 Bernardi P.Calabrese A.Littardi S.Quer S. + 09417048.pdf