ANGIONE, FRANCESCO

ANGIONE, FRANCESCO  

Dipartimento di Automatica e Informatica  

F. Angione  

048119  

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Citazione Data di pubblicazione Autori File
An innovative Strategy to Quickly Grade Functional Test Programs / Angione, Francesco; Bernardi, Paolo; Calabrese, Andrea; Cardone, Lorenzo; Niccoletti, Alessandro; Piumatti, Davide; Quer, Stefano; Appello, Davide; Tancorre, Vincenzo; Ugioli, Roberto. - (In corso di stampa). ((Intervento presentato al convegno International Test Conference. In corso di stampa Francesco AngionePaolo BernardiAndrea CalabreseLorenzo CardoneDavide PiumattiStefano Quer + -
A Low-Cost Burn-In Tester Architecture to supply Effective Electrical Stress / Angione, F.; Appello, D.; Bernardi, P.; Bertani, C.; Gallo, G.; Littardi, S.; Pollaccia, G.; Ruggeri, W.; Reorda, M. S.; Tancorre, V.; Ugioli, R.. - In: IEEE TRANSACTIONS ON COMPUTERS. - ISSN 0018-9340. - (2022), pp. 1-14. [10.1109/TC.2022.3199994] 1-gen-2022 Angione F.Bernardi P.Littardi S.Ruggeri W.Reorda M. S. + -
A novel Pattern Selection Algorithm to reduce the Test Cost of large Automotive Systems-on-Chip / Iaria, Giusy; Angione, Francesco; Bernardi, Paolo; SONZA REORDA, Matteo; Davide, Appello; Giuseppe, Garozzo; Vincenzo, Tancorre. - (In corso di stampa). ((Intervento presentato al convegno Latin American Test Symposium. In corso di stampa Iaria GiusyFrancesco AngionePaolo BernardiMatteo Sonza Reorda + -
Online scheduling of concurrent Memory BISTs execution at Real-Time Operating-System level / Angione, Francesco; Bernardi, Paolo; Filipponi, Gabriele; Tempesta, Claudia; SONZA REORDA, Matteo; Appello, Davide; Ugioli, Roberto; Tancorre, Vincenzo. - (In corso di stampa). ((Intervento presentato al convegno International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems. In corso di stampa Francesco AngionePaolo BernardiGabriele FilipponiClaudia TempestaMatteo Sonza Reorda + -
An Optimized Burn-In Stress Flow targeting Interconnections logic to Embedded Memories in Automotive Systems-on-Chip / Angione, Francesco; Bernardi, Paolo; Filipponi, Gabriele; SONZA REORDA, Matteo; Appello, Davide; Tancorre, Vincenzo; Ugioli, Roberto. - (2022), pp. 1-6. ((Intervento presentato al convegno IEEE European Test Symposium tenutosi a Barcelona (Spain) nel 01 July 2022 [10.1109/ETS54262.2022.9810396]. 1-gen-2022 Francesco ANGIONEPaolo BERNARDIGabriele FILIPPONIMatteo SONZA REORDA + An_Optimized_Burn-In_Stress_Flow_targeting_Interconnections_logic_to_Embedded_Memories_in_Automotive_Systems-on-Chip.pdf
Test, Reliability and Functional Safety trends for Automotive System-on-Chip / Angione, F.; Appello, D.; Aribido, J.; Bellarmino, N.; Bernardi, P.; Cantoro, R.; de Sio, C.; Foscale, T.; Gavarini, G.; Huch, M.; Kilian, T; Mariani, R.; Martone, R.; Ruospo, A.; Sanchez, E.; Schlichtmann, U.; Squillero, G.; Sonza Reorda, M.; Sterpone, L.; Tancorre, V.; Ugioli, R.. - (2022). ((Intervento presentato al convegno IEEE European Test Symposium [10.1109/ETS54262.2022.9810388]. 1-gen-2022 F. AngioneN. BellarminoP. BernardiR. CantoroC. de SioT. FoscaleG. GavariniA. RuospoE. SanchezG. SquilleroM. Sonza ReordaL. Sterpone + 01_ETS_special_session_ABSTRACT.pdf
Test, Reliability and Functional Safety Trends for Automotive System-on-Chip / Angione, F.; Appello, D.; Aribido, J.; Athavale, J.; Bellarmino, N.; Bernardi, P.; Cantoro, R.; De Sio, C.; Foscale, T.; Gavarini, G.; Guerrero, J.; Huch, M.; Iaria, G.; Kilian, T.; Mariani, R.; Martone, R.; Ruospo, A.; Sanchez, E.; Schlichtmann, U.; Squillero, G.; Sonza Reorda, M.; Sterpone, L.; Tancorre, V.; Ugioli, R.. - (2022), pp. 1-10. ((Intervento presentato al convegno 2022 IEEE European Test Symposium (ETS) tenutosi a Barcelona (Spain) nel 01 July 2022 [10.1109/ETS54262.2022.9810388]. 1-gen-2022 F. AngioneN. BellarminoP. BernardiR. CantoroC. De SioT. FoscaleG. GavariniJ. GuerreroG. IariaR. MarianiA. RuospoG. SquilleroM. Sonza ReordaL. Sterpone + 2022_ETS_SpecialSession.pdfTest_Reliability_and_Functional_Safety_Trends_for_Automotive_System-on-Chip.pdf