ANGIONE, FRANCESCO

ANGIONE, FRANCESCO  

Dipartimento di Automatica e Informatica  

F. Angione  

048119  

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Citazione Data di pubblicazione Autori File
A Low-Cost Burn-In Tester Architecture to supply Effective Electrical Stress / Angione, F.; Appello, D.; Bernardi, P.; Bertani, C.; Gallo, G.; Littardi, S.; Pollaccia, G.; Ruggeri, W.; Reorda, M. S.; Tancorre, V.; Ugioli, R.. - In: IEEE TRANSACTIONS ON COMPUTERS. - ISSN 0018-9340. - (2022), pp. 1-14. [10.1109/TC.2022.3199994] 1-gen-2022 Angione F.Bernardi P.Littardi S.Ruggeri W.Reorda M. S. + -