LITTARDI, STEFANO

LITTARDI, STEFANO  

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Accelerated Analysis of Simulation Dumps through Parallelization on Multicore Architectures / Calabrese, A.; Bernardi, P.; Littardi, S.; Quer, S.. - ELETTRONICO. - (2020), pp. 1-1. ((Intervento presentato al convegno International Test Conference 2020 (ITC2020) nel 3-5 November 2020. 1-gen-2020 A. CalabreseP. BernardiS. LittardiS. Quer poster.pdf
Accelerated Analysis of Simulation Dumps through Parallelization on Multicore Architectures / Appello, D.; Bernardi, P.; Calabrese, A.; Littardi, S.; Pollaccia, G.; Quer, S.; Tancorre, V.; Ugioli, R.. - (2021), pp. 69-74. ((Intervento presentato al convegno 24th International Symposium on Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems, DDECS 2021 tenutosi a aut nel 2021 [10.1109/DDECS52668.2021.9417048]. 1-gen-2021 Bernardi P.Calabrese A.Littardi S.Quer S. + 09417048.pdf
Innovative methods for Burn-In related Stress Metrics Computation / Ruggeri, Walter; Bernardi, Paolo; Littardi, Stefano; Reorda, Matteo Sonza; Appello, Davide; Bertani, Claudia; Pollaccia, Giorgio; Tancorre, Vincenzo; Ugioli, Roberto. - ELETTRONICO. - (2021), pp. 1-6. ((Intervento presentato al convegno 16th International Conference on Design & Technology of Integrated Systems in Nanoscale Era (DTIS) nel 28-30 June 2021 [10.1109/DTIS53253.2021.9505067]. 1-gen-2021 Ruggeri, WalterBernardi, PaoloLittardi, StefanoReorda, Matteo Sonza + innovative_methods_for_burn-in_related_stress_metrics_computation.pdfInnovative_methods_for_Burn-In_related_Stress_Metrics_Computation.pdf
A Low-Cost Burn-In Tester Architecture to supply Effective Electrical Stress / Angione, F.; Appello, D.; Bernardi, P.; Bertani, C.; Gallo, G.; Littardi, S.; Pollaccia, G.; Ruggeri, W.; Reorda, M. S.; Tancorre, V.; Ugioli, R.. - In: IEEE TRANSACTIONS ON COMPUTERS. - ISSN 0018-9340. - (2022), pp. 1-14. [10.1109/TC.2022.3199994] 1-gen-2022 Angione F.Bernardi P.Littardi S.Ruggeri W.Reorda M. S. + -