Archivio Istituzionale della RicercaLITTARDI, STEFANO
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Accelerated Analysis of Simulation Dumps through Parallelization on Multicore Architectures
2021 Appello, D.; Bernardi, P.; Calabrese, A.; Littardi, S.; Pollaccia, G.; Quer, S.; Tancorre, V.; Ugioli, R.
Innovative methods for Burn-In related Stress Metrics Computation
2021 Ruggeri, Walter; Bernardi, Paolo; Littardi, Stefano; Reorda, Matteo Sonza; Appello, Davide; Bertani, Claudia; Pollaccia, Giorgio; Tancorre, Vincenzo; Ugioli, Roberto
Accelerated Analysis of Simulation Dumps through Parallelization on Multicore Architectures
2020 Calabrese, A.; Bernardi, P.; Littardi, S.; Quer, S.
| Citazione | Data di pubblicazione | Autori | File |
|---|---|---|---|
| Accelerated Analysis of Simulation Dumps through Parallelization on Multicore Architectures / Appello, D.; Bernardi, P.; Calabrese, A.; Littardi, S.; Pollaccia, G.; Quer, S.; Tancorre, V.; Ugioli, R.. - (2021), pp. 69-74. (Intervento presentato al convegno 24th International Symposium on Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems, DDECS 2021 tenutosi a aut nel 2021) [10.1109/DDECS52668.2021.9417048]. | 1-gen-2021 | Bernardi P.Calabrese A.Littardi S.Quer S. + | 09417048.pdf |
| Innovative methods for Burn-In related Stress Metrics Computation / Ruggeri, Walter; Bernardi, Paolo; Littardi, Stefano; Reorda, Matteo Sonza; Appello, Davide; Bertani, Claudia; Pollaccia, Giorgio; Tancorre, Vincenzo; Ugioli, Roberto. - ELETTRONICO. - (2021), pp. 1-6. (Intervento presentato al convegno 16th International Conference on Design & Technology of Integrated Systems in Nanoscale Era (DTIS) nel 28-30 June 2021) [10.1109/DTIS53253.2021.9505067]. | 1-gen-2021 | Ruggeri, WalterBernardi, PaoloLittardi, StefanoReorda, Matteo Sonza + | innovative_methods_for_burn-in_related_stress_metrics_computation.pdf; Innovative_methods_for_Burn-In_related_Stress_Metrics_Computation.pdf |
| Accelerated Analysis of Simulation Dumps through Parallelization on Multicore Architectures / Calabrese, A.; Bernardi, P.; Littardi, S.; Quer, S.. - ELETTRONICO. - (2020), pp. 1-1. (Intervento presentato al convegno International Test Conference 2020 (ITC2020) nel 3-5 November 2020). | 1-gen-2020 | A. CalabreseP. BernardiS. LittardiS. Quer | poster.pdf |