RUGGERI, WALTER

RUGGERI, WALTER  

Dipartimento di Automatica e Informatica  

036820  

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A Low-Cost Burn-In Tester Architecture to supply Effective Electrical Stress / Angione, F.; Appello, D.; Bernardi, P.; Bertani, C.; Gallo, G.; Littardi, S.; Pollaccia, G.; Ruggeri, W.; Reorda, M. S.; Tancorre, V.; Ugioli, R.. - In: IEEE TRANSACTIONS ON COMPUTERS. - ISSN 0018-9340. - (2023), pp. 1447-1459. [10.1109/TC.2022.3199994] 1-gen-2023 Angione F.Bernardi P.Littardi S.Ruggeri W.Reorda M. S. + A_Low-Cost_Burn-In_Tester_Architecture_to_Supply_Effective_Electrical_Stress.pdf
Innovative methods for Burn-In related Stress Metrics Computation / Ruggeri, Walter; Bernardi, Paolo; Littardi, Stefano; Reorda, Matteo Sonza; Appello, Davide; Bertani, Claudia; Pollaccia, Giorgio; Tancorre, Vincenzo; Ugioli, Roberto. - ELETTRONICO. - (2021), pp. 1-6. (Intervento presentato al convegno 16th International Conference on Design & Technology of Integrated Systems in Nanoscale Era (DTIS) nel 28-30 June 2021) [10.1109/DTIS53253.2021.9505067]. 1-gen-2021 Ruggeri, WalterBernardi, PaoloLittardi, StefanoReorda, Matteo Sonza + innovative_methods_for_burn-in_related_stress_metrics_computation.pdfInnovative_methods_for_Burn-In_related_Stress_Metrics_Computation.pdf