A Low-Cost Burn-In Tester Architecture to supply Effective Electrical Stress / Angione, F.; Appello, D.; Bernardi, P.; Bertani, C.; Gallo, G.; Littardi, S.; Pollaccia, G.; Ruggeri, W.; Reorda, M. S.; Tancorre, V.; Ugioli, R.. - In: IEEE TRANSACTIONS ON COMPUTERS. - ISSN 0018-9340. - (2022), pp. 1-14. [10.1109/TC.2022.3199994]

A Low-Cost Burn-In Tester Architecture to supply Effective Electrical Stress

Angione F.;Bernardi P.;Littardi S.;Ruggeri W.;Reorda M. S.;
2022

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Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento: https://hdl.handle.net/11583/2970999