Archivio Istituzionale della RicercaRUGGERI, WALTER
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| Citazione | Data di pubblicazione | Autori | File |
|---|---|---|---|
| A Low-Cost Burn-In Tester Architecture to supply Effective Electrical Stress / Angione, F., Appello, D., Bernardi, P., Bertani, C., Gallo, G., Littardi, S., Pollaccia, G., Ruggeri, W., Reorda, M.S., Tancorre, V., Ugioli, R.. - In: IEEE TRANSACTIONS ON COMPUTERS. - ISSN 0018-9340. - (2023), pp. 1447-1459. [10.1109/TC.2022.3199994] | 1-gen-2023 | Angione F.Bernardi P.Littardi S.Ruggeri W.Reorda M. S. + | A_Low-Cost_Burn-In_Tester_Architecture_to_Supply_Effective_Electrical_Stress.pdf |