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RUOSPO, ANNACHIARA

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	Citazione	Data di pubblicazione	Autori	File
1	A reliability analysis of a deep neural network / Bosio, A.; Bernardi, P.; Ruospo, A.; Sanchez, E.. - (2019), pp. 1-6. ((Intervento presentato al convegno 20th IEEE Latin American Test Symposium, LATS 2019 tenutosi a Santiago del Chile nel 2019.	2019	Bosio A.; BERNARDI, PAOLO ; RUOSPO, ANNACHIARA ; SANCHEZ SANCHEZ, EDGAR ERNESTO	-
2	An Open-Source Verification Framework for Open-Source Cores: A RISC-V Case Study / Schiavone, P. D.; Sanchez, E.; Ruospo, A.; Minervini, F.; Zaruba, F.; Haugou, G.; Benini, L.. - 2018-(2019), pp. 43-48. ((Intervento presentato al convegno 26th IFIP/IEEE International Conference on Very Large Scale Integration, VLSI-SoC 2018 tenutosi a Verona (Italia) nel 2018.	2019	Schiavone P. D.; SANCHEZ SANCHEZ, EDGAR ERNESTO ; RUOSPO, ANNACHIARA ; Minervini F.; Zaruba F.; Haugou G.; BENINI, LUCA	-
3	On-line Testing for Autonomous Systems driven by RISC-V Processor Design Verification / Ruospo, Annachiara; Cantoro, Riccardo; Ernesto, Sanchez; Davide Schiavone, Pasquale; Garofalo, Angelo; Benini, Luca. - (In corso di stampa). ((Intervento presentato al convegno The 32nd IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems tenutosi a ESA-ESTEC & TU Delft, Netherlands nel October 2 – October 4, 2019.	Being printed	RUOSPO, ANNACHIARA ; CANTORO, RICCARDO ; SANCHEZ SANCHEZ, EDGAR ERNESTO ; Pasquale Davide Schiavone; Angelo Garofalo; BENINI, LUCA	-
4	Non-Intrusive Self-Test Library for Automotive Critical Applications: Constraints and Solutions / Bernardi, P.; Cantoro, R.; Floridia, A.; Piumatti, D.; Pogonea, C.; Ruospo, A.; Sanchez, E.; De Luca, S.; Sansonetti, A.. - IEEE DATE 2019(2019), pp. 920-923. ((Intervento presentato al convegno Design, Automation and Test in Europe; DATE 2019.	2019	BERNARDI, PAOLO ; CANTORO, RICCARDO ; FLORIDIA, ANDREA ; PIUMATTI, DAVIDE ; Pogonea, C.; RUOSPO, ANNACHIARA ; SANCHEZ SANCHEZ, EDGAR ERNESTO ; De Luca, S.; Sansonetti, A.	-
5	A Decentralized Scheduler for On-line Self-test Routines in Multi-core Automotive System-on-Chips / Floridia, Andrea; Piumatti, Davide; Ruospo, Annachiara; Ernesto, Sanchez; De Luca, Sergio; Martorana, Rosario. - ELETTRONICO. - (In corso di stampa), pp. 1-10. ((Intervento presentato al convegno 2019 IEEE International Test Conference (ITC) tenutosi a Washington (USA) nel 12-14 November, 2019.	Being printed	FLORIDIA, ANDREA ; PIUMATTI, DAVIDE ; RUOSPO, ANNACHIARA ; SANCHEZ SANCHEZ, EDGAR ERNESTO ; Sergio De Luca; Rosario Martorana	-
6	Analysis of Fault Simulations Result during development of a Software Test Library / Floridia, A.; Piumatti, D.; Ruospo, A.; Sanchez, E.. - ELETTRONICO. - ART 2018(2018). ((Intervento presentato al convegno ART 2018 tenutosi a Phoenix, Arizona, USA nel November 01-02, 2018..	2018	FLORIDIA, ANDREA ; PIUMATTI, DAVIDE ; RUOSPO, ANNACHIARA ; SANCHEZ SANCHEZ, EDGAR ERNESTO	-