Archivio Istituzionale della RicercaFOSCALE, TOMMASO
FOSCALE, TOMMASO
Dipartimento di Automatica e Informatica
055629
A Flexible FPGA-based Test Equipment for Enabling Out-of-Production Manufacturing Test Flow of Digital Systems
2024 DI GRUTTOLA GIARDINO, Nicola; Angione, Francesco; Bernardi, Paolo; Foscale, Tommaso; Bertani and Vincenzo Tancorre, Claudia
Exploring trade-offs in multi-site wafer testing
2024 Bernardi, Paolo; Cardone, Lorenzo; Foscale, Tommaso
Low cost external serial interface watchdog for SoCs and FPGAs automatic characterization tests
2023 Bernardi, Paolo; Filipponi, Gabriele; Foscale, Tommaso; Insinga, Giorgio
A novel SEU injection setup for Automotive SoC
2022 Iaria, G.; Foscale, T.; Bernardi, P.; Presicce, L.; Sonza Reorda, M.; Appello, D.; Tancorre, V.; Ugioli, R.
Test, Reliability and Functional Safety trends for Automotive System-on-Chip
2022 Angione, F.; Appello, D.; Aribido, J.; Bellarmino, N.; Bernardi, P.; Cantoro, R.; de Sio, C.; Foscale, T.; Gavarini, G.; Huch, M.; Kilian, T; Mariani, R.; Martone, R.; Ruospo, A.; Sanchez, E.; Schlichtmann, U.; Squillero, G.; Sonza Reorda, M.; Sterpone, L.; Tancorre, V.; Ugioli, R.
Test, Reliability and Functional Safety Trends for Automotive System-on-Chip
2022 Angione, F.; Appello, D.; Aribido, J.; Athavale, J.; Bellarmino, N.; Bernardi, P.; Cantoro, R.; De Sio, C.; Foscale, T.; Gavarini, G.; Guerrero, J.; Huch, M.; Iaria, G.; Kilian, T.; Mariani, R.; Martone, R.; Ruospo, A.; Sanchez, E.; Schlichtmann, U.; Squillero, G.; Sonza Reorda, M.; Sterpone, L.; Tancorre, V.; Ugioli, R.
| Citazione | Data di pubblicazione | Autori | File |
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| A Flexible FPGA-based Test Equipment for Enabling Out-of-Production Manufacturing Test Flow of Digital Systems / DI GRUTTOLA GIARDINO, Nicola; Angione, Francesco; Bernardi, Paolo; Foscale, Tommaso; Bertani and Vincenzo Tancorre, Claudia. - (2024). (Intervento presentato al convegno International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems (DFTS) tenutosi a Didcot (UK) nel 08-10 October 2024) [10.1109/DFT63277.2024.10753536]. | 1-gen-2024 | Nicola di Gruttola GiardinoFrancesco AngionePaolo BernardiTommaso Foscale + | A_Flexible_FPGA-Based_Test_Equipment_for_Enabling_Out-of-Production_Manufacturing_Test_Flow_of_Digital_Systems.pdf |
| Exploring trade-offs in multi-site wafer testing / Bernardi, Paolo; Cardone, Lorenzo; Foscale, Tommaso. - (2024). (Intervento presentato al convegno 25th IEEE Latin American Test Symposium 2024 tenutosi a Maceio (BRA) nel 09-12 April 2024) [10.1109/lats62223.2024.10534596]. | 1-gen-2024 | Bernardi, PaoloCardone, LorenzoFoscale, Tommaso | Exploring_trade-offs_in_multi-site_wafer_testing.pdf |
| Low cost external serial interface watchdog for SoCs and FPGAs automatic characterization tests / Bernardi, Paolo; Filipponi, Gabriele; Foscale, Tommaso; Insinga, Giorgio. - (2023). (Intervento presentato al convegno IEEE Latin-American Test Symposium tenutosi a Veracruz (Mexico) nel 21-24 March 2023) [10.1109/LATS58125.2023.10154486]. | 1-gen-2023 | Bernardi, PaoloFilipponi, GabrieleFoscale, TommasoInsinga, Giorgio | LATS_2023.pdf; Low_cost_external_serial_interface_watchdog_for_SoCs_and_FPGAs_automatic_characterization_tests.pdf |
| A novel SEU injection setup for Automotive SoC / Iaria, G.; Foscale, T.; Bernardi, P.; Presicce, L.; Sonza Reorda, M.; Appello, D.; Tancorre, V.; Ugioli, R.. - (2022), pp. 623-626. (Intervento presentato al convegno 2022 IEEE International Symposium on Industrial Electronics tenutosi a Anchorage, AK (USA) nel 01-03 June 2022) [10.1109/ISIE51582.2022.9831533]. | 1-gen-2022 | G. IariaT. FoscaleP. BernardiL. PresicceM. Sonza Reorda + | A_novel_SEU_injection_setup_for_Automotive_SoC.pdf |
| Test, Reliability and Functional Safety trends for Automotive System-on-Chip / Angione, F.; Appello, D.; Aribido, J.; Bellarmino, N.; Bernardi, P.; Cantoro, R.; de Sio, C.; Foscale, T.; Gavarini, G.; Huch, M.; Kilian, T; Mariani, R.; Martone, R.; Ruospo, A.; Sanchez, E.; Schlichtmann, U.; Squillero, G.; Sonza Reorda, M.; Sterpone, L.; Tancorre, V.; Ugioli, R.. - (2022). (Intervento presentato al convegno IEEE European Test Symposium). | 1-gen-2022 | F. AngioneN. BellarminoP. BernardiR. CantoroC. de SioT. FoscaleG. GavariniA. RuospoE. SanchezG. SquilleroM. Sonza ReordaL. Sterpone + | 01_ETS_special_session_ABSTRACT.pdf |
| Test, Reliability and Functional Safety Trends for Automotive System-on-Chip / Angione, F.; Appello, D.; Aribido, J.; Athavale, J.; Bellarmino, N.; Bernardi, P.; Cantoro, R.; De Sio, C.; Foscale, T.; Gavarini, G.; Guerrero, J.; Huch, M.; Iaria, G.; Kilian, T.; Mariani, R.; Martone, R.; Ruospo, A.; Sanchez, E.; Schlichtmann, U.; Squillero, G.; Sonza Reorda, M.; Sterpone, L.; Tancorre, V.; Ugioli, R.. - (2022), pp. 1-10. (Intervento presentato al convegno 2022 IEEE European Test Symposium (ETS) tenutosi a Barcelona (Spain) nel 23-27 May 2022) [10.1109/ETS54262.2022.9810388]. | 1-gen-2022 | F. AngioneN. BellarminoP. BernardiR. CantoroC. De SioT. FoscaleG. GavariniJ. GuerreroG. IariaR. MarianiA. RuospoG. SquilleroM. Sonza ReordaL. Sterpone + | 2022_ETS_SpecialSession.pdf; Test_Reliability_and_Functional_Safety_Trends_for_Automotive_System-on-Chip.pdf |