FOSCALE, TOMMASO

FOSCALE, TOMMASO  

Dipartimento di Automatica e Informatica  

055629  

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Citazione Data di pubblicazione Autori File
A Cost–Benefit Analysis of Multi-Site Wafer Testing / Foscale, Tommaso; Bernardi, Paolo. - In: ELECTRONICS. - ISSN 2079-9292. - 14:12(2025). [10.3390/electronics14122450] 1-gen-2025 Foscale, TommasoBernardi, Paolo A Cost–Benefit Analysis of Multi-Site Wafer Testing.pdf