Archivio Istituzionale della RicercaFOSCALE, TOMMASO
FOSCALE, TOMMASO
Dipartimento di Automatica e Informatica
055629
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A Multi-Phase Diagnostic Flow Combining Scan-Based Refinement and Targeted Functional Tests for Automotive SoCs
2026 Iaria, Giusy; Filipponi, Gabriele; Foscale, Tommaso; Bertani, Claudia; Garozzo, Giuseppe; Tancorre, Vincenzo; Bernardi, Paolo
A Cost–Benefit Analysis of Multi-Site Wafer Testing
2025 Foscale, Tommaso; Bernardi, Paolo
| Citazione | Data di pubblicazione | Autori | File |
|---|---|---|---|
| A Multi-Phase Diagnostic Flow Combining Scan-Based Refinement and Targeted Functional Tests for Automotive SoCs / Iaria, G., Filipponi, G., Foscale, T., Bertani, C., Garozzo, G., Tancorre, V., Bernardi, P.. - In: IEEE ACCESS. - ISSN 2169-3536. - 14:(2026), pp. 116813-116825. [10.1109/ACCESS.2026.3718146] | 1-gen-2026 | Giusy IariaGabriele FilipponiTommaso FoscalePaolo Bernardi + | A_Multi-Phase_Diagnostic_Flow_Combining_Scan-Based_Refinement_and_Targeted_Functional_Tests_for_Automotive_SoCs.pdf |
| A Cost–Benefit Analysis of Multi-Site Wafer Testing / Foscale, T., Bernardi, P.. - In: ELECTRONICS. - ISSN 2079-9292. - 14:12(2025). [10.3390/electronics14122450] | 1-gen-2025 | Foscale, TommasoBernardi, Paolo | A Cost–Benefit Analysis of Multi-Site Wafer Testing.pdf |