FOSCALE, TOMMASO
FOSCALE, TOMMASO
Dipartimento di Automatica e Informatica
055629
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Citazione | Data di pubblicazione | Autori | File |
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A Cost–Benefit Analysis of Multi-Site Wafer Testing / Foscale, Tommaso; Bernardi, Paolo. - In: ELECTRONICS. - ISSN 2079-9292. - 14:12(2025). [10.3390/electronics14122450] | 1-gen-2025 | Foscale, TommasoBernardi, Paolo | A Cost–Benefit Analysis of Multi-Site Wafer Testing.pdf |