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Test, Reliability and Functional Safety trends for Automotive System-on-Chip / Angione, F.; Appello, D.; Aribido, J.; Bellarmino, N.; Bernardi, P.; Cantoro, R.; de Sio, C.; Foscale, T.; Gavarini, G.; Huch, M.; Kilian, T; Mariani, R.; Martone, R.; Ruospo, A.; Sanchez, E.; Schlichtmann, U.; Squillero, G.; Sonza Reorda, M.; Sterpone, L.; Tancorre, V.; Ugioli, R.. - (2022). (Intervento presentato al convegno IEEE European Test Symposium).

Test, Reliability and Functional Safety trends for Automotive System-on-Chip

F. Angione;N. Bellarmino;P. Bernardi;R. Cantoro;C. de Sio;T. Foscale;G. Gavarini;A. Ruospo;E. Sanchez;G. Squillero;M. Sonza Reorda;L. Sterpone;
2022
2022
4.2 Abstract in Atti di convegno
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Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento: https://hdl.handle.net/11583/2955520