GAVARINI, GABRIELE

GAVARINI, GABRIELE  

Dipartimento di Automatica e Informatica  

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Open-Set Recognition: an Inexpensive Strategy to Increase DNN Reliability / Gavarini, Gabriele; Stucchi, Diego; Ruospo, Annachiara; Boracchi, Giacomo; Sanchez, Ernesto. - ELETTRONICO. - (2022). ((Intervento presentato al convegno The 28th IEEE International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design (IOLTS 2022) tenutosi a Torino nel September, 12th-14th 2022 [10.1109/IOLTS56730.2022.9897805]. 1-gen-2022 Gavarini, GabrieleRuospo, AnnachiaraSanchez, Ernesto + postPrintIOLTS.pdfOpen-Set_Recognition_an_Inexpensive_Strategy_to_Increase_DNN_Reliability.pdf
Selective Hardening of Critical Neurons in Deep Neural Networks / Ruospo, Annachiara; Gavarini, Gabriele; Bragaglia, Ilaria; Traiola, Marcello; Bosio, Alberto; Sanchez, Ernesto. - ELETTRONICO. - (2022), pp. 136-141. ((Intervento presentato al convegno 25th International Symposium on Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems – DDECS 2022 tenutosi a Prague, Czech Republic nel April 6 – 8, 2022 [10.1109/DDECS54261.2022.9770168]. 1-gen-2022 Ruospo, AnnachiaraGavarini, GabrieleSanchez, Ernesto + DDECS_2022__TMR_critical_neurons.pdfSelective_Hardening_of_Critical_Neurons_in_Deep_Neural_Networks.pdf
Test, Reliability and Functional Safety trends for Automotive System-on-Chip / Angione, F.; Appello, D.; Aribido, J.; Bellarmino, N.; Bernardi, P.; Cantoro, R.; de Sio, C.; Foscale, T.; Gavarini, G.; Huch, M.; Kilian, T; Mariani, R.; Martone, R.; Ruospo, A.; Sanchez, E.; Schlichtmann, U.; Squillero, G.; Sonza Reorda, M.; Sterpone, L.; Tancorre, V.; Ugioli, R.. - (2022). ((Intervento presentato al convegno IEEE European Test Symposium. 1-gen-2022 F. AngioneN. BellarminoP. BernardiR. CantoroC. de SioT. FoscaleG. GavariniA. RuospoE. SanchezG. SquilleroM. Sonza ReordaL. Sterpone + 01_ETS_special_session_ABSTRACT.pdf
Test, Reliability and Functional Safety Trends for Automotive System-on-Chip / Angione, F.; Appello, D.; Aribido, J.; Athavale, J.; Bellarmino, N.; Bernardi, P.; Cantoro, R.; De Sio, C.; Foscale, T.; Gavarini, G.; Guerrero, J.; Huch, M.; Iaria, G.; Kilian, T.; Mariani, R.; Martone, R.; Ruospo, A.; Sanchez, E.; Schlichtmann, U.; Squillero, G.; Sonza Reorda, M.; Sterpone, L.; Tancorre, V.; Ugioli, R.. - (2022), pp. 1-10. ((Intervento presentato al convegno 2022 IEEE European Test Symposium (ETS) tenutosi a Barcelona (Spain) nel 01 July 2022 [10.1109/ETS54262.2022.9810388]. 1-gen-2022 F. AngioneN. BellarminoP. BernardiR. CantoroC. De SioT. FoscaleG. GavariniJ. GuerreroG. IariaR. MarianiA. RuospoG. SquilleroM. Sonza ReordaL. Sterpone + 2022_ETS_SpecialSession.pdfTest_Reliability_and_Functional_Safety_Trends_for_Automotive_System-on-Chip.pdf