Exploring trade-offs in multi-site wafer testing / Bernardi, Paolo; Cardone, Lorenzo; Foscale, Tommaso. - (2024). (Intervento presentato al convegno 25th IEEE Latin American Test Symposium 2024) [10.1109/lats62223.2024.10534596].
Exploring trade-offs in multi-site wafer testing
Bernardi, Paolo;Cardone, Lorenzo;Foscale, Tommaso
2024
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https://hdl.handle.net/11583/2991967
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