Exploiting weak detections for optimizing pattern generation in Defect-Oriented Cell-Aware ATPG / Ciullo, Alessandro; Eggersglüß, Stephan; Tille, Daniel; Glowatz, Andreas; Iaria, Giusy; Bernardi, Paolo. - (In corso di stampa). (Intervento presentato al convegno IEEE International Test Conference ASIA 2025 tenutosi a Tokyo (JPN) nel December 16–19, 2025).

Exploiting weak detections for optimizing pattern generation in Defect-Oriented Cell-Aware ATPG

Iaria, Giusy;Bernardi, Paolo
In corso di stampa

In corso di stampa
File in questo prodotto:
Non ci sono file associati a questo prodotto.
Pubblicazioni consigliate

I documenti in IRIS sono protetti da copyright e tutti i diritti sono riservati, salvo diversa indicazione.

Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento: https://hdl.handle.net/11583/3004838