Exploiting weak detections for optimizing pattern generation in Defect-Oriented Cell-Aware ATPG / Ciullo, Alessandro; Eggersglüß, Stephan; Tille, Daniel; Glowatz, Andreas; Iaria, Giusy; Bernardi, Paolo. - (In corso di stampa). (Intervento presentato al convegno IEEE International Test Conference ASIA 2025 tenutosi a Tokyo (JPN) nel December 16–19, 2025).
Exploiting weak detections for optimizing pattern generation in Defect-Oriented Cell-Aware ATPG
Iaria, Giusy;Bernardi, Paolo
In corso di stampa
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https://hdl.handle.net/11583/3004838
