BERNARDI, PAOLO

BERNARDI, PAOLO  

Dipartimento di Automatica e Informatica  

012326  

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A comprehensive evaluation of functional programs for power-aware test / Touati, A.; Bosio, A.; Dilillo, L.; Girard, P.; Todri-Sanial, A.; Virazel, A.; Bernardi, P.. - (2014), pp. 69-72. ((Intervento presentato al convegno 23rd IEEE North Atlantic Test Workshop, NATW 2014 tenutosi a Binghamton, NY, usa nel 2014 [10.1109/NATW.2014.23]. 1-gen-2014 Bernardi P. + 09301557.pdf
A Comprehensive Methodology for Stress Procedures Evaluation and Comparison for Burn-In of Automotive SoC / Bernardi, Paolo; Appello, Davide; Giacopelli, Giampaolo; Motta, Alessandro; Pagani, Alberto; Pollaccia, Giorgio; Rabbi, Christian; Restifo, Marco; Ruberg, Priit; Sanchez, Ernesto; Villa, Claudio Maria; Venini, Federico. - (2017). ((Intervento presentato al convegno Design, Automation and Test in Europe Conference and Exhibition (DATE2017). 1-gen-2017 BERNARDI, PAOLORESTIFO, MARCOSanchez, ErnestoVENINI, FEDERICO + -
A Deterministic Methodology for Identifying Functionally Untestable Path-Delay Faults in Microprocessor Cores / Bernardi, Paolo; Grosso, Michelangelo; SANCHEZ SANCHEZ, EDGAR ERNESTO; SONZA REORDA, Matteo. - (2009), pp. 103-108. ((Intervento presentato al convegno 9th International Workshop on Microprocessor Test and Verification (MTV'08) tenutosi a Austin, TX (U.S.A.) nel 8-10 Dic., 2008 [10.1109/MTV.2008.9]. 1-gen-2009 BERNARDI, PAOLOGROSSO, MICHELANGELOSANCHEZ SANCHEZ, EDGAR ERNESTOSONZA REORDA, Matteo -
A DMA and CACHE-based stress schema for burn-in of automotive microcontroller / Bernardi, Paolo; Cantoro, Riccardo; Gianotto, L.; Restifo, Marco; SANCHEZ SANCHEZ, EDGAR ERNESTO; Venini, Federico; Appello, D.. - STAMPA. - (2017), pp. 1-6. ((Intervento presentato al convegno 2017 18th IEEE Latin American Test Symposium (LATS) tenutosi a Bogota (CO) nel 13-15 March 2017 [10.1109/LATW.2017.7906767]. 1-gen-2017 BERNARDI, PAOLOCANTORO, RICCARDORESTIFO, MARCOSANCHEZ SANCHEZ, EDGAR ERNESTOVENINI, FEDERICO + PUBLISHED_07906767.pdf
A fault grading methodology for software-based self-test programs in systems-on-chip / Ballan, O.; Bernardi, Paolo; Fontana, G.; Grosso, Michelangelo; SANCHEZ SANCHEZ, EDGAR ERNESTO. - (2010), pp. 43-46. ((Intervento presentato al convegno International Workshop on Microprocessor Test and Verification tenutosi a Austin (TX), USA nel Dec. 13-15, 2010 [10.1109/MTV.2010.16]. 1-gen-2010 BERNARDI, PAOLOGROSSO, MICHELANGELOSANCHEZ SANCHEZ, EDGAR ERNESTO + -
A Functional Test Algorithm for the Register Forwarding and Pipeline Interlocking unit in Pipelined Microprocessors / Bernardi, Paolo; Du, Boyang; Ciganda, LYL MERCEDES; SANCHEZ SANCHEZ, EDGAR ERNESTO; SONZA REORDA, Matteo; Grosso, Michelangelo; Ballan, O.. - STAMPA. - (2013). ((Intervento presentato al convegno IEEE 7th International Design and Test Symposium (IDT) tenutosi a Doha (Qatar) nel December 2012 [10.1109/IDT.2013.6727120]. 1-gen-2013 BERNARDI, PAOLODU, BOYANGCIGANDA, LYL MERCEDESSANCHEZ SANCHEZ, EDGAR ERNESTOSONZA REORDA, MatteoGROSSO, MICHELANGELO + 06727120.pdf
A Hybrid Approach to Fault Detection and Correction in SoCs / Bernardi, Paolo; VEIRAS BOLZANI, Leticia Maria; SONZA REORDA, Matteo. - (2007), pp. 107-112. ((Intervento presentato al convegno IOLTS2007: IEEE International On-Line Testing Symposium tenutosi a Hersonissos, Greece nel July 2007. 1-gen-2007 BERNARDI, PAOLOVEIRAS BOLZANI, Leticia MariaSONZA REORDA, Matteo -
A hybrid in-field self-test technique for SoCs / Carbonara, S.; Bernardi, P.; Restifo, M.. - (2019), pp. 1-6. ((Intervento presentato al convegno 14th IEEE International Conference on Design and Technology of Integrated Systems In Nanoscale Era, DTIS 2019 tenutosi a grc nel 2019 [10.1109/DTIS.2019.8735075]. 1-gen-2019 Carbonara S.Bernardi P.Restifo M. 08735075.pdf
A machine learning-based approach to optimize repair and increase yield of embedded flash memories in automotive systems-on-chip / Manzini, A.; Inglese, P.; Caldi, L.; Cantoro, R.; Carnevale, G.; Coppetta, M.; Giltrelli, M.; Mautone, N.; Irrera, F.; Ullmann, R.; Bernardi, P.. - ELETTRONICO. - (2019), pp. 1-6. ((Intervento presentato al convegno 2019 IEEE European Test Symposium (ETS) tenutosi a Baden-Baden, Germany nel 27-31 May 2019 [10.1109/ETS.2019.8791529]. 1-gen-2019 Inglese P.Caldi L.Cantoro R.Bernardi P. + ets19-99.pdfPUBLISHED-08791529.pdf
A new Architecture to Cross-Fertilize On-line and Manufacturing Testing / Bernardi, Paolo; SONZA REORDA, Matteo. - STAMPA. - (2011), pp. 142-147. ((Intervento presentato al convegno Twentieth IEEE Asian Test Symposium (ATS 2011) tenutosi a New Delhi, India nel 20-23 November 2011. 1-gen-2011 BERNARDI, PAOLOSONZA REORDA, Matteo -
A new DFM-proactive technique / D., Appello; Bernardi, Paolo; Grosso, Michelangelo; Rebaudengo, Maurizio; SONZA REORDA, Matteo; V., Tancorre. - (2005). ((Intervento presentato al convegno SDD'05: 2nd IEEE International Workshop on Silicon Debug and Diagnosis tenutosi a Austin, Texas, USA nel 10 - 11 novembre 2005. 1-gen-2005 BERNARDI, PAOLOGROSSO, MICHELANGELOREBAUDENGO, MaurizioSONZA REORDA, Matteo + -
A novel Pattern Selection Algorithm to reduce the Test Cost of large Automotive Systems-on-Chip / Iaria, Giusy; Angione, Francesco; Bernardi, Paolo; SONZA REORDA, Matteo; Davide, Appello; Giuseppe, Garozzo; Vincenzo, Tancorre. - (2022). ((Intervento presentato al convegno Latin American Test Symposium tenutosi a Montevideo (Uruguay) nel 05-08 September 2022 [10.1109/LATS57337.2022.9936975]. 1-gen-2022 Iaria GiusyFrancesco AngionePaolo BernardiMatteo Sonza Reorda + A_novel_Pattern_Selection_Algorithm_to_reduce_the_Test_Cost_of_large_Automotive_Systems-on-Chip.pdf
A novel SBST generation technique for path-delay faults in microprocessors based on BDD analysis and evolutionary algorithm / Christou, K; MICHAEL M., K; Bernardi, Paolo; Grosso, Michelangelo; SANCHEZ SANCHEZ, EDGAR ERNESTO; SONZA REORDA, Matteo. - (2008), pp. 389-394. ((Intervento presentato al convegno 26th IEEE VLSI Test Symposium tenutosi a San Diego, CA, USA nel apr 27 - may 1 [10.1109/VTS.2008.37]. 1-gen-2008 BERNARDI, PAOLOGROSSO, MICHELANGELOSANCHEZ SANCHEZ, EDGAR ERNESTOSONZA REORDA, Matteo + -
A novel SEU injection setup for Automotive SoC / Iaria, G.; Foscale, T.; Bernardi, P.; Presicce, L.; Sonza Reorda, M.; Appello, D.; Tancorre, V.; Ugioli, R.. - (2022), pp. 623-626. ((Intervento presentato al convegno 2022 IEEE International Symposium on Industrial Electronics tenutosi a Anchorage, AK (USA) nel 01-03 June 2022 [10.1109/ISIE51582.2022.9831533]. 1-gen-2022 G. IariaT. FoscaleP. BernardiL. PresicceM. Sonza Reorda + A_novel_SEU_injection_setup_for_Automotive_SoC.pdf
A P1500-compatible programmable BIST approach for the test of embedded flash memories / Bernardi, Paolo; Rebaudengo, Maurizio; SONZA REORDA, Matteo; Violante, Massimo. - (2003), pp. 720-725. ((Intervento presentato al convegno Design, Automation and Test in Europe tenutosi a Munich (DEU) nel 7 March 2003 [10.1109/DATE.2003.1253692]. 1-gen-2003 BERNARDI, PAOLOREBAUDENGO, MaurizioSONZA REORDA, MatteoVIOLANTE, MASSIMO 1418985.pdf
A pattern ordering algorithm for reducing the size of fault dictionaries / Bernardi, Paolo; Grosso, Michelangelo; Rebaudengo, Maurizio; SONZA REORDA, Matteo. - (2006), pp. 166-171. ((Intervento presentato al convegno IEEE VLSI Test Symposium VTS tenutosi a Berkeley, CA, USA nel 30 Aprile - 4 Maggio 2006 [10.1109/VTS.2006.9]. 1-gen-2006 BERNARDI, PAOLOGROSSO, MICHELANGELOREBAUDENGO, MaurizioSONZA REORDA, Matteo -
A programmable BIST approach for the diagnosis of embedded memory cores / D., Appello; Bernardi, Paolo; A., Fudoli; Rebaudengo, Maurizio; SONZA REORDA, Matteo; V., Tancorre; Violante, Massimo. - (2003), pp. 101-102. ((Intervento presentato al convegno ETW03: 8th IEEE European Test Workshop ( tenutosi a Maastricht, Olanda nel 25-28 maggio 2003. 1-gen-2003 BERNARDI, PAOLOREBAUDENGO, MaurizioSONZA REORDA, MatteoVIOLANTE, MASSIMO + -
A Programmable BIST for DRAM Testing and Diagnosis / Grosso, Michelangelo; Bernardi, Paolo; SONZA REORDA, Matteo; Y., Zhang. - (2010). ((Intervento presentato al convegno IEEE International Test Conference tenutosi a Austin, USA nel November 2010. 1-gen-2010 GROSSO, MICHELANGELOBERNARDI, PAOLOSONZA REORDA, Matteo + -
A reliability analysis of a deep neural network / Bosio, A.; Bernardi, P.; Ruospo, A.; Sanchez, E.. - (2019), pp. 1-6. ((Intervento presentato al convegno 20th IEEE Latin American Test Symposium, LATS 2019 tenutosi a Santiago del Chile nel 2019 [10.1109/LATW.2019.8704548]. 1-gen-2019 Bernardi P.Ruospo A.Sanchez E. + -
A SBST strategy to test microprocessors' branch target buffer / Bernardi, Paolo; Ciganda, LYL MERCEDES; Grosso, Michelangelo; SANCHEZ SANCHEZ, EDGAR ERNESTO; SONZA REORDA, Matteo. - STAMPA. - (2012), pp. 306-311. ((Intervento presentato al convegno IEEE 15th International Symposium on Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems (DDECS 2012) tenutosi a Tallinn, Estonia nel April 18-20, 2012. 1-gen-2012 BERNARDI, PAOLOCIGANDA, LYL MERCEDESGROSSO, MICHELANGELOSANCHEZ SANCHEZ, EDGAR ERNESTOSONZA REORDA, Matteo -