Archivio Istituzionale della RicercaBOSIO, ALBERTO
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Design, Verification, Test, and In-Field Implications of Approximate Digital Integrated Circuits
2022 Bosio, Alberto; Di Carlo, Stefano; Girard, Patrick; Ruospo, Annachiara; Sanchez, Ernesto; Savino, Alessandro; Sekanina, Lukas; Traiola, Marcello; Vasicek, Zdenek; Virazel, Arnaud
Improving stress quality for SoC using faster-than-at-speed execution of functional programs
2017 Bernardi, Paolo; Bosio, Alberto; Di Natale, Giorgio; Guerriero, Andrea; Sanchez, Ernesto; Venini, Federico
| Citazione | Data di pubblicazione | Autori | File |
|---|---|---|---|
| Design, Verification, Test, and In-Field Implications of Approximate Digital Integrated Circuits / Bosio, A., Di Carlo, S., Girard, P., Ruospo, A., Sanchez, E., Savino, A., Sekanina, L., Traiola, M., Vasicek, Z., Virazel, A. - In: Approximate Computing Techniques From Component- to Application-Level / Bosio A., Ménard D., Sentieys O.. - STAMPA. - [s.l] : Springer Nature, 2022. - ISBN 978-3-030-94704-0. - pp. 349-385 [10.1007/978-3-030-94705-7_12] | 1-gen-2022 | Bosio, AlbertoDi Carlo, StefanoRuospo, AnnachiaraSanchez, ErnestoSavino, Alessandro + | chapter12.pdf; printed-chapter.pdf |
| Improving stress quality for SoC using faster-than-at-speed execution of functional programs / Bernardi, P., Bosio, A., Di Natale, G., Guerriero, A., Sanchez, E., Venini, F. - In: IFIP Advances in Information and Communication Technology / Bernardi, Paolo. - STAMPA. - [s.l] : Springer New York LLC, 2017. - ISBN 9783319671031. - pp. 130-151 [10.1007/978-3-319-67104-8_7] | 1-gen-2017 | Bernardi, PaoloBosio, AlbertoDi Natale, GiorgioSanchez, ErnestoVenini, Federico + | - |