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BOSIO, ALBERTO

BOSIO, ALBERTO  

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DEAR-CNN: Data-Efficient Assessment of Resiliency in Convolutional Neural Networks / Bellarmino, Nicolo'; Bosio, Alberto; Cantoro, Riccardo; Ruospo, Annachiara; Sanchez, Ernesto. - ELETTRONICO. - (2025), pp. 13-18. (Intervento presentato al convegno 28th IEEE International Symposium on Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems (DDECS) tenutosi a Lyon (FRA) nel May 5-7, 2025) [10.1109/DDECS63720.2025.11006797]. 1-gen-2025 Nicolo' BellarminoAlberto BosioRiccardo CantoroAnnachiara RuospoErnesto Sanchez 2025_DDECS_DNN_TEST_COMPACTION_CONFERENCE (1).pdf; DEAR-CNN_Data-Efficient_Assessment_of_Resiliency_in_Convolutional_Neural_Networks.pdf
Investigating on Gradient Regularization for Testing Neural Networks / Bellarmino, Nicolo; Bosio, Alberto; Cantoro, Riccardo; Ruospo, Annachiara; Sanchez, Ernesto; Squillero, Giovanni. - ELETTRONICO. - 15509:(2025), pp. 67-81. (Intervento presentato al convegno 10th International Conference on machine Learning, Optimization and Data science (LOD 2024) tenutosi a Castiglione della Pescaia (ITA) nel September 22 – 25, 2024) [10.1007/978-3-031-82484-5_6]. 1-gen-2025 Bellarmino, NicoloBosio, AlbertoCantoro, RiccardoRuospo, AnnachiaraSanchez, ErnestoSquillero, Giovanni 2024_LOD_GRADIENT_PENALIZATION.pdf; 978-3-031-82484-5_6.pdf
Special Session: Reliability Assessment Recipes for DNN Accelerators / Ahmadilivani, Mohammad Hasan; Bosio, Alberto; Deveautour, Bastien; Santos, Fernando Fernandes Dos; Guerrero-Balaguera, Juan-David; Jenihhin, Maksim; Kritikakou, Angeliki; Limas Sierra, Robert; Pappalardo, Salvatore; Raik, Jaan; Rodriguez Condia, Josie E.; Sonza Reorda, Matteo; Taheri, Mahdi; Traiola, Marcello. - ELETTRONICO. - (2024). (Intervento presentato al convegno 2024 IEEE 42nd VLSI Test Symposium (VTS) tenutosi a Tempe (USA) nel 22-24 April 2024) [10.1109/vts60656.2024.10538707]. 1-gen-2024 Bosio, AlbertoGuerrero-Balaguera, Juan-DavidLimas Sierra, RobertRodriguez Condia, Josie E.Sonza Reorda, Matteo + Special_Session_Reliability_Assessment_Recipes_for_DNN_Accelerators.pdf
Special Session: Approximation and Fault Resiliency of DNN Accelerators / Ahmadilivani, Mh; Barbareschi, M; Barone, S; Bosio, A; Daneshtalab, M; Della Torca, S; Gavarini, G; Jenihhin, M; Raik, J; Ruospo, A; Sanchez, E; Taheri, M. - (2023), pp. 1-10. (Intervento presentato al convegno 2023 IEEE 41st VLSI Test Symposium (VTS) tenutosi a San Diego (USA) nel 24-26 April 2023) [10.1109/VTS56346.2023.10140043]. 1-gen-2023 Barone, SBosio, AGavarini, GRuospo, ASanchez, E + Special_Session_Approximation_and_Fault_Resiliency_of_DNN_Accelerators.pdf
Cross-layer soft-error resilience analysis of computing systems / Bosio, A.; Canal, R.; Di Carlo, S.; Gizopoulos, D.; Savino, A.. - STAMPA. - (2020), pp. 79-79. (Intervento presentato al convegno 50th Annual IEEE/IFIP International Conference on Dependable Systems and Networks: Supplemental Volume, DSN-S 2020 tenutosi a Valencia, Spain, Spain nel 29 June-2 July 2020) [10.1109/DSN-S50200.2020.00042]. 1-gen-2020 Bosio A.Di Carlo S.Savino A. + 09159134.pdf; one_page_tutorial.pdf
Design, Verification, Test and In-Field Implications of Approximate Computing Systems / Bosio, A.; Di Carlo, S.; Girard, P.; Sanchez, E.; Savino, A.; Sekanina, L.; Traiola, M.; Vasicek, Z.; Virazel, A.. - STAMPA. - (2020), pp. 1-10. (Intervento presentato al convegno 2020 IEEE European Test Symposium (ETS) tenutosi a Tallinn, Estonia, Estonia nel 25-29 May 2020) [10.1109/ETS48528.2020.9131557]. 1-gen-2020 Bosio, A.Di Carlo, S.Sanchez, E.Savino, A. + 09131557.pdf; paper.pdf
On the Analysis of Real-time Operating System Reliability in Embedded Systems / Mamone, Dario; Bosio, Alberto; Savino, Alessandro; Hamdioui, Said; Rebaudengo, Maurizio. - STAMPA. - (2020), pp. 1-6. (Intervento presentato al convegno 33rd IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems tenutosi a Frascati, Italy, Italy nel 19-21 Oct. 2020) [10.1109/DFT50435.2020.9250861]. 1-gen-2020 Bosio, AlbertoSavino, AlessandroRebaudengo, Maurizio + 09250861.pdf; camera_ready.pdf
An Effective Fault-Injection Framework for Memory Reliability Enhancement Perspectives / Harcha, Ghita; Girard, Patrick; Virazel, Arnaud; Bosio, Alberto; Bernardi, Paolo. - (2017). (Intervento presentato al convegno Design &Technology of Integrated Systems in Nanoscale Era). 1-gen-2017 BOSIO, ALBERTOBERNARDI, PAOLO + -
An effective approach for functional test programs compaction / Touati, A.; Bosio, Alberto; Girard, P.; Virazel, A.; Bernardi, Paolo; SONZA REORDA, Matteo. - STAMPA. - (2016), pp. 1-6. (Intervento presentato al convegno 19th IEEE International Symposium on Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems, DDECS 2016 tenutosi a svk nel 2016) [10.1109/DDECS.2016.7482466]. 1-gen-2016 BOSIO, ALBERTOBERNARDI, PAOLOSONZA REORDA, Matteo + -
A Functional Verification based Fault Injection Environment / Benso, Alfredo; Bosio, Alberto; DI CARLO, Stefano; Mariani, R.. - STAMPA. - (2007), pp. 114-122. (Intervento presentato al convegno IEEE 22nd International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI Systems (DFTS) tenutosi a Roma, IT nel 26-28 Sept. 2007) [10.1109/DFT.2007.31]. 1-gen-2007 BENSO, AlfredoBOSIO, ALBERTODI CARLO, STEFANO + 2007-DFT-FaultSim.pdf
Automating the IEEE std. 1500 compliance verification for embedded cores / Benso, Alfredo; DI CARLO, Stefano; Prinetto, Paolo Ernesto; Bosio, Alberto. - STAMPA. - (2007), pp. 171-178. (Intervento presentato al convegno IEEE International High Level Design Validation and Test Workshop (HLDVT) tenutosi a Irvine (CA), USA nel 7-9 Nov. 2007) [10.1109/HLDVT.2007.4392810]. 1-gen-2007 BENSO, AlfredoDI CARLO, STEFANOPRINETTO, Paolo ErnestoBOSIO, ALBERTO 2007-HLDVT-IEEE1500.pdf
A 22n March Test for Realistic Static Linked Faults in SRAMs / Benso, Alfredo; Bosio, Alberto; DI CARLO, Stefano; DI NATALE, Giorgio; Prinetto, Paolo Ernesto. - STAMPA. - (2006), pp. 49-54. (Intervento presentato al convegno IEEE 11th European Test Symposium (ETS) tenutosi a SouthAmpton, UK nel 21-24 May 2006) [10.1109/ETS.2006.2]. 1-gen-2006 BENSO, AlfredoBOSIO, ALBERTODI CARLO, STEFANODI NATALE, GiorgioPRINETTO, Paolo Ernesto 2006-ETS-March.pdf
A Black-Box-Oriented Test Methodology / Benso, Alfredo; Bosio, Alberto; Prinetto, Paolo Ernesto; Savino, Alessandro. - STAMPA. - (2006), pp. 11-15. (Intervento presentato al convegno IEEE East-West Design & Test Workshop (EWDTW06) tenutosi a Sochi (Russia) nel Sept. 15-19, 2006). 1-gen-2006 BENSO, AlfredoBOSIO, ALBERTOPRINETTO, Paolo ErnestoSAVINO, ALESSANDRO -
A tool for teaching memory testing based on BIST / Fischerova, M.; Pikula, T.; Simlastik, M.; Bosio, Alberto; DI CARLO, Stefano; DI NATALE, Giorgio. - STAMPA. - (2006), pp. 187-190. (Intervento presentato al convegno IEEE International Biennal Baltic Electronics Conference (BEC) tenutosi a Tallin, EE nel 2-4 Oct. 2006) [10.1109/BEC.2006.311094]. 1-gen-2006 BOSIO, ALBERTODI CARLO, STEFANODI NATALE, Giorgio + 2006-BEC-MemoryApplets-AuthorVersion.pdf
A Unique March Test Algorithm for the Wide Spread of Realistic Memory Faults in SRAMs / Benso, Alfredo; Bosio, Alberto; DI CARLO, Stefano; DI NATALE, Giorgio; Prinetto, Paolo Ernesto. - STAMPA. - (2006), pp. 155-156. (Intervento presentato al convegno IEEE 9th Workshop on Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems (DDECS) tenutosi a Prague, CZ nel 18-21 Apr. 2006) [10.1109/DDECS.2006.1649602]. 1-gen-2006 BENSO, AlfredoBOSIO, ALBERTODI CARLO, STEFANODI NATALE, GiorgioPRINETTO, Paolo Ernesto 2006-DDECS-MarchTest.pdf
ATPG for Dynamic Burn-In Test in Full-Scan Circuits / Benso, Alfredo; Bosio, Alberto; DI CARLO, Stefano; DI NATALE, Giorgio; Prinetto, Paolo Ernesto. - STAMPA. - (2006), pp. 75-82. (Intervento presentato al convegno IEEE 15th Asian Test Symposium (ATS) tenutosi a Fukuoka, JP nel 20-23 Nov. 2006) [10.1109/ATS.2006.260996]. 1-gen-2006 BENSO, AlfredoBOSIO, ALBERTODI CARLO, STEFANODI NATALE, GiorgioPRINETTO, Paolo Ernesto 2006-ATS-BurnIn.pdf
Automatic March tests generation for multi-port SRAMs / Benso, Alfredo; Bosio, Alberto; DI CARLO, Stefano; DI NATALE, Giorgio; Prinetto, Paolo Ernesto. - STAMPA. - (2006), pp. 385-392. (Intervento presentato al convegno IEEE 3rd International Workshop on Electronic Design, Test and Applications (DELTA) tenutosi a Kuala Lumpur, MY nel 17-19 Jan. 2006) [10.1109/DELTA.2006.17]. 1-gen-2006 BENSO, AlfredoBOSIO, ALBERTODI CARLO, STEFANODI NATALE, GiorgioPRINETTO, Paolo Ernesto 2006-DELTA-Multiport.pdf
Automatic March Tests Generations for Static Linked Faults in SRAMs / Benso, Alfredo; Bosio, Alberto; DI CARLO, Stefano; DI NATALE, Giorgio; Prinetto, Paolo Ernesto. - STAMPA. - 1:(2006), pp. 1-6. (Intervento presentato al convegno Design, Automation and Test in Europe, Conference and Exhibition (DATE) tenutosi a Munich, DE nel 6-10 Mar. 2006) [10.1109/DATE.2006.244097]. 1-gen-2006 BENSO, AlfredoBOSIO, ALBERTODI CARLO, STEFANODI NATALE, GiorgioPRINETTO, Paolo Ernesto 2006-DATE-MarchTest.pdf
Interactive Educational Tool for Memory Testing / Bosio, Alberto; DI CARLO, Stefano; DI NATALE, Giorgio; Fisherova, M.; Pikula, T.; Simlastik, M.. - STAMPA. - (2006), pp. 100-103. (Intervento presentato al convegno 6th International Workshop on Microelectronic Education tenutosi a Stockholm, SE nel 8-9 Jun. 2006). 1-gen-2006 BOSIO, ALBERTODI CARLO, STEFANODI NATALE, Giorgio + 2006-EWME-MemApplet-AuthorVersion.pdf
Memory Fault Simulator for Static-Linked Faults / Benso, Alfredo; Bosio, Alberto; DI CARLO, Stefano; DI NATALE, Giorgio; Prinetto, Paolo Ernesto. - STAMPA. - (2006), pp. 31-36. (Intervento presentato al convegno IEEE 15th AsianTest Symposium (ATS) tenutosi a Fukuoka, JP nel 20-23 Nov. 2006) [10.1109/ATS.2006.260989]. 1-gen-2006 BENSO, AlfredoBOSIO, ALBERTODI CARLO, STEFANODI NATALE, GiorgioPRINETTO, Paolo Ernesto 2006-ATS-MemorySim.pdf; 2006-ATS-MemorySim-AuthorVersion.pdf