Archivio Istituzionale della RicercaAn effective approach for functional test programs compaction / Touati, A., Bosio, A., Girard, P., Virazel, A., Bernardi, P., SONZA REORDA, M.. - STAMPA. - (2016), pp. 1-6. (19th IEEE International Symposium on Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems, DDECS 2016 svk 2016) [10.1109/DDECS.2016.7482466].
An effective approach for functional test programs compaction
BOSIO, ALBERTO;BERNARDI, PAOLO;SONZA REORDA, Matteo
2016
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https://hdl.handle.net/11583/2650513
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