Archivio Istituzionale della RicercaBOSIO, ALBERTO
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Reliability of Deep Neural Networks: Impact and Open Issues
2025 Ruospo, A.; Pappalardo, S.; Turco, V.; Bosio, A.; Sanchez, E.
Microprocessor Testing: Functional Meets Structural Test
2017 Touati, A.; Girard, P.; Virazel, A.; Bosio, Alberto; Bernardi, Paolo; SONZA REORDA, Matteo
Are IEEE 1500 compliant cores really compliant to the standard?
2009 Benso, Alfredo; Bosio, Alberto; DI CARLO, Stefano; Prinetto, Paolo Ernesto
March Test Generation Revealed
2008 Benso, Alfredo; Bosio, Alberto; DI CARLO, Stefano; DI NATALE, Giorgio; Prinetto, Paolo Ernesto
March AB, a State-of-the-Art March Test for Realistic Static Linked Faults and Dynamic Faults in SRAMs
2007 Bosio, Alberto; DI CARLO, Stefano; DI NATALE, Giorgio; Prinetto, Paolo Ernesto
| Citazione | Data di pubblicazione | Autori | File |
|---|---|---|---|
| Reliability of Deep Neural Networks: Impact and Open Issues / Ruospo, A.; Pappalardo, S.; Turco, V.; Bosio, A.; Sanchez, E.. - In: IEEE DESIGN & TEST. - ISSN 2168-2356. - ELETTRONICO. - 42:3(2025), pp. 14-25. [10.1109/MDAT.2025.3544125] | 1-gen-2025 | Ruospo A.Turco V.Bosio A.Sanchez E. + | DesignAndTest___TPTR_Special_Issue.pdf; Reliability_of_Deep_Neural_Networks_Impact_and_Open_Issues.pdf |
| Microprocessor Testing: Functional Meets Structural Test / Touati, A.; Girard, P.; Virazel, A.; Bosio, Alberto; Bernardi, Paolo; SONZA REORDA, Matteo. - In: JOURNAL OF CIRCUITS, SYSTEMS, AND COMPUTERS. - ISSN 0218-1266. - 26:8(2017), pp. 1-18. [10.1142/S0218126617400072] | 1-gen-2017 | BOSIO, ALBERTOBERNARDI, PAOLOSONZA REORDA, MATTEO + | - |
| Are IEEE 1500 compliant cores really compliant to the standard? / Benso, Alfredo; Bosio, Alberto; DI CARLO, Stefano; Prinetto, Paolo Ernesto. - In: IEEE DESIGN & TEST OF COMPUTERS. - ISSN 0740-7475. - STAMPA. - 26:3(2009), pp. 16-24. [10.1109/MDT.2009.46] | 1-gen-2009 | BENSO, AlfredoBOSIO, ALBERTODI CARLO, STEFANOPRINETTO, Paolo Ernesto | 2009-MTD-IEEE1500.pdf |
| March Test Generation Revealed / Benso, Alfredo; Bosio, Alberto; DI CARLO, Stefano; DI NATALE, Giorgio; Prinetto, Paolo Ernesto. - In: IEEE TRANSACTIONS ON COMPUTERS. - ISSN 0018-9340. - STAMPA. - 57:12(2008), pp. 1704-1713. [10.1109/TC.2008.105] | 1-gen-2008 | BENSO, AlfredoBOSIO, ALBERTODI CARLO, STEFANODI NATALE, GiorgioPRINETTO, Paolo Ernesto | 2008-TC-MarchTest.pdf |
| March AB, a State-of-the-Art March Test for Realistic Static Linked Faults and Dynamic Faults in SRAMs / Bosio, Alberto; DI CARLO, Stefano; DI NATALE, Giorgio; Prinetto, Paolo Ernesto. - In: IET COMPUTERS & DIGITAL TECHNIQUES. - ISSN 1751-8601. - STAMPA. - 1:3(2007), pp. 237-245. [10.1049/iet-cdt:20060137] | 1-gen-2007 | BOSIO, ALBERTODI CARLO, STEFANODI NATALE, GiorgioPRINETTO, Paolo Ernesto | 2007-IET-CDT-MarchAB-AuthorVersion.pdf |