BELLARMINO, NICOLO'

BELLARMINO, NICOLO'  

Dipartimento di Automatica e Informatica  

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Transfer Learning in MCU Performance Screening / Bellarmino, Nicolo; Cantoro, Riccardo; Huch, Martin; Kilian, Tobias; Schlichtmann, Ulf; Squillero, Giovanni. - ELETTRONICO. - (In corso di stampa). (Intervento presentato al convegno IEEE International Test Conference (ITC 2023) tenutosi a Anaheim, CA 92802, Stati Uniti nel 8-13 Ottobre 2023). In corso di stampa Bellarmino, NicoloCantoro, RiccardoSquillero, Giovanni + 2023_XXX_Transfer_Learning_POSTER (5).pdf
Enabling Inter-Product Transfer Learning on MCU Performance Screening / Bellarmino, Nicolo; Cantoro, Riccardo; Huch, Martin; Kilian, Tobias; Schlichtmann, Ulf; Squillero, Giovanni. - ELETTRONICO. - (2023), pp. 1-6. (Intervento presentato al convegno IEEE 32nd Asian Test Symposium tenutosi a Beijing (China) nel 14-17 October 2023) [10.1109/ATS59501.2023.10317992]. 1-gen-2023 Bellarmino, NicoloCantoro, RiccardoSquillero, Giovanni + 2023_ATS_Transfer_Learning (4) (1).pdfEnabling_Inter-Product_Transfer_Learning_on_MCU_Performance_Screening.pdf
Feature Selection for Cost Reduction in MCU Performance Screening / Bellarmino, Nicolo'; Cantoro, Riccardo; Huch, Martin; Kilian, Tobias; Schlichtmann, Ulf; Squillero, Giovanni. - (2023), pp. 1-6. (Intervento presentato al convegno 24th IEEE Latin-American Test Symposium (LATS) tenutosi a Veracruz (MEX) nel 21-24 Marzo 2023) [10.1109/LATS58125.2023.10154495]. 1-gen-2023 Bellarmino, Nicolo'Cantoro, RiccardoSquillero, Giovanni + 2023_LATS_Feature_Selection.pdfFeature_Selection_for_Cost_Reduction_In_MCU_Performance_Screening.pdf
Machine Learning for Microcontroller Performance Screening / Bellarmino, Nicolo'. - (2023). (Intervento presentato al convegno 2023 IEEE European Test Symposium tenutosi a Venezia, (IT) nel 22-26 Maggio 2023). 1-gen-2023 Nicolo' Bellarmino 2023_ETS_PhD_Forum.pdf
Semi-Supervised Deep Learning for Microcontroller Performance Screening / Bellarmino, Nicolo; Cantoro, Riccardo; Huch, Martin; Kilian, Tobias; Schlichtmann, Ulf; Squillero, Giovanni. - (2023), pp. 1-6. (Intervento presentato al convegno 2023 IEEE European Test Symposium (ETS) tenutosi a Venezia (IT) nel 22-26 May 2023) [10.1109/ETS56758.2023.10174083]. 1-gen-2023 Bellarmino, NicoloCantoro, RiccardoSquillero, Giovanni + 2023_ETS_Semi_Supersived_Learning (2).pdfSemi-Supervised_Deep_Learning_for_Microcontroller_Performance_Screening.pdf
U-FLEX: Unsupervised Feature Learning with Evolutionary eXploration / Bellarmino, Nicolo’; Cantoro, Riccardo; Squillero, Giovanni. - ELETTRONICO. - (2023). (Intervento presentato al convegno The 9th International Conference on Machine Learning, Optimization, and Data Science (LOD 2023) tenutosi a Grasmere, Lake District, England – UK nel September 22 – 26, 2023). 1-gen-2023 Nicolo’ BellarminoRiccardo CantoroGiovanni Squillero 2023_LOD_Genetic_Feature_Selection (2).pdf
Microcontroller Performance Screening: Optimizing the Characterization in the Presence of Anomalous and Noisy Data / Bellarmino, Nicolo'; Cantoro, Riccardo; Huch, Martin; Kilian, Tobias; Schlichtmann, Ulf; Squillero, Giovanni. - (2022). (Intervento presentato al convegno IEEE International Symposium on On-Line Testing and Robust System 2022 tenutosi a Torino nel 12-14 September 2022) [10.1109/IOLTS56730.2022.9897769]. 1-gen-2022 Bellarmino,Nicolo'Cantoro,RiccardoSquillero,Giovanni + Microcontroller_Performance_Screening_Optimizing_the_Characterization_in_the_Presence_of_Anomalous_and_Noisy_Data.pdf2022_IOLTS_Outlier_Detection_.pdf
Test, Reliability and Functional Safety trends for Automotive System-on-Chip / Angione, F.; Appello, D.; Aribido, J.; Bellarmino, N.; Bernardi, P.; Cantoro, R.; de Sio, C.; Foscale, T.; Gavarini, G.; Huch, M.; Kilian, T; Mariani, R.; Martone, R.; Ruospo, A.; Sanchez, E.; Schlichtmann, U.; Squillero, G.; Sonza Reorda, M.; Sterpone, L.; Tancorre, V.; Ugioli, R.. - (2022). (Intervento presentato al convegno IEEE European Test Symposium). 1-gen-2022 F. AngioneN. BellarminoP. BernardiR. CantoroC. de SioT. FoscaleG. GavariniA. RuospoE. SanchezG. SquilleroM. Sonza ReordaL. Sterpone + 01_ETS_special_session_ABSTRACT.pdf
Test, Reliability and Functional Safety Trends for Automotive System-on-Chip / Angione, F.; Appello, D.; Aribido, J.; Athavale, J.; Bellarmino, N.; Bernardi, P.; Cantoro, R.; De Sio, C.; Foscale, T.; Gavarini, G.; Guerrero, J.; Huch, M.; Iaria, G.; Kilian, T.; Mariani, R.; Martone, R.; Ruospo, A.; Sanchez, E.; Schlichtmann, U.; Squillero, G.; Sonza Reorda, M.; Sterpone, L.; Tancorre, V.; Ugioli, R.. - (2022), pp. 1-10. (Intervento presentato al convegno 2022 IEEE European Test Symposium (ETS) tenutosi a Barcelona (Spain) nel 23-27 May 2022) [10.1109/ETS54262.2022.9810388]. 1-gen-2022 F. AngioneN. BellarminoP. BernardiR. CantoroC. De SioT. FoscaleG. GavariniJ. GuerreroG. IariaR. MarianiA. RuospoG. SquilleroM. Sonza ReordaL. Sterpone + 2022_ETS_SpecialSession.pdfTest_Reliability_and_Functional_Safety_Trends_for_Automotive_System-on-Chip.pdf
Exploiting Active Learning for Microcontroller Performance Prediction / Bellarmino, Nicolo; Cantoro, Riccardo; Huch, Martin; Kilian, Tobias; Martone, Raffaele; Schlichtmann, Ulf; Squillero, Giovanni. - ELETTRONICO. - (2021), pp. 1-4. (Intervento presentato al convegno 2021 IEEE European Test Symposium nel 24-28 May 2021) [10.1109/ETS50041.2021.9465472]. 1-gen-2021 Bellarmino, NicoloCantoro, RiccardoSquillero, Giovanni + ETS21___Speed_Monitors__Camera_ready.pdfExploiting_Active_Learning_for_Microcontroller_Performance_Prediction.pdf