Embedded Feature Selection in MCU Performance Screening / Bellarmino, Nicolo'; Cantoro, Riccardo; Huch, Martin; Kilian, Tobias; Schlichtmann, Ulf; Squillero, Giovanni. - (In corso di stampa). (Intervento presentato al convegno IEEE 2nd International conference on Design, Test & Technology of Integrated Systems tenutosi a Aix-en-Provence (FRA) nel October 14th -16th 2024).
Embedded Feature Selection in MCU Performance Screening
Nicolo' Bellarmino;Riccardo Cantoro;Giovanni Squillero
In corso di stampa
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https://hdl.handle.net/11583/2992731