Feature Selection for Cost Reduction in MCU Performance Screening / Bellarmino, Nicolo'; Cantoro, Riccardo; Huch, Martin; Kilian, Tobias; Schlichtmann, Ulf; Squillero, Giovanni. - (In corso di stampa). ((Intervento presentato al convegno 24th IEEE Latin-American Test Symposium tenutosi a Veracruz, (MEX) nel 21-24 Marzo 2023.
Feature Selection for Cost Reduction in MCU Performance Screening
Bellarmino, Nicolo';Cantoro, Riccardo;Squillero, Giovanni
In corso di stampa
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