Feature Selection for Cost Reduction in MCU Performance Screening / Bellarmino, Nicolo'; Cantoro, Riccardo; Huch, Martin; Kilian, Tobias; Schlichtmann, Ulf; Squillero, Giovanni. - (In corso di stampa). ((Intervento presentato al convegno 24th IEEE Latin-American Test Symposium tenutosi a Veracruz, (MEX) nel 21-24 Marzo 2023.

Feature Selection for Cost Reduction in MCU Performance Screening

Bellarmino, Nicolo';Cantoro, Riccardo;Squillero, Giovanni
In corso di stampa

In corso di stampa
File in questo prodotto:
File Dimensione Formato  
2023_LATS_Feature_Selection.pdf

accesso aperto

Tipologia: 2. Post-print / Author's Accepted Manuscript
Licenza: PUBBLICO - Tutti i diritti riservati
Dimensione 318.36 kB
Formato Adobe PDF
318.36 kB Adobe PDF Visualizza/Apri
Pubblicazioni consigliate

I documenti in IRIS sono protetti da copyright e tutti i diritti sono riservati, salvo diversa indicazione.

Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento: https://hdl.handle.net/11583/2976251