Archivio Istituzionale della RicercaDevice-Aware Test for Threshold Voltage Shifting in FeFET / Wang, Changhao; Kolahimahmoudi, Nima; Bellarmino, Nicolo; Cantoro, Riccardo; Yuan, Sicong; Xun, Hanzhi; Chen, Danyang; Yin, Chujun; Taouil, Mottaqiallah; Fieback, Moritz; Li, Xiuyan; Wang, Lin; Li, Chaobo; Hamdioui, Said. - (2025). (Intervento presentato al convegno Titolo volume non avvalorato).
Device-Aware Test for Threshold Voltage Shifting in FeFET
Wang, Changhao;Kolahimahmoudi, Nima;Bellarmino, Nicolo;Cantoro, Riccardo;Hamdioui, Said
2025
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https://hdl.handle.net/11583/3003708