GROSSO, MICHELANGELO

GROSSO, MICHELANGELO  

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A Deterministic Methodology for Identifying Functionally Untestable Path-Delay Faults in Microprocessor Cores / Bernardi, Paolo; Grosso, Michelangelo; SANCHEZ SANCHEZ, EDGAR ERNESTO; SONZA REORDA, Matteo. - (2009), pp. 103-108. ((Intervento presentato al convegno 9th International Workshop on Microprocessor Test and Verification (MTV'08) tenutosi a Austin, TX (U.S.A.) nel 8-10 Dic., 2008 [10.1109/MTV.2008.9]. 1-gen-2009 BERNARDI, PAOLOGROSSO, MICHELANGELOSANCHEZ SANCHEZ, EDGAR ERNESTOSONZA REORDA, Matteo -
A fault grading methodology for software-based self-test programs in systems-on-chip / Ballan, O.; Bernardi, Paolo; Fontana, G.; Grosso, Michelangelo; SANCHEZ SANCHEZ, EDGAR ERNESTO. - (2010), pp. 43-46. ((Intervento presentato al convegno International Workshop on Microprocessor Test and Verification tenutosi a Austin (TX), USA nel Dec. 13-15, 2010 [10.1109/MTV.2010.16]. 1-gen-2010 BERNARDI, PAOLOGROSSO, MICHELANGELOSANCHEZ SANCHEZ, EDGAR ERNESTO + -
A Hybrid Approach for Detection and Correction of Transient Faults in SoCs / Bernardi, Paolo; Grosso, Michelangelo; Bolzani Poehls, L.; SONZA REORDA, Matteo. - In: IEEE TRANSACTIONS ON DEPENDABLE AND SECURE COMPUTING. - ISSN 1545-5971. - STAMPA. - Volume: 7 , Issue: 4:(2010), pp. 439-445. [10.1109/TDSC.2010.33] 1-gen-2010 BERNARDI, PAOLOGROSSO, MICHELANGELOSONZA REORDA, Matteo + 05551155.pdf
A Low-cost Emulation System for Fast Co-verification and Debug / LAGOS BENITES, JORGE LUIS; Grosso, Michelangelo; Sterpone, Luca; SONZA REORDA, Matteo; Audisio, G.; Pipponzi, M.; Sabatini, M.. - (2011), pp. 212-212. ((Intervento presentato al convegno IEEE European Test Symposium tenutosi a Trondheim (N) nel May 23-27, 2011 [10.1109/ETS.2011.32]. 1-gen-2011 LAGOS BENITES, JORGE LUISGROSSO, MICHELANGELOSTERPONE, LucaSONZA REORDA, Matteo + 2413925-mod.pdf
A new DFM-proactive technique / D., Appello; Bernardi, Paolo; Grosso, Michelangelo; Rebaudengo, Maurizio; SONZA REORDA, Matteo; V., Tancorre. - (2005). ((Intervento presentato al convegno SDD'05: 2nd IEEE International Workshop on Silicon Debug and Diagnosis tenutosi a Austin, Texas, USA nel 10 - 11 novembre 2005. 1-gen-2005 BERNARDI, PAOLOGROSSO, MICHELANGELOREBAUDENGO, MaurizioSONZA REORDA, Matteo + -
A novel SBST generation technique for path-delay faults in microprocessors based on BDD analysis and evolutionary algorithm / Christou, K; MICHAEL M., K; Bernardi, Paolo; Grosso, Michelangelo; SANCHEZ SANCHEZ, EDGAR ERNESTO; SONZA REORDA, Matteo. - (2008), pp. 389-394. ((Intervento presentato al convegno 26th IEEE VLSI Test Symposium tenutosi a San Diego, CA, USA nel apr 27 - may 1 [10.1109/VTS.2008.37]. 1-gen-2008 BERNARDI, PAOLOGROSSO, MICHELANGELOSANCHEZ SANCHEZ, EDGAR ERNESTOSONZA REORDA, Matteo + -
A pattern ordering algorithm for reducing the size of fault dictionaries / Bernardi, Paolo; Grosso, Michelangelo; Rebaudengo, Maurizio; SONZA REORDA, Matteo. - (2006), pp. 166-171. ((Intervento presentato al convegno IEEE VLSI Test Symposium VTS tenutosi a Berkeley, CA, USA nel 30 Aprile - 4 Maggio 2006 [10.1109/VTS.2006.9]. 1-gen-2006 BERNARDI, PAOLOGROSSO, MICHELANGELOREBAUDENGO, MaurizioSONZA REORDA, Matteo -
A preliminary test on the feasibility of locating an iron restoration pin in a statue by measuring the TMF anomaly with a triaxial MEMS magnetometer / Sambuelli, Luigi; Gallinaro, S.; Grosso, Michelangelo. - STAMPA. - (2013), pp. 169-172. ((Intervento presentato al convegno Atti del 32° Convegno Nazionale GNGTS tenutosi a Trieste nel 19-21 Novembre 2013. 1-gen-2013 SAMBUELLI, LuigiGROSSO, MICHELANGELO + 13_2013 Sambuelli et al mems pin GNGTS.pdf
A Programmable BIST for DRAM Testing and Diagnosis / Grosso, Michelangelo; Bernardi, Paolo; SONZA REORDA, Matteo; Y., Zhang. - (2010). ((Intervento presentato al convegno IEEE International Test Conference tenutosi a Austin, USA nel November 2010. 1-gen-2010 GROSSO, MICHELANGELOBERNARDI, PAOLOSONZA REORDA, Matteo + -
A SBST strategy to test microprocessors' branch target buffer / Bernardi, Paolo; Ciganda, LYL MERCEDES; Grosso, Michelangelo; SANCHEZ SANCHEZ, EDGAR ERNESTO; SONZA REORDA, Matteo. - STAMPA. - (2012), pp. 306-311. ((Intervento presentato al convegno IEEE 15th International Symposium on Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems (DDECS 2012) tenutosi a Tallinn, Estonia nel April 18-20, 2012. 1-gen-2012 BERNARDI, PAOLOCIGANDA, LYL MERCEDESGROSSO, MICHELANGELOSANCHEZ SANCHEZ, EDGAR ERNESTOSONZA REORDA, Matteo -
A Software-based self-test methodology for system peripherals / Grosso, Michelangelo; W. J. Perez, H.; Ravotto, Danilo; SANCHEZ SANCHEZ, EDGAR ERNESTO; SONZA REORDA, Matteo; J., Velasco Medina. - STAMPA. - (2010), pp. 195-200. ((Intervento presentato al convegno 15th IEEE European Test Symposium (ETS) tenutosi a Prague (Czech Republic) nel May 2010. 1-gen-2010 GROSSO, MICHELANGELORAVOTTO, DANILOSANCHEZ SANCHEZ, EDGAR ERNESTOSONZA REORDA, Matteo + -
A System-layer Infrastructure for SoC Diagnosis / Bernardi, Paolo; Grosso, Michelangelo; Rebaudengo, Maurizio; SONZA REORDA, Matteo. - In: JOURNAL OF ELECTRONIC TESTING. - ISSN 0923-8174. - 23:(2007), pp. 389-404. 1-gen-2007 BERNARDI, PAOLOGROSSO, MICHELANGELOREBAUDENGO, MaurizioSONZA REORDA, Matteo -
A Tool for Supporting and Automating the Test of Complex System-on-Chips / Bernardi, Paolo; Grosso, Michelangelo; Rebaudengo, Maurizio; SONZA REORDA, Matteo; D., Appello; R., Mattiuzzo; V., Tancorre. - (2005). ((Intervento presentato al convegno ITSW 2005: IEEE International Test Synthesis Workshop tenutosi a San Antonio, Texas, USA nel 11-12 aprile 2005. 1-gen-2005 BERNARDI, PAOLOGROSSO, MICHELANGELOREBAUDENGO, MaurizioSONZA REORDA, Matteo + -
Addressing the Smart Systems Design Challenge: The SMAC Platform / Bombieri, N.; Drogoudis, D.; Gangemi, G.; Gillon, R.; Grosso, Michelangelo; Macii, Enrico; Poncino, Massimo; Rinaudo, S.. - In: MICROPROCESSORS AND MICROSYSTEMS. - ISSN 0141-9331. - 39:8(2015), pp. 1158-1173. [10.1016/j.micpro.2015.05.013] 1-gen-2015 GROSSO, MICHELANGELOMACII, EnricoPONCINO, MASSIMO + MICPRO-S-14-00324.pdfMICPRO-S-14-00324.pdf
Advanced Speeding-up Techniques for SEU Sensitivity Assessment / Grosso, Michelangelo; GUZMAN MIRANDA, H.. - (2010), pp. 1995-2000. ((Intervento presentato al convegno IEEE International Symposium on Industrial Electonics tenutosi a Bari, Italia nel 4-7 luglio 2010 [10.1109/ISIE.2010.5637490]. 1-gen-2010 GROSSO, MICHELANGELO + -
An adaptive tester architecture for volume diagnosis / Bernardi, Paolo; Grosso, Michelangelo; SONZA REORDA, Matteo. - STAMPA. - (2010), pp. 227-232. ((Intervento presentato al convegno 15th IEEE European Test Symposium (ETS) tenutosi a Prague (Czech Republic) nel May 2010. 1-gen-2010 BERNARDI, PAOLOGROSSO, MICHELANGELOSONZA REORDA, Matteo -
An Automatic Functional Stress Pattern Generation Technique Suitable for SoC Reliability Characterization / Appello, D; Bernardi, Paolo; Bruno, M; Cagliesi, R; Giancarlini, M; Grosso, Michelangelo; SANCHEZ SANCHEZ, EDGAR ERNESTO; SONZA REORDA, Matteo. - (2008). ((Intervento presentato al convegno 2nd IEEE International Workshop on Automated Test Equipment: Vision ATE 2020. 1-gen-2008 BERNARDI, PAOLOGROSSO, MICHELANGELOSANCHEZ SANCHEZ, EDGAR ERNESTOSONZA REORDA, Matteo + -
An Effective Approach for the Diagnosis of Transition-Delay Faults in SoCs, based on SBST and Scan Chains / LAGOS BENITES, J; Appello, D; Bernardi, Paolo; Grosso, Michelangelo; Ravotto, Danilo; SANCHEZ SANCHEZ, EDGAR ERNESTO; SONZA REORDA, Matteo. - (2007), pp. 291-299. ((Intervento presentato al convegno DFT2007, 22th IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI Systems. 1-gen-2007 BERNARDI, PAOLOGROSSO, MICHELANGELORAVOTTO, DANILOSANCHEZ SANCHEZ, EDGAR ERNESTOSONZA REORDA, Matteo + -
An FPGA-emulation-based platform for characterization of digital baseband communication systems / LAGOS BENITES, JORGE LUIS; Grosso, Michelangelo; SONZA REORDA, Matteo; Audisio, G.; Pipponzi, M.; Sabatini, M.; Avantaggiati, V. A.. - (2011), pp. 391-398. ((Intervento presentato al convegno International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems tenutosi a Vancouver, B.C. (CA) nel Oct. 3-5, 2011 [10.1109/DFT.2011.1]. 1-gen-2011 LAGOS BENITES, JORGE LUISGROSSO, MICHELANGELOSONZA REORDA, Matteo + 2443375-mod.pdf
An I-IP for the Debug of Microprocessor Cores / D., Appello; Grosso, Michelangelo; Rebaudengo, Maurizio; SONZA REORDA, Matteo. - (2005). ((Intervento presentato al convegno DCIS05: XX Conference on Design of Circuits and Integrated Systems tenutosi a Lisbona, Portogallo nel 23-25 Novembre 2005. 1-gen-2005 GROSSO, MICHELANGELOREBAUDENGO, MaurizioSONZA REORDA, Matteo + -