GROSSO, MICHELANGELO

GROSSO, MICHELANGELO  

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Targeting different defect-oriented fault models in IC testing: an experimental approach / Mirabella, Nunzio; Floridia, Andrea; Cantoro, Riccardo; Grosso, Michelangelo; Sonza Reorda, Matteo. - ELETTRONICO. - (In corso di stampa), pp. 1-6. (Intervento presentato al convegno 26th Euromicro Conference Series on Digital System Design (DSD) tenutosi a Durres (ALB) nel 6-8 September, 2023). In corso di stampa Mirabella,NunzioFloridia, AndreaCantoro, RiccardoGrosso, MichelangeloSonza Reorda, Matteo DSD_Conference_paper_1.9_submitted.docx2023172914.pdf
A comparative overview of ATPG flows targeting traditional and cell-aware fault models / Mirabella, Nunzio; Floridia, Andrea; Cantoro, Riccardo; Grosso, Michelangelo; Sonza Reorda, Matteo. - ELETTRONICO. - (2022), pp. 1-4. (Intervento presentato al convegno 29th IEEE International Conference on Electronics Circuits and Systems (ICECS) tenutosi a Glasgow nel 24th - 26th October 2022) [10.1109/ICECS202256217.2022.9971003]. 1-gen-2022 Mirabella, NunzioFloridia, AndreaCantoro, RiccardoGrosso, MichelangeloSonza Reorda, Matteo ICECS_2022_1.2.pdfConference_paper_1.2_submitted.docxA_comparative_overview_of_ATPG_flows_targeting_traditional_and_cell-aware_fault_models.pdf
Recent Trends and Perspectives on Defect-Oriented Testing / Bernardi, P.; Cantoro, R.; Coyette, A.; Dobbeleare, W.; Fieback, M.; Floridia, A.; Gielen, G.; Gomez, J.; Grosso, M.; Guerriero, A. M.; Guglielminetti, I.; Hamdioui, S.; Insinga, G.; Mautone, N.; Mirabella, N.; Sartoni, S.; Sonza Reorda, M.; Ullmann, R.; Vanhooren, R.; Xama, N.; Wu, L.. - (2022). (Intervento presentato al convegno The 28th IEEE International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design (IOLTS) tenutosi a Torino (Italy) nel 12-14 September 2022) [10.1109/IOLTS56730.2022.9897647]. 1-gen-2022 P. BernardiR. CantoroA. FloridiaM. GrossoS. HamdiouiG. InsingaN. MirabellaS. SartoniM. Sonza ReordaL. Wu + _IOLTS2022__Special_Session__Recent_Trends_and_Perspectives_on_Defect_Oriented_Testing.pdfRecent_Trends_and_Perspectives_on_Defect-Oriented_Testing.pdf
Comparing different solutions for testing resistive defects in low-power SRAMs / Mirabella, Nunzio; Grosso, Michelangelo; Franchino, Giovanna; Rinaudo, Salvatore; Deretzis, Ioannis; La Magna, Antonino; Sonza Reorda, Matteo. - ELETTRONICO. - (2021), pp. 1-6. (Intervento presentato al convegno 22nd IEEE Latin-American Test Symposium 2021 tenutosi a Porto Alegre (Brazil) nel 27th - 29th October 2021) [10.1109/lats53581.2021.9651760]. 1-gen-2021 Mirabella, NunzioGrosso, MichelangeloSonza Reorda, Matteo + 2021170336.pdfLATS_PAPER-submitted.pdf
On the test of single via related defects in digital VLSI designs / Mirabella, N.; Ricci, M.; Grosso, M.. - ELETTRONICO. - (2020), pp. 1-6. (Intervento presentato al convegno 23rd International Symposium on Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems, DDECS 2020 tenutosi a Serbia nel 2020) [10.1109/DDECS50862.2020.9095717]. 1-gen-2020 Mirabella N.Grosso M. + PID6429081.pdfDDECS-SingleVia.pdf
Software-Based Self-Test for Transition Faults: A Case Study / Grosso, M.; Rinaudo, S.; Casalino, A.; Reorda, M. S.. - STAMPA. - 2019-:(2019), pp. 76-81. (Intervento presentato al convegno 27th IFIP/IEEE International Conference on Very Large Scale Integration, VLSI-SoC 2019 tenutosi a Peru nel 2019) [10.1109/VLSI-SoC.2019.8920306]. 1-gen-2019 Grosso M.Reorda M. S. + preprint VLSISOC2019.pdf08920306.pdf
An Energy-autonomous Wireless Sensor Network Development Platform / Grosso, Michelangelo; Rinaudo, Salvatore; Patti, Edoardo; Acquaviva, Andrea. - (2018), pp. 1-6. (Intervento presentato al convegno 13th IEEE International Conference on Design & Technology of Integrated Systems in Nanoscale Era (DTIS) tenutosi a Taormina, Italy nel 10-12 April 2018) [10.1109/DTIS.2018.8368569]. 1-gen-2018 Michelangelo GrossoEdoardo PattiAndrea Acquaviva + DTIS2018_pap__CR.pdf
Training a classifier for activity recognition using body motion simulation / Grosso, M.; Lena, D.; Rinaudo, S.; Guzman, D. A. F.; Demarchi, D.. - 2018:(2018), pp. 1-4. (Intervento presentato al convegno 2017 IEEE Biomedical Circuits and Systems Conference, BioCAS 2017 tenutosi a Politecnico di Torino, ita nel 2017) [10.1109/BIOCAS.2017.8325117]. 1-gen-2018 Grosso M.Guzman D. A. F.Demarchi D. + 08325117.pdf
A blocking probability study for the Aethereal network-on-chip / Marchetto, Guido; Tahir, Sarosh; Grosso, Michelangelo. - STAMPA. - (2016), pp. 104-109. (Intervento presentato al convegno IEEE International Design & Test Symposium (IDT) tenutosi a Hammamet, Tunisia nel December 2016) [10.1109/IDT.2016.7843023]. 1-gen-2016 MARCHETTO, GUIDOTAHIR, SAROSHGROSSO, MICHELANGELO -
Distributed software infrastructure for evaluating the integration of photovoltaic systems in urban districts / Bottaccioli, Lorenzo; Patti, Edoardo; Grosso, Michelangelo; Gaetano, Rasconà; Angelo, Marotta; Salvatore, Rinaudo; Acquaviva, Andrea; Macii, Enrico. - (2016), pp. 357-362. (Intervento presentato al convegno 5th International Conference on Smart Cities and Green ICT Systems (SMARTGREENS 2016) tenutosi a Rome, Italy nel 23-25 April, 2016) [10.5220/0005879403570362]. 1-gen-2016 BOTTACCIOLI, LORENZOPATTI, EDOARDOGROSSO, MICHELANGELOACQUAVIVA, ANDREAMACII, Enrico + Smartgreen_16.pdf
A new distributed framework for integration of district energy data from heterogeneous devices / Brundu, FRANCESCO GAVINO; Patti, Edoardo; Acquaviva, Andrea; Grosso, Michelangelo; Gaetano, Rasconà; Salvatore, Rinaudo; Macii, Enrico. - (2015), pp. 992-993. (Intervento presentato al convegno Design, Automation & Test in Europe Conference & Exhibition (DATE) tenutosi a Grenoble, France nel 9-13 March 2015). 1-gen-2015 BRUNDU, FRANCESCO GAVINOPATTI, EDOARDOACQUAVIVA, ANDREAGROSSO, MICHELANGELOMACII, Enrico + date_2015_CR.pdf
Enabling Smart System design with the SMAC Platform / Grosso, Michelangelo; Gangemi, Giuliana; Rinaudo, Salvatore; Cenni, Fabio; Crepaldi, Marco; Sanginario, Alessandro; Demarchi, Danilo. - ELETTRONICO. - (2015), pp. 1-6. (Intervento presentato al convegno 17th Symposium on Design, Test, Integration and Packaging of MEMS/MOEMS, DTIP 2015 tenutosi a Montpellier, France nel 27-30 April 2015) [10.1109/DTIP.2015.7160988]. 1-gen-2015 GROSSO, MICHELANGELOSanginario, AlessandroDEMARCHI, DANILO + 07160988.pdf
DIMCloud – a distributed infrastructure for district energy management / Brundu, FRANCESCO GAVINO; Patti, Edoardo; Acquaviva, Andrea; Grosso, Michelangelo; Gaetano, Rasconà; Davide, Lena; Salvatore, Rinaudo; Ronzino, Amos; Osello, Anna; Macii, Enrico. - STAMPA. - (2014). (Intervento presentato al convegno European Technology Platform on Smart Systems Integration (EPoSS 2014) tenutosi a Torino, Italy nel September, 24-26th 2014) [10.1007/978-3-319-19656-5_45]. 1-gen-2014 BRUNDU, FRANCESCO GAVINOPATTI, EDOARDOACQUAVIVA, ANDREAGROSSO, MICHELANGELORONZINO, AMOSOSELLO, AnnaMACII, Enrico + -
Multi-Domain Simulation as a Foundation for the Engineering of Smart Systems: Challenges and the SMAC Vision / R., Gillon; G., Gangemi; Grosso, Michelangelo; F., Fummi; Poncino, Massimo. - (2014), pp. 1-4. (Intervento presentato al convegno ICECS’14: 8th IEEE International Conference on Electronics, Circuits and Systems). 1-gen-2014 GROSSO, MICHELANGELOPONCINO, MASSIMO + -
On the Functional Test of the Register Forwarding and Pipeline Interlocking Unit in Pipelined Processors / Bernardi, Paolo; Cantoro, Riccardo; Ciganda, LYL MERCEDES; Du, Boyang; SANCHEZ SANCHEZ, EDGAR ERNESTO; SONZA REORDA, Matteo; Grosso, Michelangelo; O., Ballan. - STAMPA. - (2014), pp. 52-57. (Intervento presentato al convegno 14th International Workshop on Microprocessor Test and Verification (MTV) tenutosi a Austin, Tx, USA nel December 12–13, 2013) [10.1109/MTV.2013.10]. 1-gen-2014 BERNARDI, PAOLOCANTORO, RICCARDOCIGANDA, LYL MERCEDESDU, BOYANGSANCHEZ SANCHEZ, EDGAR ERNESTOSONZA REORDA, MatteoGROSSO, MICHELANGELO + -
A Functional Test Algorithm for the Register Forwarding and Pipeline Interlocking unit in Pipelined Microprocessors / Bernardi, Paolo; Du, Boyang; Ciganda, LYL MERCEDES; SANCHEZ SANCHEZ, EDGAR ERNESTO; SONZA REORDA, Matteo; Grosso, Michelangelo; Ballan, O.. - STAMPA. - (2013). (Intervento presentato al convegno IEEE 7th International Design and Test Symposium (IDT) tenutosi a Doha (Qatar) nel December 2012) [10.1109/IDT.2013.6727120]. 1-gen-2013 BERNARDI, PAOLODU, BOYANGCIGANDA, LYL MERCEDESSANCHEZ SANCHEZ, EDGAR ERNESTOSONZA REORDA, MatteoGROSSO, MICHELANGELO + -
A preliminary test on the feasibility of locating an iron restoration pin in a statue by measuring the TMF anomaly with a triaxial MEMS magnetometer / Sambuelli, Luigi; Gallinaro, S.; Grosso, Michelangelo. - STAMPA. - (2013), pp. 169-172. (Intervento presentato al convegno Atti del 32° Convegno Nazionale GNGTS tenutosi a Trieste nel 19-21 Novembre 2013). 1-gen-2013 SAMBUELLI, LuigiGROSSO, MICHELANGELO + 13_2013 Sambuelli et al mems pin GNGTS.pdf
A SBST strategy to test microprocessors' branch target buffer / Bernardi, Paolo; Ciganda, LYL MERCEDES; Grosso, Michelangelo; SANCHEZ SANCHEZ, EDGAR ERNESTO; SONZA REORDA, Matteo. - STAMPA. - (2012), pp. 306-311. (Intervento presentato al convegno IEEE 15th International Symposium on Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems (DDECS 2012) tenutosi a Tallinn, Estonia nel April 18-20, 2012). 1-gen-2012 BERNARDI, PAOLOCIGANDA, LYL MERCEDESGROSSO, MICHELANGELOSANCHEZ SANCHEZ, EDGAR ERNESTOSONZA REORDA, Matteo -
On-Line Software-Based Self-Test of the Address Calculation Unit in RISC Processors / Bernardi, Paolo; Ciganda, LYL MERCEDES; DE CARVALHO, Mauricio; Grosso, Michelangelo; J., Lagos Benites; SANCHEZ SANCHEZ, EDGAR ERNESTO; SONZA REORDA, Matteo; O., Ballan. - (2012). (Intervento presentato al convegno European Test Symposium (ETS), 2012 17th IEEE). 1-gen-2012 BERNARDI, PAOLOCIGANDA, LYL MERCEDESDE CARVALHO, MAURICIOGROSSO, MICHELANGELOSANCHEZ SANCHEZ, EDGAR ERNESTOSONZA REORDA, Matteo + -
A Low-cost Emulation System for Fast Co-verification and Debug / LAGOS BENITES, JORGE LUIS; Grosso, Michelangelo; Sterpone, Luca; SONZA REORDA, Matteo; Audisio, G.; Pipponzi, M.; Sabatini, M.. - (2011), pp. 212-212. (Intervento presentato al convegno IEEE European Test Symposium tenutosi a Trondheim (N) nel May 23-27, 2011) [10.1109/ETS.2011.32]. 1-gen-2011 LAGOS BENITES, JORGE LUISGROSSO, MICHELANGELOSTERPONE, LucaSONZA REORDA, Matteo + 2413925-mod.pdf