Archivio Istituzionale della RicercaSoftware-Based Self-Test for Transition Faults: A Case Study / Grosso, M.; Rinaudo, S.; Casalino, A.; Reorda, M. S.. - STAMPA. - 2019-:(2019), pp. 76-81. (Intervento presentato al convegno 27th IFIP/IEEE International Conference on Very Large Scale Integration, VLSI-SoC 2019 tenutosi a Peru nel 2019) [10.1109/VLSI-SoC.2019.8920306].
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https://hdl.handle.net/11583/2784862