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Test Time Minimization in Reconfigurable Scan Networks / Cantoro, Riccardo; Palena, Marco; Pasini, Paolo; SONZA REORDA, Matteo. - STAMPA. - (2016). (Intervento presentato al convegno 2016 IEEE 25th Asian Test Symposium (ATS) tenutosi a Hiroshima (JP) nel November 21-24, 2016) [10.1109/ATS.2016.58]. 1-gen-2016 CANTORO, RICCARDOPALENA, MARCOPASINI, PAOLOSONZA REORDA, Matteo PID4437261_pdfexpress.pdf; PUBLISHED_07796093.pdf
Test, Reliability and Functional Safety Trends for Automotive System-on-Chip / Angione, F.; Appello, D.; Aribido, J.; Athavale, J.; Bellarmino, N.; Bernardi, P.; Cantoro, R.; De Sio, C.; Foscale, T.; Gavarini, G.; Guerrero, J.; Huch, M.; Iaria, G.; Kilian, T.; Mariani, R.; Martone, R.; Ruospo, A.; Sanchez, E.; Schlichtmann, U.; Squillero, G.; Sonza Reorda, M.; Sterpone, L.; Tancorre, V.; Ugioli, R.. - (2022), pp. 1-10. (Intervento presentato al convegno 2022 IEEE European Test Symposium (ETS) tenutosi a Barcelona (Spain) nel 23-27 May 2022) [10.1109/ETS54262.2022.9810388]. 1-gen-2022 F. AngioneN. BellarminoP. BernardiR. CantoroC. De SioT. FoscaleG. GavariniJ. GuerreroG. IariaR. MarianiA. RuospoG. SquilleroM. Sonza ReordaL. Sterpone + 2022_ETS_SpecialSession.pdf; Test_Reliability_and_Functional_Safety_Trends_for_Automotive_System-on-Chip.pdf
Test-Plan Optimization for Flying-Probes In-Circuit Testers / Bonaria, Luciano; Raganato, Maurizio; Squillero, Giovanni; Reorda, Matteo Sonza. - STAMPA. - (2019), pp. 19-24. (Intervento presentato al convegno 2019 IEEE International Test Conference in Asia (ITC-Asia)) [10.1109/ITC-Asia.2019.00017]. 1-gen-2019 Squillero, GiovanniReorda, Matteo Sonza + post-print.pdf; 08872088.pdf
Testability analysis and ATPG on behavioral RT-level VHDL / Corno, Fulvio; Prinetto, Paolo Ernesto; SONZA REORDA, Matteo. - STAMPA. - (1997), pp. 753-759. (Intervento presentato al convegno ITC 1997: IEEE International Test Conference tenutosi a Washington DC (USA) nel Nov 1-6, 1997) [10.1109/TEST.1997.639688]. 1-gen-1997 CORNO, FulvioPRINETTO, Paolo ErnestoSONZA REORDA, Matteo -
Testability measures with concurrent good simulation / Cabodi, Gianpiero; Camurati, Paolo Enrico; Prinetto, Paolo Ernesto; SONZA REORDA, Matteo. - (1989), pp. 144-149. (Intervento presentato al convegno ETC'89: IEEE 1st European Test Conference tenutosi a Paris (France) nel 12-14 April 1989) [10.1109/ETC.1989.36236]. 1-gen-1989 CABODI, GianpieroCAMURATI, Paolo EnricoPRINETTO, Paolo ErnestoSONZA REORDA, Matteo -
Testing a Switching Memory in a Telecommunication System / Barbagallo, S.; Corno, Fulvio; Prinetto, Paolo Ernesto; SONZA REORDA, Matteo. - STAMPA. - (1995), pp. 947-956. (Intervento presentato al convegno ITC 1995 : IEEE International Test Conference, 1995 tenutosi a Washington DC (USA) nel Oct 21-25, 1995) [10.1109/TEST.1995.529941]. 1-gen-1995 CORNO, FulvioPRINETTO, Paolo ErnestoSONZA REORDA, Matteo + -
Testing Heatsink Faults in Power Transistors by means of Thermal Model / Piumatti, Davide; Quitadamo, Matteo Vincenzo; Reorda, Matteo Sonza; Fiori, Franco. - (2020), pp. 1-6. (Intervento presentato al convegno 21st IEEE Latin-American Test Symposium (LATS20) tenutosi a Jatiúca (Maceió), Brazil nel 30th March - 2nd April 2020) [10.1109/LATS49555.2020.9093674]. 1-gen-2020 Piumatti, DavideQuitadamo, Matteo VincenzoReorda, Matteo SonzaFiori, Franco 09093674.pdf; Thermal_faults_V_4_CR_no_layout_editoriale.pdf
Testing logic cores using a BIST P1500 compliant approach: a case of study / Bernardi, Paolo; Masera, Guido; Quaglio, Federico; SONZA REORDA, Matteo. - 3:(2005), pp. 228-233. (Intervento presentato al convegno Design, Automation and Test in Europe Conference and Exhibition (DATE2005) tenutosi a Munich nel 7-11 Marzo 2005) [10.1109/DATE.2005.305]. 1-gen-2005 BERNARDI, PAOLOMASERA, GuidoQUAGLIO, FEDERICOSONZA REORDA, Matteo -
Testing permanent faults in pipeline registers of GPGPUs: A multi-kernel approach / SONZA REORDA, Matteo; Rodriguez Condia Josie, E.. - STAMPA. - (2019). (Intervento presentato al convegno 2019 IEEE 25th International Symposium on On-Line Testing And Robust System Design (IOLTS) tenutosi a Rhodes (Greece) nel 1-3 July 2019) [10.1109/IOLTS.2019.8854463]. 1-gen-2019 Sonza Reorda MatteoRodriguez Condia Josie E. Camera_Ready_final.pdf; 08854463.pdf
Testing the Divergence Stack Memory on GPGPUs: A Modular in-Field Test Strategy / Rodriguez Condia, Josie Esteban; Sonza Reorda, M.. - ELETTRONICO. - (2020), pp. 153-158. (Intervento presentato al convegno 28th IFIP/IEEE International Conference on Very Large Scale Integration, VLSI-SOC 2020 tenutosi a usa nel 5-7 Oct. 2020) [10.1109/VLSI-SOC46417.2020.9344088]. 1-gen-2020 Rodriguez Condia, Josie EstebanSonza Reorda, M. paper open source.pdf; 09344088.pdf
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Tipologia
  • 4 Contributo in Atti di Convegno ... 469
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Autore
  • REBAUDENGO, MAURIZIO 116
  • CORNO, Fulvio 97
  • VIOLANTE, MASSIMO 97
  • BERNARDI, PAOLO 87
  • SANCHEZ SANCHEZ, EDGAR ERNESTO 71
  • SQUILLERO, GIOVANNI 70
  • PRINETTO, Paolo Ernesto 66
  • CANTORO, RICCARDO 46
  • GROSSO, MICHELANGELO 43
  • STERPONE, LUCA 38
Data di pubblicazione
  • In corso di stampa 3
  • 2020 - 2023 68
  • 2010 - 2019 128
  • 2000 - 2009 167
  • 1990 - 1999 99
  • 1988 - 1989 4
Editore
  • IEEE 129
  • IEEE Computer Society 44
  • Springer 25
  • Institute of Electrical and Elect... 19
  • IEEE - INST ELECTRICAL ELECTRONIC... 17
  • ACM Press 7
  • IEEE-INST ELECTRICAL ELECTRONICS ... 6
  • IEEE / Institute of Electrical an... 4
  • ACM 3
  • ieee 3
Rivista
  • LECTURE NOTES IN COMPUTER SCIENCE 22
Serie
  • LECTURE NOTES IN COMPUTER SCIENCE 2
  • ... IEEE ... INTERNATIONAL SYMPOS... 1
  • IFIP ADVANCES IN INFORMATION AND ... 1
  • LECTURE NOTES IN COMPUTER SCIENCE 1
  • PROCEEDINGS IEEE COMPUTER SOCIETY... 1
Keyword
  • Reliability 12
  • SBST 12
  • Safety 10
  • Electrical and Electronic Enginee... 9
  • Graphics Processing Units (GPUs) 9
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  • Reliability and Quality 7
  • Risk 7
  • software-based self-test 7
  • Fault Injection 6
Lingua
  • eng 284
  • ger 1
  • ita 1
Accesso al fulltext
  • no fulltext 359
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