Archivio Istituzionale della RicercaTest-Plan Optimization for Flying-Probes In-Circuit Testers / Bonaria, L., Raganato, M., Squillero, G., Reorda, M.S.. - STAMPA. - (2019), pp. 19-24. (2019 IEEE International Test Conference in Asia (ITC-Asia) ) [10.1109/ITC-Asia.2019.00017].
Test-Plan Optimization for Flying-Probes In-Circuit Testers
Squillero, Giovanni;Reorda, Matteo Sonza
2019
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https://hdl.handle.net/11583/2784870