Test-Plan Optimization for Flying-Probes In-Circuit Testers / Bonaria, Luciano; Raganato, Maurizio; Squillero, Giovanni; Reorda, Matteo Sonza. - STAMPA. - (2019), pp. 19-24. ((Intervento presentato al convegno 2019 IEEE International Test Conference in Asia (ITC-Asia).
Titolo: | Test-Plan Optimization for Flying-Probes In-Circuit Testers |
Autori: | |
Data di pubblicazione: | 2019 |
ISBN: | 978-1-7281-4718-5 |
Appare nelle tipologie: | 4.1 Contributo in Atti di convegno |
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http://hdl.handle.net/11583/2784870
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