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Citazione Data di pubblicazione Autori File
Software-Based Self-Test for Transition Faults: A Case Study / Grosso, M.; Rinaudo, S.; Casalino, A.; Reorda, M. S.. - STAMPA. - 2019-:(2019), pp. 76-81. (Intervento presentato al convegno 27th IFIP/IEEE International Conference on Very Large Scale Integration, VLSI-SoC 2019 tenutosi a Peru nel 2019) [10.1109/VLSI-SoC.2019.8920306]. 1-gen-2019 Grosso M.Reorda M. S. + preprint VLSISOC2019.pdf; 08920306.pdf
Software-Based Self-Test Strategy for Data Cache Memories Embedded in SoCs / Perez, W. J.; VELASCO MEDINA, J; Ravotto, Danilo; SANCHEZ SANCHEZ, EDGAR ERNESTO; SONZA REORDA, Matteo. - (2008), pp. 339-344. (Intervento presentato al convegno The IEEE Workshop on Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems). 1-gen-2008 RAVOTTO, DANILOSANCHEZ SANCHEZ, EDGAR ERNESTOSONZA REORDA, Matteo + -
Special Session: AutoSoC - A Suite of Open-Source Automotive SoC Benchmarks / Da Silva, F. A.; Cagri Bagbaba, A.; Ruospo, A.; Mariani, R.; Kanawati, G.; Sanchez, E.; Reorda, M. S.; Jenihhin, M.; Hamdioui, S.; Sauer, C.. - ELETTRONICO. - 2020-:(2020), pp. 1-9. (Intervento presentato al convegno 38th IEEE VLSI Test Symposium, VTS 2020 tenutosi a usa nel 2020) [10.1109/VTS48691.2020.9107599]. 1-gen-2020 Ruospo A.Sanchez E.Reorda M. S.Hamdioui S. + autosoc.pdf; AutoSoC___VTS_Special_Session_postprint.pdf
Special Session: Reliability Assessment Recipes for DNN Accelerators / Ahmadilivani, Mohammad Hasan; Bosio, Alberto; Deveautour, Bastien; Santos, Fernando Fernandes Dos; Guerrero-Balaguera, Juan-David; Jenihhin, Maksim; Kritikakou, Angeliki; Limas Sierra, Robert; Pappalardo, Salvatore; Raik, Jaan; Rodriguez Condia, Josie E.; Sonza Reorda, Matteo; Taheri, Mahdi; Traiola, Marcello. - ELETTRONICO. - (2024). (Intervento presentato al convegno 2024 IEEE 42nd VLSI Test Symposium (VTS) tenutosi a Tempe (USA) nel 22-24 April 2024) [10.1109/vts60656.2024.10538707]. 1-gen-2024 Bosio, AlbertoGuerrero-Balaguera, Juan-DavidLimas Sierra, RobertRodriguez Condia, Josie E.Sonza Reorda, Matteo + Special_Session_Reliability_Assessment_Recipes_for_DNN_Accelerators.pdf
Speeding-up Fault Injection Campaigns in VHDL models / B., Parrotta; Rebaudengo, Maurizio; SONZA REORDA, Matteo; Violante, Massimo. - 1943:(2000), pp. 27-36. (Intervento presentato al convegno Computer Safety, Reliability and Security 19th International Conference, SAFECOMP 2000 tenutosi a Rotterdam (NLD) nel October 24–27, 2000) [10.1007/3-540-40891-6_3]. 1-gen-2000 REBAUDENGO, MaurizioSONZA REORDA, MatteoVIOLANTE, MASSIMO + -
SW-Based Transparent In-Field Memory Testing / Bernardi, Paolo; Ciganda, LYL MERCEDES; SONZA REORDA, Matteo; Said, Hamdioui. - (2015). (Intervento presentato al convegno 16th IEEE Latin American Test Symposium tenutosi a Puerto Vallarta - Mexico nel 25 -27 Marzo). 1-gen-2015 BERNARDI, PAOLOCIGANDA, LYL MERCEDESSONZA REORDA, Matteo + -
System Safety through Automatic High-level Code Transformations: an Experimental Evaluation / Rebaudengo, Maurizio; SONZA REORDA, Matteo; Violante, Massimo; P., Cheynet; B., Nicolescu; R., Velazco. - (2001), pp. 297-301. (Intervento presentato al convegno DATE: IEEE Design, Automation & Test in Europe Conference tenutosi a Monaco, Germania nel 13-16 marzo 2001). 1-gen-2001 REBAUDENGO, MaurizioSONZA REORDA, MatteoVIOLANTE, MASSIMO + -
System-level test bench generation in a co-design framework / M., Lajolo; Rebaudengo, Maurizio; SONZA REORDA, Matteo; Violante, Massimo; Lavagno, Luciano. - (2000). 1-gen-2000 REBAUDENGO, MaurizioSONZA REORDA, MatteoVIOLANTE, MASSIMOLAVAGNO, Luciano + -
System-Level Test: State of the Art and Challenges / Appello, D.; Chen, H. H.; Sauer, M.; Polian, I.; Bernardi, P.; Reorda, M. S.. - (2021), pp. 1-7. (Intervento presentato al convegno 27th IEEE International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design, IOLTS 2021 nel 2021) [10.1109/IOLTS52814.2021.9486708]. 1-gen-2021 Bernardi P.Reorda M. S. + System-Level_Test_State_of_the_Art_and_Challenges.pdf
Targeting different defect-oriented fault models in IC testing: an experimental approach / Mirabella, Nunzio; Floridia, Andrea; Cantoro, Riccardo; Grosso, Michelangelo; Sonza Reorda, Matteo. - ELETTRONICO. - (In corso di stampa), pp. 1-6. (Intervento presentato al convegno 26th Euromicro Conference Series on Digital System Design (DSD) tenutosi a Durres (ALB) nel 6-8 September, 2023). In corso di stampa Mirabella,NunzioFloridia, AndreaCantoro, RiccardoGrosso, MichelangeloSonza Reorda, Matteo DSD_Conference_paper_1.9_submitted.docx; 2023172914.pdf
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Tipologia
  • 4 Contributo in Atti di Convegno ... 470
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Autore
  • REBAUDENGO, MAURIZIO 116
  • CORNO, Fulvio 97
  • VIOLANTE, MASSIMO 97
  • BERNARDI, PAOLO 87
  • SANCHEZ SANCHEZ, EDGAR ERNESTO 71
  • SQUILLERO, GIOVANNI 70
  • PRINETTO, Paolo Ernesto 66
  • CANTORO, RICCARDO 45
  • GROSSO, MICHELANGELO 43
  • STERPONE, LUCA 38
Data di pubblicazione
  • In corso di stampa 2
  • 2020 - 2024 70
  • 2010 - 2019 128
  • 2000 - 2009 167
  • 1990 - 1999 99
  • 1988 - 1989 4
Editore
  • IEEE 131
  • IEEE Computer Society 44
  • Springer 24
  • Institute of Electrical and Elect... 19
  • IEEE - INST ELECTRICAL ELECTRONIC... 17
  • ACM Press 7
  • IEEE-INST ELECTRICAL ELECTRONICS ... 6
  • IEEE / Institute of Electrical an... 4
  • ACM 3
  • ieee 3
Rivista
  • LECTURE NOTES IN COMPUTER SCIENCE 22
Serie
  • ... IEEE ... INTERNATIONAL SYMPOS... 1
  • IFIP ADVANCES IN INFORMATION AND ... 1
  • LECTURE NOTES IN COMPUTER SCIENCE 1
  • LECTURE NOTES IN COMPUTER SCIENCE 1
  • PROCEEDINGS IEEE COMPUTER SOCIETY... 1
Keyword
  • Reliability 12
  • SBST 12
  • Graphics Processing Units (GPUs) 11
  • Safety 10
  • Electrical and Electronic Enginee... 9
  • Hardware and Architecture 8
  • fault simulation 7
  • Reliability and Quality 7
  • Risk 7
  • software-based self-test 7
Lingua
  • eng 286
  • ger 1
  • ita 1
Accesso al fulltext
  • no fulltext 359
  • partially open 52
  • reserved 37
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