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An optimal algorithm for the automatic generation of March tests / Benso, Alfredo; DI CARLO, Stefano; DI NATALE, Giorgio; Prinetto, Paolo Ernesto. - STAMPA. - (2002), pp. 938-943. (Intervento presentato al convegno Design, Automation and Test in Europe, Conference and Exhibition (DATE) tenutosi a Paris, FR nel 4-8 Mar. 2002) [10.1109/DATE.2002.998412]. 1-gen-2002 BENSO, AlfredoDI CARLO, STEFANODI NATALE, GiorgioPRINETTO, Paolo Ernesto 2002-DATE-MarchTestGen-AuthorVersion.pdf; 2002-DATE-MarchTestGen.pdf
Specification and design of a new memory fault simulator / Benso, Alfredo; DI CARLO, Stefano; DI NATALE, Giorgio; Prinetto, Paolo Ernesto. - STAMPA. - (2002), pp. 92-97. (Intervento presentato al convegno IEEE 11th AsianTest Symposium (ATS) tenutosi a Guam, USA nel 18-20 Nov. 2002) [10.1109/ATS.2002.1181693]. 1-gen-2002 BENSO, AlfredoDI CARLO, STEFANODI NATALE, GiorgioPRINETTO, Paolo Ernesto 2002-ATS-RASTA-AuthorVersion.pdf
Fault Injection Techniques and Tools for Embedded Systems Reliability Evaluation / Benso, Alfredo; Prinetto, Paolo Ernesto. - ELETTRONICO. - (2003). 1-gen-2003 BENSO, AlfredoPRINETTO, Paolo Ernesto -
FAUST: fault-injection script-based tool / Benso, Alfredo; DI CARLO, Stefano; DI NATALE, Giorgio; Prinetto, Paolo Ernesto; Solcia, Ivano; Tagliaferri, Luca. - STAMPA. - (2003), pp. 160-160. (Intervento presentato al convegno IEEE 9th On-Line Testing Symposium (IOLTS) tenutosi a Kos, GR nel 7-9 July 2003) [10.1109/OLT.2003.1214386]. 1-gen-2003 BENSO, AlfredoDI CARLO, STEFANODI NATALE, GiorgioPRINETTO, Paolo ErnestoSOLCIA, IVANOTAGLIAFERRI, Luca 2003-IOLTS-Faust.pdf; 2003-IOLTS-Faust-AuthorVersion.pdf
Online self-repair of FIR filters / Benso, Alfredo; DI CARLO, Stefano; DI NATALE, Giorgio; Prinetto, Paolo Ernesto. - In: IEEE DESIGN & TEST OF COMPUTERS. - ISSN 0740-7475. - STAMPA. - 20:3(2003), pp. 50-57. [10.1109/MDT.2003.1198686] 1-gen-2003 BENSO, AlfredoDI CARLO, STEFANODI NATALE, GiorgioPRINETTO, Paolo Ernesto 2003-MTD-FIR.pdf
A Hierachical Infrastrucutre for SOC Test Management / Benso, Alfredo; DI CARLO, Stefano; Prinetto, Paolo Ernesto; Zorian, Y.. - In: IEEE DESIGN & TEST OF COMPUTERS. - ISSN 0740-7475. - STAMPA. - 20:4(2003), pp. 32-39. [10.1109/MDT.2003.1214350] 1-gen-2003 BENSO, AlfredoDI CARLO, STEFANOPRINETTO, Paolo Ernesto + 2003-MDT-HDDBIST.pdf
Data criticality estimation in software applications / Benso, Alfredo; DI CARLO, Stefano; DI NATALE, Giorgio; Prinetto, Paolo Ernesto; Tagliaferri, Luca. - STAMPA. - 1:(2003), pp. 802-810. (Intervento presentato al convegno IEEE International Test Conference (ITC) tenutosi a Charlotte (NC), USA nel 30 Sept. - 2 Oct., 2003) [10.1109/TEST.2003.1270912]. 1-gen-2003 BENSO, AlfredoDI CARLO, STEFANODI NATALE, GiorgioPRINETTO, Paolo ErnestoTAGLIAFERRI, Luca 2003-ITC-DataCriticality-AuthorVersion.pdf; 2003-ITC-DataCriticality.pdf
A watchdog processor to detect data and control flow errors / Benso, Alfredo; DI CARLO, Stefano; DI NATALE, Giorgio; Prinetto, Paolo Ernesto. - STAMPA. - (2003), pp. 144-148. (Intervento presentato al convegno IEEE 9th International On-Line Testing Symposium (IOLTS) tenutosi a Kos, GR nel 7-9 July 2003) [10.1109/OLT.2003.1214381]. 1-gen-2003 BENSO, AlfredoDI CARLO, STEFANODI NATALE, GiorgioPRINETTO, Paolo Ernesto 2003-IOLTS-Watchdog-AuthorVersion.pdf
Programmable built-in self-testing of embedded RAM clusters in system-on-chip architectures / Benso, Alfredo; DI CARLO, Stefano; DI NATALE, Giorgio; Lobetti Bodoni, M.; Prinetto, Paolo Ernesto. - In: IEEE COMMUNICATIONS MAGAZINE. - ISSN 0163-6804. - STAMPA. - 41:9(2003), pp. 90-97. [10.1109/MCOM.2003.1232242] 1-gen-2003 BENSO, AlfredoDI CARLO, STEFANODI NATALE, GiorgioPRINETTO, Paolo Ernesto + 2003-MCOM-RAMDist-AuthorVersion.pdf; 2003-MCOM-RAMDist.pdf
System Level Functional Testing from UML Specifications in End-Of-Production Industrial Environments / Baldini, A; Benso, Alfredo; Prinetto, Paolo Ernesto. - In: INTERNATIONAL JOURNAL ON SOFTWARE TOOLS FOR TECHNOLOGY TRANSFER. - ISSN 1433-2779. - STAMPA. - 7:4(2004), pp. 326-340. [10.1007/s10009-004-0147-8] 1-gen-2004 BENSO, AlfredoPRINETTO, Paolo Ernesto + -
Towards microagent based DBIST/DBISR / Miclea, L.; Enyedi, S.; Toderean, G.; Benso, Alfredo; Prinetto, Paolo Ernesto. - STAMPA. - (2004), pp. 867-874. (Intervento presentato al convegno IEEE International Test Conference (ITC) tenutosi a Charlotte (NC), USA nel 26-28 Oct. 2004) [10.1109/TEST.2004.1387350]. 1-gen-2004 BENSO, AlfredoPRINETTO, Paolo Ernesto + 2004-ITC-microagentDBISTR.pdf
AFSM-based deterministic hardware TPG / Benso, Alfredo; DI CARLO, Stefano; DI NATALE, Giorgio; Prinetto, Paolo Ernesto. - STAMPA. - (2005), pp. 178-181. (Intervento presentato al convegno IEEE 8th Workshop on Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems (DDECS) tenutosi a Sopron, HU nel 13-16 Apr. 2005). 1-gen-2005 BENSO, AlfredoDI CARLO, STEFANODI NATALE, GiorgioPRINETTO, Paolo Ernesto 2005-DDECS-AFSM.pdf
Agent Based Test and Repair of Distributed Systems / Miclea, L.; Szilárd, E.; Benso, Alfredo; Prinetto, Paolo Ernesto. - In: JOURNAL OF EMBEDDED COMPUTING. - ISSN 1740-4460. - STAMPA. - 1:3(2005), pp. 405-414. 1-gen-2005 BENSO, AlfredoPRINETTO, Paolo Ernesto + 2005-JEC-Agenti-AuthorVersion.pdf
PROMON: a profile monitor of software applications / Benso, Alfredo; DI CARLO, Stefano; DI NATALE, Giorgio; Prinetto, Paolo Ernesto; Tagliaferri, Luca; Tibaldi, Clara. - STAMPA. - (2005), pp. 81-86. (Intervento presentato al convegno IEEE 8th Workshop on Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems (DDECS) tenutosi a Sopron, HU nel 13-16 Apr. 2005). 1-gen-2005 BENSO, AlfredoDI CARLO, STEFANODI NATALE, GiorgioPRINETTO, Paolo ErnestoTAGLIAFERRI, LucaTIBALDI, CLARA 2005-DDECS-Promon.pdf
A Dependable Autonomic Computing Environment for Self-Testing of Complex Heterogeneous Systems / Baldini, A.; Benso, A.; Prinetto, P.. - In: ELECTRONIC NOTES IN THEORETICAL COMPUTER SCIENCE. - ISSN 1571-0661. - 116:SPEC.ISS.(2005), pp. 45-57. [10.1016/j.entcs.2004.02.087] 1-gen-2005 Baldini, A.Benso, A.Prinetto, P. 1-s2.0-S1571066104052764-main.pdf
Automatic March tests generation for static and dynamic faults in SRAMs / Benso, Alfredo; Bosio, Alberto; DI CARLO, Stefano; DI NATALE, Giorgio; Prinetto, Paolo Ernesto. - STAMPA. - (2005), pp. 122-127. (Intervento presentato al convegno IEEE 10th European Test Symposium (ETS) tenutosi a Tallin, EE nel 22-25 May 2005) [10.1109/ETS.2005.8]. 1-gen-2005 BENSO, AlfredoBOSIO, ALBERTODI CARLO, STEFANODI NATALE, GiorgioPRINETTO, Paolo Ernesto 2005-ETS-MarchTest.pdf
March AB, March AB1: new March tests for unlinked dynamic memory faults / Benso, Alfredo; Bosio, Alberto; DI CARLO, Stefano; DI NATALE, Giorgio; Prinetto, Paolo Ernesto. - STAMPA. - (2005), pp. 834-841. (Intervento presentato al convegno IEEE International Test Conference (ITC) tenutosi a Austin (TX), USA nel 8-10 Nov. 2005) [10.1109/TEST.2005.1584047]. 1-gen-2005 BENSO, AlfredoBOSIO, ALBERTODI CARLO, STEFANODI NATALE, GiorgioPRINETTO, Paolo Ernesto 2005-ITC-MarchAB.pdf
A Black-Box-Oriented Test Methodology / Benso, Alfredo; Bosio, Alberto; Prinetto, Paolo Ernesto; Savino, Alessandro. - STAMPA. - (2006), pp. 11-15. (Intervento presentato al convegno IEEE East-West Design & Test Workshop (EWDTW06) tenutosi a Sochi (Russia) nel Sept. 15-19, 2006). 1-gen-2006 BENSO, AlfredoBOSIO, ALBERTOPRINETTO, Paolo ErnestoSAVINO, ALESSANDRO -
Memory Fault Simulator for Static-Linked Faults / Benso, Alfredo; Bosio, Alberto; DI CARLO, Stefano; DI NATALE, Giorgio; Prinetto, Paolo Ernesto. - STAMPA. - (2006), pp. 31-36. (Intervento presentato al convegno IEEE 15th AsianTest Symposium (ATS) tenutosi a Fukuoka, JP nel 20-23 Nov. 2006) [10.1109/ATS.2006.260989]. 1-gen-2006 BENSO, AlfredoBOSIO, ALBERTODI CARLO, STEFANODI NATALE, GiorgioPRINETTO, Paolo Ernesto 2006-ATS-MemorySim.pdf; 2006-ATS-MemorySim-AuthorVersion.pdf
A Unique March Test Algorithm for the Wide Spread of Realistic Memory Faults in SRAMs / Benso, Alfredo; Bosio, Alberto; DI CARLO, Stefano; DI NATALE, Giorgio; Prinetto, Paolo Ernesto. - STAMPA. - (2006), pp. 155-156. (Intervento presentato al convegno IEEE 9th Workshop on Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems (DDECS) tenutosi a Prague, CZ nel 18-21 Apr. 2006) [10.1109/DDECS.2006.1649602]. 1-gen-2006 BENSO, AlfredoBOSIO, ALBERTODI CARLO, STEFANODI NATALE, GiorgioPRINETTO, Paolo Ernesto 2006-DDECS-MarchTest.pdf
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