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Automatic March tests generation for static and dynamic faults in SRAMs / Benso, Alfredo; Bosio, Alberto; DI CARLO, Stefano; DI NATALE, Giorgio; Prinetto, Paolo Ernesto. - STAMPA. - (2005), pp. 122-127. (Intervento presentato al convegno IEEE 10th European Test Symposium (ETS) tenutosi a Tallin, EE nel 22-25 May 2005) [10.1109/ETS.2005.8]. 1-gen-2005 BENSO, AlfredoBOSIO, ALBERTODI CARLO, STEFANODI NATALE, GiorgioPRINETTO, Paolo Ernesto 2005-ETS-MarchTest.pdf
March AB, March AB1: new March tests for unlinked dynamic memory faults / Benso, Alfredo; Bosio, Alberto; DI CARLO, Stefano; DI NATALE, Giorgio; Prinetto, Paolo Ernesto. - STAMPA. - (2005), pp. 834-841. (Intervento presentato al convegno IEEE International Test Conference (ITC) tenutosi a Austin (TX), USA nel 8-10 Nov. 2005) [10.1109/TEST.2005.1584047]. 1-gen-2005 BENSO, AlfredoBOSIO, ALBERTODI CARLO, STEFANODI NATALE, GiorgioPRINETTO, Paolo Ernesto 2005-ITC-MarchAB.pdf
A Black-Box-Oriented Test Methodology / Benso, Alfredo; Bosio, Alberto; Prinetto, Paolo Ernesto; Savino, Alessandro. - STAMPA. - (2006), pp. 11-15. (Intervento presentato al convegno IEEE East-West Design & Test Workshop (EWDTW06) tenutosi a Sochi (Russia) nel Sept. 15-19, 2006). 1-gen-2006 BENSO, AlfredoBOSIO, ALBERTOPRINETTO, Paolo ErnestoSAVINO, ALESSANDRO -
Interactive Educational Tool for Memory Testing / Bosio, Alberto; DI CARLO, Stefano; DI NATALE, Giorgio; Fisherova, M.; Pikula, T.; Simlastik, M.. - STAMPA. - (2006), pp. 100-103. (Intervento presentato al convegno 6th International Workshop on Microelectronic Education tenutosi a Stockholm, SE nel 8-9 Jun. 2006). 1-gen-2006 BOSIO, ALBERTODI CARLO, STEFANODI NATALE, Giorgio + 2006-EWME-MemApplet-AuthorVersion.pdf
A tool for teaching memory testing based on BIST / Fischerova, M.; Pikula, T.; Simlastik, M.; Bosio, Alberto; DI CARLO, Stefano; DI NATALE, Giorgio. - STAMPA. - (2006), pp. 187-190. (Intervento presentato al convegno IEEE International Biennal Baltic Electronics Conference (BEC) tenutosi a Tallin, EE nel 2-4 Oct. 2006) [10.1109/BEC.2006.311094]. 1-gen-2006 BOSIO, ALBERTODI CARLO, STEFANODI NATALE, Giorgio + 2006-BEC-MemoryApplets-AuthorVersion.pdf
A Unique March Test Algorithm for the Wide Spread of Realistic Memory Faults in SRAMs / Benso, Alfredo; Bosio, Alberto; DI CARLO, Stefano; DI NATALE, Giorgio; Prinetto, Paolo Ernesto. - STAMPA. - (2006), pp. 155-156. (Intervento presentato al convegno IEEE 9th Workshop on Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems (DDECS) tenutosi a Prague, CZ nel 18-21 Apr. 2006) [10.1109/DDECS.2006.1649602]. 1-gen-2006 BENSO, AlfredoBOSIO, ALBERTODI CARLO, STEFANODI NATALE, GiorgioPRINETTO, Paolo Ernesto 2006-DDECS-MarchTest.pdf
Automatic March tests generation for multi-port SRAMs / Benso, Alfredo; Bosio, Alberto; DI CARLO, Stefano; DI NATALE, Giorgio; Prinetto, Paolo Ernesto. - STAMPA. - (2006), pp. 385-392. (Intervento presentato al convegno IEEE 3rd International Workshop on Electronic Design, Test and Applications (DELTA) tenutosi a Kuala Lumpur, MY nel 17-19 Jan. 2006) [10.1109/DELTA.2006.17]. 1-gen-2006 BENSO, AlfredoBOSIO, ALBERTODI CARLO, STEFANODI NATALE, GiorgioPRINETTO, Paolo Ernesto 2006-DELTA-Multiport.pdf
ATPG for Dynamic Burn-In Test in Full-Scan Circuits / Benso, Alfredo; Bosio, Alberto; DI CARLO, Stefano; DI NATALE, Giorgio; Prinetto, Paolo Ernesto. - STAMPA. - (2006), pp. 75-82. (Intervento presentato al convegno IEEE 15th Asian Test Symposium (ATS) tenutosi a Fukuoka, JP nel 20-23 Nov. 2006) [10.1109/ATS.2006.260996]. 1-gen-2006 BENSO, AlfredoBOSIO, ALBERTODI CARLO, STEFANODI NATALE, GiorgioPRINETTO, Paolo Ernesto 2006-ATS-BurnIn.pdf
Automatic March Tests Generations for Static Linked Faults in SRAMs / Benso, Alfredo; Bosio, Alberto; DI CARLO, Stefano; DI NATALE, Giorgio; Prinetto, Paolo Ernesto. - STAMPA. - 1:(2006), pp. 1-6. (Intervento presentato al convegno Design, Automation and Test in Europe, Conference and Exhibition (DATE) tenutosi a Munich, DE nel 6-10 Mar. 2006) [10.1109/DATE.2006.244097]. 1-gen-2006 BENSO, AlfredoBOSIO, ALBERTODI CARLO, STEFANODI NATALE, GiorgioPRINETTO, Paolo Ernesto 2006-DATE-MarchTest.pdf
Memory Fault Simulator for Static-Linked Faults / Benso, Alfredo; Bosio, Alberto; DI CARLO, Stefano; DI NATALE, Giorgio; Prinetto, Paolo Ernesto. - STAMPA. - (2006), pp. 31-36. (Intervento presentato al convegno IEEE 15th AsianTest Symposium (ATS) tenutosi a Fukuoka, JP nel 20-23 Nov. 2006) [10.1109/ATS.2006.260989]. 1-gen-2006 BENSO, AlfredoBOSIO, ALBERTODI CARLO, STEFANODI NATALE, GiorgioPRINETTO, Paolo Ernesto 2006-ATS-MemorySim.pdf; 2006-ATS-MemorySim-AuthorVersion.pdf
A 22n March Test for Realistic Static Linked Faults in SRAMs / Benso, Alfredo; Bosio, Alberto; DI CARLO, Stefano; DI NATALE, Giorgio; Prinetto, Paolo Ernesto. - STAMPA. - (2006), pp. 49-54. (Intervento presentato al convegno IEEE 11th European Test Symposium (ETS) tenutosi a SouthAmpton, UK nel 21-24 May 2006) [10.1109/ETS.2006.2]. 1-gen-2006 BENSO, AlfredoBOSIO, ALBERTODI CARLO, STEFANODI NATALE, GiorgioPRINETTO, Paolo Ernesto 2006-ETS-March.pdf
A Functional Verification based Fault Injection Environment / Benso, Alfredo; Bosio, Alberto; DI CARLO, Stefano; Mariani, R.. - STAMPA. - (2007), pp. 114-122. (Intervento presentato al convegno IEEE 22nd International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI Systems (DFTS) tenutosi a Roma, IT nel 26-28 Sept. 2007) [10.1109/DFT.2007.31]. 1-gen-2007 BENSO, AlfredoBOSIO, ALBERTODI CARLO, STEFANO + 2007-DFT-FaultSim.pdf
Automating the IEEE std. 1500 compliance verification for embedded cores / Benso, Alfredo; DI CARLO, Stefano; Prinetto, Paolo Ernesto; Bosio, Alberto. - STAMPA. - (2007), pp. 171-178. (Intervento presentato al convegno IEEE International High Level Design Validation and Test Workshop (HLDVT) tenutosi a Irvine (CA), USA nel 7-9 Nov. 2007) [10.1109/HLDVT.2007.4392810]. 1-gen-2007 BENSO, AlfredoDI CARLO, STEFANOPRINETTO, Paolo ErnestoBOSIO, ALBERTO 2007-HLDVT-IEEE1500.pdf
March AB, a State-of-the-Art March Test for Realistic Static Linked Faults and Dynamic Faults in SRAMs / Bosio, Alberto; DI CARLO, Stefano; DI NATALE, Giorgio; Prinetto, Paolo Ernesto. - In: IET COMPUTERS & DIGITAL TECHNIQUES. - ISSN 1751-8601. - STAMPA. - 1:3(2007), pp. 237-245. [10.1049/iet-cdt:20060137] 1-gen-2007 BOSIO, ALBERTODI CARLO, STEFANODI NATALE, GiorgioPRINETTO, Paolo Ernesto 2007-IET-CDT-MarchAB-AuthorVersion.pdf
March Test Generation Revealed / Benso, Alfredo; Bosio, Alberto; DI CARLO, Stefano; DI NATALE, Giorgio; Prinetto, Paolo Ernesto. - In: IEEE TRANSACTIONS ON COMPUTERS. - ISSN 0018-9340. - STAMPA. - 57:12(2008), pp. 1704-1713. [10.1109/TC.2008.105] 1-gen-2008 BENSO, AlfredoBOSIO, ALBERTODI CARLO, STEFANODI NATALE, GiorgioPRINETTO, Paolo Ernesto 2008-TC-MarchTest.pdf
Are IEEE 1500 compliant cores really compliant to the standard? / Benso, Alfredo; Bosio, Alberto; DI CARLO, Stefano; Prinetto, Paolo Ernesto. - In: IEEE DESIGN & TEST OF COMPUTERS. - ISSN 0740-7475. - STAMPA. - 26:3(2009), pp. 16-24. [10.1109/MDT.2009.46] 1-gen-2009 BENSO, AlfredoBOSIO, ALBERTODI CARLO, STEFANOPRINETTO, Paolo Ernesto 2009-MTD-IEEE1500.pdf
An effective approach for functional test programs compaction / Touati, A.; Bosio, Alberto; Girard, P.; Virazel, A.; Bernardi, Paolo; SONZA REORDA, Matteo. - STAMPA. - (2016), pp. 1-6. (Intervento presentato al convegno 19th IEEE International Symposium on Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems, DDECS 2016 tenutosi a svk nel 2016) [10.1109/DDECS.2016.7482466]. 1-gen-2016 BOSIO, ALBERTOBERNARDI, PAOLOSONZA REORDA, Matteo + -
An Effective Fault-Injection Framework for Memory Reliability Enhancement Perspectives / Harcha, Ghita; Girard, Patrick; Virazel, Arnaud; Bosio, Alberto; Bernardi, Paolo. - (2017). (Intervento presentato al convegno Design &Technology of Integrated Systems in Nanoscale Era). 1-gen-2017 BOSIO, ALBERTOBERNARDI, PAOLO + -
Microprocessor Testing: Functional Meets Structural Test / Touati, A.; Girard, P.; Virazel, A.; Bosio, Alberto; Bernardi, Paolo; SONZA REORDA, Matteo. - In: JOURNAL OF CIRCUITS, SYSTEMS, AND COMPUTERS. - ISSN 0218-1266. - 26:8(2017), pp. 1-18. [10.1142/S0218126617400072] 1-gen-2017 BOSIO, ALBERTOBERNARDI, PAOLOSONZA REORDA, MATTEO + -
Improving stress quality for SoC using faster-than-at-speed execution of functional programs / Bernardi, Paolo; Bosio, Alberto; Di Natale, Giorgio; Guerriero, Andrea; Sanchez, Ernesto; Venini, Federico - In: IFIP Advances in Information and Communication Technology / Bernardi, Paolo. - STAMPA. - [s.l] : Springer New York LLC, 2017. - ISBN 9783319671031. - pp. 130-151 [10.1007/978-3-319-67104-8_7] 1-gen-2017 Bernardi, PaoloBosio, AlbertoDi Natale, GiorgioSanchez, ErnestoVenini, Federico + -
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