Archivio Istituzionale della RicercaPRINETTO, Paolo Ernesto
PRINETTO, Paolo Ernesto
Dipartimento di Automatica e Informatica
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"Plug & Test" at System Level via Testable TLM Primitives
2008 Alemzadeh, H.; DI CARLO, Stefano; Refan, F.; Navabi, Z.; Prinetto, Paolo Ernesto
'BOND': An Interposition Agents Based Fault Injector for Windows NT
2000 Baldini, A.; Benso, Alfredo; Chiusano, SILVIA ANNA; Prinetto, Paolo Ernesto
8T SRAM Defective Cell with Open Defects
2010 Rodríguez Montañés, R.; Arumí, D.; Manich, S.; Figueras, J.; DI CARLO, Stefano; Prinetto, Paolo Ernesto; Scionti, A.
``Experiments in Automatic Classification of Laringeal Pathology
1983 B., Morra; Mezzalama, Marco; Prinetto, Paolo Ernesto
A 22n March Test for Realistic Static Linked Faults in SRAMs
2006 Benso, Alfredo; Bosio, Alberto; DI CARLO, Stefano; DI NATALE, Giorgio; Prinetto, Paolo Ernesto
A Black-Box-Oriented Test Methodology
2006 Benso, Alfredo; Bosio, Alberto; Prinetto, Paolo Ernesto; Savino, Alessandro
A C/C++ Source-to-Source Compiler for Dependable Applications
2000 Benso, Alfredo; Chiusano, SILVIA ANNA; Prinetto, Paolo Ernesto; Tagliaferri, L.
A cloud-based Cyber-Physical System for environmental monitoring
2014 Sanislav, T.; Mois, G.; Folea, S.; Miclea, L.; Gambardella, Giulio; Prinetto, Paolo Ernesto
A COTS Wrapping Toolkit for Fault Tolerant Applications under Windows NT
2000 Benso, Alfredo; Chiusano, SILVIA ANNA; Prinetto, Paolo Ernesto
A cross-layer approach for new reliability-performance trade-offs in MLC NAND flash memories
2012 Zambelli, C.; Indaco, Marco; Fabiano, Michele; DI CARLO, Stefano; Prinetto, Paolo Ernesto; Olivo, P.; Bertozzi, D.
A diagnostic test pattern generation algorithm
1990 Camurati, Paolo Enrico; Medina, D.; Prinetto, Paolo Ernesto; SONZA REORDA, Matteo
A family of Self-Repair SRAM cores
2000 Benso, Alfredo; Chiusano, SILVIA ANNA; DI NATALE, G; LOBETTI BODONI, M; Prinetto, Paolo Ernesto
A Fault Injection Environment for Microprocessor-based Board
1998 Benso, Alfredo; Prinetto, Paolo Ernesto; Rebaudengo, Maurizio; SONZA REORDA, Matteo
A Fault Injection Methodology and Infrastructure for Fast Single Event Upsets Emulation on Xilinx SRAM-based FPGAs
2014 DI CARLO, Stefano; Prinetto, Paolo Ernesto; Rolfo, D.; Trotta, P.
A FPGA-based control-flow integrity solution for securing bare-metal embedded systems
2020 Maunero, N.; Prinetto, P.; Roascio, G.; Varriale, A.
A FPGA-Based Reconfigurable Software Architecture for Highly Dependable Systems
2009 DI CARLO, Stefano; Prinetto, Paolo Ernesto; Scionti, A.
A genetic algorithm for automatic generation of test logic for digital circuits
1996 Corno, Fulvio; Prinetto, Paolo Ernesto; SONZA REORDA, Matteo; ,
A genetic algorithm for the computation of initialization sequences for synchronous sequential circuits
2001 Corno, Fulvio; Prinetto, Paolo Ernesto; Rebaudengo, Maurizio; SONZA REORDA, Matteo; Squillero, Giovanni
A genetic algorithm for the computation of initialization sequences for synchronous sequential circuits
1997 Corno, Fulvio; Prinetto, Paolo Ernesto; Rebaudengo, Maurizio; SONZA REORDA, Matteo; Squillero, Giovanni
A Hierachical Infrastrucutre for SOC Test Management
2003 Benso, Alfredo; DI CARLO, Stefano; Prinetto, Paolo Ernesto; Zorian, Y.
| Citazione | Data di pubblicazione | Autori | File |
|---|---|---|---|
| "Plug & Test" at System Level via Testable TLM Primitives / Alemzadeh, H.; DI CARLO, Stefano; Refan, F.; Navabi, Z.; Prinetto, Paolo Ernesto. - STAMPA. - (2008), pp. 1-10. ((Intervento presentato al convegno IEEE International Test Conference (ITC) tenutosi a Santa Clara (CA), USA nel 28-30 Oct., 2008 [10.1109/TEST.2008.4700610]. | 1-gen-2008 | DI CARLO, STEFANOPRINETTO, Paolo Ernesto + | TEST.2008.4700610.small.pdf; 2008-ITC-TLM-AuthorVersion.pdf |
| 'BOND': An Interposition Agents Based Fault Injector for Windows NT / Baldini, A.; Benso, Alfredo; Chiusano, SILVIA ANNA; Prinetto, Paolo Ernesto. - (2000), pp. 387-395. ((Intervento presentato al convegno IEEE International Symposium on Defect and Fault-Tolerance in VLSI Systems nel 25-27 October 2000. | 1-gen-2000 | BENSO, AlfredoCHIUSANO, SILVIA ANNAPRINETTO, Paolo Ernesto + | - |
| 8T SRAM Defective Cell with Open Defects / Rodríguez Montañés, R.; Arumí, D.; Manich, S.; Figueras, J.; DI CARLO, Stefano; Prinetto, Paolo Ernesto; Scionti, A.. - STAMPA. - (2010), pp. 492-497. ((Intervento presentato al convegno IEEE 25th Conference on Design of Circuits and Integrated Systems (DCIS) tenutosi a Lanzarote, ES nel 17-19 Nov. 2010. | 1-gen-2010 | DI CARLO, STEFANOPRINETTO, Paolo Ernesto + | 2010-DCIS-8TSRAM.pdf |
| ``Experiments in Automatic Classification of Laringeal Pathology / B., Morra; Mezzalama, Marco; Prinetto, Paolo Ernesto. - In: MEDICAL & BIOLOGICAL ENGINEERING & COMPUTING. - ISSN 0140-0118. - 21:(1983), pp. 603-611. | 1-gen-1983 | MEZZALAMA, MarcoPRINETTO, Paolo Ernesto + | - |
| A 22n March Test for Realistic Static Linked Faults in SRAMs / Benso, Alfredo; Bosio, Alberto; DI CARLO, Stefano; DI NATALE, Giorgio; Prinetto, Paolo Ernesto. - STAMPA. - (2006), pp. 49-54. ((Intervento presentato al convegno IEEE 11th European Test Symposium (ETS) tenutosi a SouthAmpton, UK nel 21-24 May 2006 [10.1109/ETS.2006.2]. | 1-gen-2006 | BENSO, AlfredoBOSIO, ALBERTODI CARLO, STEFANODI NATALE, GiorgioPRINETTO, Paolo Ernesto | 2006-ETS-March.pdf |
| A Black-Box-Oriented Test Methodology / Benso, Alfredo; Bosio, Alberto; Prinetto, Paolo Ernesto; Savino, Alessandro. - STAMPA. - (2006), pp. 11-15. ((Intervento presentato al convegno IEEE East-West Design & Test Workshop (EWDTW06) tenutosi a Sochi (Russia) nel Sept. 15-19, 2006. | 1-gen-2006 | BENSO, AlfredoBOSIO, ALBERTOPRINETTO, Paolo ErnestoSAVINO, ALESSANDRO | 06-01-EWDTW.pdf |
| A C/C++ Source-to-Source Compiler for Dependable Applications / Benso, Alfredo; Chiusano, SILVIA ANNA; Prinetto, Paolo Ernesto; Tagliaferri, L.. - (2000), pp. 71-78. ((Intervento presentato al convegno IEEE International Conference on Dependable Systems and Networks nel 25-28 June 2000. | 1-gen-2000 | BENSO, AlfredoCHIUSANO, SILVIA ANNAPRINETTO, Paolo Ernesto + | - |
| A cloud-based Cyber-Physical System for environmental monitoring / Sanislav, T.; Mois, G.; Folea, S.; Miclea, L.; Gambardella, Giulio; Prinetto, Paolo Ernesto. - STAMPA. - (2014), pp. 6-9. ((Intervento presentato al convegno 3rd Mediterranean Conference on Embedded Computing (MECO) tenutosi a Budva, ME nel 15-19 June 2014 [10.1109/MECO.2014.6862654]. | 1-gen-2014 | GAMBARDELLA, GIULIOPRINETTO, Paolo Ernesto + | 2014-MECO-CPS-AuthorVersion.pdf; 2014-MECO-CPS.pdf |
| A COTS Wrapping Toolkit for Fault Tolerant Applications under Windows NT / Benso, Alfredo; Chiusano, SILVIA ANNA; Prinetto, Paolo Ernesto. - (2000), pp. 9-16. ((Intervento presentato al convegno IEEE International On-Line Testing Workshop nel 3-5 July 2000. | 1-gen-2000 | BENSO, AlfredoCHIUSANO, SILVIA ANNAPRINETTO, Paolo Ernesto | - |
| A cross-layer approach for new reliability-performance trade-offs in MLC NAND flash memories / Zambelli, C.; Indaco, Marco; Fabiano, Michele; DI CARLO, Stefano; Prinetto, Paolo Ernesto; Olivo, P.; Bertozzi, D.. - ELETTRONICO. - (2012), pp. 881-886. ((Intervento presentato al convegno Design, Automation and Test in Europe, Conference and Exhibition (DATE) tenutosi a Dresden, DE nel 12-16 March 2012 [10.1109/DATE.2012.6176622]. | 1-gen-2012 | INDACO, MARCOFABIANO, MICHELEDI CARLO, STEFANOPRINETTO, Paolo Ernesto + | 2012-DATE-Flash-AuthorVersion.pdf; 2012-DATE-Flash.pdf |
| A diagnostic test pattern generation algorithm / Camurati, Paolo Enrico; Medina, D.; Prinetto, Paolo Ernesto; SONZA REORDA, Matteo. - (1990), pp. 52-58. ((Intervento presentato al convegno ITC 1990: IEEE International Test Conference 1990 tenutosi a Washington DC (USA) nel 10-14 Sept. 1990 [10.1109/TEST.1990.114000]. | 1-gen-1990 | CAMURATI, Paolo EnricoPRINETTO, Paolo ErnestoSONZA REORDA, Matteo + | - |
| A family of Self-Repair SRAM cores / Benso, Alfredo; Chiusano, SILVIA ANNA; DI NATALE, G; LOBETTI BODONI, M; Prinetto, Paolo Ernesto. - (2000), pp. 214-218. ((Intervento presentato al convegno IOLTW 2000: IEEE International On-Line Test Workshop nel July 2000. | 1-gen-2000 | BENSO, AlfredoCHIUSANO, SILVIA ANNAPRINETTO, Paolo Ernesto + | - |
| A Fault Injection Environment for Microprocessor-based Board / Benso, Alfredo; Prinetto, Paolo Ernesto; Rebaudengo, Maurizio; SONZA REORDA, Matteo. - STAMPA. - (1998), pp. 768-773. ((Intervento presentato al convegno IEEE International Test Conference (ITC) tenutosi a Washington (DC), USA nel 18-23 Oct. 1998 [10.1109/TEST.1998.743259]. | 1-gen-1998 | BENSO, AlfredoPRINETTO, Paolo ErnestoREBAUDENGO, MaurizioSONZA REORDA, Matteo | 1998-ITC-FaultInjection-uP.pdf |
| A Fault Injection Methodology and Infrastructure for Fast Single Event Upsets Emulation on Xilinx SRAM-based FPGAs / DI CARLO, Stefano; Prinetto, Paolo Ernesto; Rolfo, D.; Trotta, P.. - ELETTRONICO. - (2014), pp. 159-164. ((Intervento presentato al convegno 27th IEEE Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems Symposium (DFTS) tenutosi a Amsterdam, NL nel 1-3 Oct. 2014 [10.1109/DFT.2014.6962073]. | 1-gen-2014 | DI CARLO, STEFANOPRINETTO, Paolo Ernesto + | 06962073.pdf; Faul_InjectionDFT_Postprint.pdf |
| A FPGA-based control-flow integrity solution for securing bare-metal embedded systems / Maunero, N.; Prinetto, P.; Roascio, G.; Varriale, A.. - ELETTRONICO. - (2020), pp. 1-10. ((Intervento presentato al convegno 15th IEEE International Conference on Design and Technology of Integrated Systems in Nanoscale Era, DTIS 2020 tenutosi a Marrakech (MA) nel 2020 [10.1109/DTIS48698.2020.9081314]. | 1-gen-2020 | Maunero N.Prinetto P.Roascio G. + | 09081314.pdf; A FPGA-based Control-Flow Integrity Solution for Securing Bare-Metal Embedded Systems.pdf |
| A FPGA-Based Reconfigurable Software Architecture for Highly Dependable Systems / DI CARLO, Stefano; Prinetto, Paolo Ernesto; Scionti, A.. - STAMPA. - (2009), pp. 125-130. ((Intervento presentato al convegno IEEE Asian Test Symposium (ATS) tenutosi a Taichung, TW nel 23-26 Nov. 2009 [10.1109/ATS.2009.53]. | 1-gen-2009 | DI CARLO, STEFANOPRINETTO, Paolo Ernesto + | 2009-ATS-Fpga.pdf; 2009-ATS-Fpga-AuthorVersion.pdf |
| A genetic algorithm for automatic generation of test logic for digital circuits / Corno, Fulvio; Prinetto, Paolo Ernesto; SONZA REORDA, Matteo; ,. - STAMPA. - (1996), pp. 10-16. ((Intervento presentato al convegno ICTAI 1996 : 8th IEEE International Conference on Tools with Artificial Intelligence, 1996 tenutosi a Toulouse (France) nel Nov 16-19, 1996 [10.1109/TAI.1996.560394]. | 1-gen-1996 | CORNO, FulvioPRINETTO, Paolo ErnestoSONZA REORDA, Matteo + | - |
| A genetic algorithm for the computation of initialization sequences for synchronous sequential circuits / Corno, Fulvio; Prinetto, Paolo Ernesto; Rebaudengo, Maurizio; SONZA REORDA, Matteo; Squillero, Giovanni. - (2001), pp. 213-218. ((Intervento presentato al convegno ATS '97 tenutosi a Akita (JPN) nel 19-21 Nov. 1997 [10.1109/ATS.2001.10066]. | 1-gen-2001 | CORNO, FulvioPRINETTO, Paolo ErnestoREBAUDENGO, MaurizioSONZA REORDA, MatteoSQUILLERO, Giovanni | - |
| A genetic algorithm for the computation of initialization sequences for synchronous sequential circuits / Corno, Fulvio; Prinetto, Paolo Ernesto; Rebaudengo, Maurizio; SONZA REORDA, Matteo; Squillero, Giovanni. - (1997), pp. 56-61. ((Intervento presentato al convegno ATS '97, 6th Asian Test Symposium tenutosi a Akita (JPN) nel 17-19 Nov 1997 [10.1109/ATS.1997.643917]. | 1-gen-1997 | CORNO, FulvioPRINETTO, Paolo ErnestoREBAUDENGO, MaurizioSONZA REORDA, MatteoSQUILLERO, Giovanni | 1545099.pdf |
| A Hierachical Infrastrucutre for SOC Test Management / Benso, Alfredo; DI CARLO, Stefano; Prinetto, Paolo Ernesto; Zorian, Y.. - In: IEEE DESIGN & TEST OF COMPUTERS. - ISSN 0740-7475. - STAMPA. - 20:4(2003), pp. 32-39. [10.1109/MDT.2003.1214350] | 1-gen-2003 | BENSO, AlfredoDI CARLO, STEFANOPRINETTO, Paolo Ernesto + | 2003-MDT-HDDBIST.pdf |