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Towards an automatic approach for hardware verification according to ISO 26262 functional safety standard / Sini, Jacopo; Sonza Reorda, Matteo; Violante, Massimo; Sarson, Peter. - ELETTRONICO. - (2018). (Intervento presentato al convegno 24th IEEE International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design (IOLTS) tenutosi a Platja d’Aro, Costa Brava (ESP) nel July 2-4, 2018) [10.1109/IOLTS.2018.8474083]. 1-gen-2018 Sini, JacopoSonza Reorda, MatteoViolante, Massimo + camera_ready.pdf; Towards_an_automatic_approach_for_hardware_verification_according_to_ISO_26262_functional_safety_standard.pdf
Towards Making Fault Injection on Abstract Models a More Accurate Tool for Predicting RT-Level Effects / Flenker, Tino; Malburg, Jan; Fey, Goerschwin; Avramenko, Serhiy; Violante, Massimo; SONZA REORDA, Matteo. - 2017-:(2017), pp. 533-538. (Intervento presentato al convegno 2017 IEEE Computer Society Annual Symposium on VLSI, ISVLSI 2017 tenutosi a deu nel 2017) [10.1109/ISVLSI.2017.99]. 1-gen-2017 AVRAMENKO, SERHIYVIOLANTE, MASSIMOSONZA REORDA, MATTEO + -
Transformation-based peak power reduction for test sequences / Corno, Fulvio; Rebaudengo, Maurizio; SONZA REORDA, Matteo; Violante, Massimo. - (1999), pp. 78-83. (Intervento presentato al convegno Low-Power Design, 1999. Proceedings. IEEE Alessandro Volta Memorial Workshop on tenutosi a Como, I nel 4-5 Mar 1999) [10.1109/LPD.1999.750406]. 1-gen-1999 CORNO, FulvioREBAUDENGO, MaurizioSONZA REORDA, MatteoVIOLANTE, MASSIMO -
Uncovering hidden vulnerabilities in CNNs through evolutionary-based Image Test Libraries / Turco, V.; Ruospo, A.; Gavarini, G.; Sanchez, E.; Sonza Reorda, M.. - (2023). (Intervento presentato al convegno International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems tenutosi a Juan-Les-Pins (FR) nel 03-05 October 2023) [10.1109/DFT59622.2023.10313530]. 1-gen-2023 V. TurcoA. RuospoG. GavariniE. SanchezM. Sonza Reorda Uncovering_hidden_vulnerabilities_in_CNNs_through_evolutionary-based_Image_Test_Libraries.pdf
Understanding the Effects of Permanent Faults in GPU's Parallelism Management and Control Units / Guerrero-Balaguera, Juan-David; Rodriguez Condia, Josie E.; dos Santos, Fernando F.; Sonza, Matteo; Rech, Paolo. - ELETTRONICO. - (2023), pp. 1-14. (Intervento presentato al convegno SC23: International Conference for High Performance Computing, Networking, Storage and Analysis tenutosi a Denver CO (USA) nel November 12 - 17, 2023) [10.1145/3581784.3607086]. 1-gen-2023 Juan-David Guerrero-BalagueraJosie E. Rodriguez CondiaMatteo SonzaPaolo Rech + sc_2023_nvbitpermfi.pdf; 3581784.3607086.pdf
Untestable faults identification in GPGPUs for safety-critical applications / Condia, Josie E. Rodriguez; Da Silva, Felipe A.; Hamdioui, S.; Sauer, C.; Reorda, M. Sonza. - ELETTRONICO. - (2019), pp. 570-573. (Intervento presentato al convegno 2019 26th IEEE International Conference on Electronics, Circuits and Systems (ICECS) tenutosi a Genova nel 27-29 Nov. 2019) [10.1109/ICECS46596.2019.8964677]. 1-gen-2019 Condia, Josie E. RodriguezHamdioui, S.Reorda, M. Sonza + camera ready version.pdf; 08964677.pdf
Using Formal Methods to Support the Development of STLs for GPUs / Deligiannis, Nikolaos; Faller, Tobias; RODRIGUEZ CONDIA, JOSIE ESTEBAN; Cantoro, Riccardo; Becker, Bernd; SONZA REORDA, Matteo. - (2022), pp. 84-89. (Intervento presentato al convegno Asian Test Symposium (ATS) tenutosi a Taiwan nel 21-24 November 2022) [10.1109/ATS56056.2022.00027]. 1-gen-2022 Nikolaos DeligiannisJosie Esteban RodriguezRiccardo CantoroMatteo Sonza Reorda + _ATS2022__Using_Formal_Methods_to_Support_the_Development_of_STLs_for_GPUs.pdf; Using_Formal_Methods_to_Support_the_Development_of_STLs_for_GPUs.pdf
Using Hardware Performance Counters to support in-field GPU Testing / Juan-David, Guerrero-Balaguera; Rodriguez Condia, Josie E.; SONZA REORDA, Matteo. - (2021), pp. 1-4. (Intervento presentato al convegno 28th IEEE International Conference on Electronics Circuits and Systems tenutosi a Dubai nel 28 november-1 december 2021) [10.1109/ICECS53924.2021.9665511]. 1-gen-2021 Juan-David Guerrero-BalagueraJosie E. Rodriguez CondiaMatteo Sonza Reorda GPU_Hardware_Performance_Counters.pdf; Using_Hardware_Performance_Counters_to_support_infield_GPU_Testing.pdf
Using Infrastructure IPs to support SW-based Self-Test of Processor Cores / Bernardi, Paolo; Rebaudengo, Maurizio; SONZA REORDA, Matteo. - (2004), pp. 22-27. (Intervento presentato al convegno MTV'04: 5th International Workshop on Microprocessor Test and Verification tenutosi a Austin (TX), USA nel 9-10 settembre 2004). 1-gen-2004 BERNARDI, PAOLOREBAUDENGO, MaurizioSONZA REORDA, Matteo -
Using parallel genetic algorithms for solving the Min-Cut problem / G., Godza; Rebaudengo, Maurizio; SONZA REORDA, Matteo. - 1067:(1996), pp. 985-986. (Intervento presentato al convegno High-Performance Computing and Networking International Conference and Exhibition HPCN EUROPE 1996 tenutosi a Brussels (BEL) nel April 15–19, 1996) [10.1007/3-540-61142-8_674]. 1-gen-1996 REBAUDENGO, MaurizioSONZA REORDA, Matteo + -
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Tipologia
  • 4 Contributo in Atti di Convegno ... 475
  • 4 Contributo in Atti di Convegno ... 475
Autore
  • REBAUDENGO, MAURIZIO 116
  • CORNO, Fulvio 97
  • VIOLANTE, MASSIMO 97
  • BERNARDI, PAOLO 87
  • SANCHEZ SANCHEZ, EDGAR ERNESTO 72
  • SQUILLERO, GIOVANNI 70
  • PRINETTO, Paolo Ernesto 66
  • CANTORO, RICCARDO 47
  • GROSSO, MICHELANGELO 44
  • RODRIGUEZ CONDIA, JOSIE ESTEBAN 39
Data di pubblicazione
  • In corso di stampa 1
  • 2020 - 2024 76
  • 2010 - 2019 128
  • 2000 - 2009 167
  • 1990 - 1999 99
  • 1988 - 1989 4
Editore
  • IEEE 136
  • IEEE Computer Society 44
  • Springer 24
  • Institute of Electrical and Elect... 19
  • IEEE - INST ELECTRICAL ELECTRONIC... 17
  • ACM Press 7
  • IEEE-INST ELECTRICAL ELECTRONICS ... 6
  • IEEE / Institute of Electrical an... 4
  • ACM 3
  • ieee 3
Rivista
  • LECTURE NOTES IN COMPUTER SCIENCE 22
Serie
  • ... IEEE ... INTERNATIONAL SYMPOS... 2
  • IFIP ADVANCES IN INFORMATION AND ... 1
  • LECTURE NOTES IN COMPUTER SCIENCE 1
  • LECTURE NOTES IN COMPUTER SCIENCE 1
  • PROCEEDINGS IEEE COMPUTER SOCIETY... 1
Keyword
  • Reliability 13
  • Graphics Processing Units (GPUs) 12
  • SBST 12
  • Safety 10
  • Electrical and Electronic Enginee... 9
  • Hardware and Architecture 8
  • Fault Injection 7
  • fault simulation 7
  • Reliability and Quality 7
  • Risk 7
Lingua
  • eng 292
  • ger 1
  • ita 1
Accesso al fulltext
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