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Properties of a-SiC:H films deposited in high power regime
2003 Ambrosone, G; Ballarini, V; Coscia, U; Ferrero, Sergio; Giorgis, Fabrizio; Maddalena, P; Patelli, A; Rigato, V.
Structural and electrical characterization of epitaxial 4H–SiC layers for power electronic device applications
2003 Scaltrito, Luciano; Porro, Samuele; Cocuzza, Matteo; Giorgis, Fabrizio; Pirri, Candido; Mandracci, Pietro; Ricciardi, Carlo; Ferrero, Sergio; Sgorlon, Corrado; G., Richieri; L., Merlin; A., Castaldini; A., Cavallini; L., Polenta
Structural and electrical characterization of epitaxial 4H-SiC layers for power electronic device applications
2003 Scaltrito, Luciano; Porro, Samuele; Ferrero, Sergio; Giorgis, Fabrizio; Pirri, Candido; Mandracci, Pietro; Ricciardi, Carlo; Polenta, L.
Low temperature growth of SiO2 on SiC by plasma enhanced chemical vapor deposition for power device applications
2003 Mandracci, Pietro; Ferrero, Sergio; Ricciardi, Carlo; Scaltrito, Luciano; Richieri, G; Sgorlon, C.
Surface analysis and defect characterization of 4H-SiC wafers for power electronic device applications
2003 Scaltrito, Luciano; Fanchini, G.; Porro, Samuele; Cocuzza, Matteo; Giorgis, Fabrizio; Tresso, Elena Maria; Pirri, Candido; Mandracci, Pietro; Ricciardi, Carlo; Ferrero, Sergio; Sgorlon, C.; Richieri, G.; Merlin, L.
Defect influence on the electrical properties of 4H-SiC Schottky diodes
2004 Scaltrito, Luciano; Celasco, Edvige; Porro, Samuele; Ferrero, Sergio; Giorgis, Fabrizio; Pirri, Candido; Perrone, Denis; Meotto, U; Mandracci, Pietro; Richieri, G; Merlin, L; Cavallini, A; Castaldini, A; Rossi, M.
Vibrational and emission properties of porous 6H-SiC
2004 A. M., Rossi; V., Ballarini; Ferrero, Sergio; Giorgis, Fabrizio
Structural characterisation of nickel suicide performed by two-dimensional X-ray microdiffraction
2004 Colombi, P; Bontempi, E; Meotto, U. M.; Porro, Samuele; Ricciardi, Carlo; Scaltrito, Luciano; Ferrero, Sergio; Richieri, G; Merlin, L; Depero, L.
Deposition of microcrystalline silicon-carbon alloys in low power regime
2004 Ambrosone, G.; Barucca, G.; Coscia, U.; Ferrero, Sergio; Lettieri, S.; Maddalena, P.
Structural characterisation of nickel silicide performed by two-dimensional X-ray microdiffraction
2004 P., Colombi; E., Bontempi; U. M., Meotto; Porro, Samuele; Ricciardi, Carlo; Scaltrito, Luciano; Ferrero, Sergio; G., Richieri; L., Merlin; L. E., Depero
Plasma-assisted SiC oxidation for power device fabrication
2004 Mandracci, Pietro; Ferrero, Sergio; Porro, Samuele; Ricciardi, Carlo; G., Richieri; Scaltrito, Luciano
Deposition of microcrystalline silicon-carbon films by PECVD
2004 Ambrosone, G; Coscia, U; Lettieri, S; Maddalena, P; Minarini, C; Ferrero, Sergio; Patelli, A; Rigato, V.
Amorphous thin films grown by plasma techniques for biological analysis
2005 Cocuzza, Matteo; Bianco, Stefano; Ferrero, Sergio; E., Giuri; Pirri, Candido; A., Ricci; G., Piacenza; M., Perucca; D., Bich; P., Schina; A., Merialdo
MICROCRYSTALLINE SILICON-CARBON ALLOYS GROWN BY PECVD
2005 G., Ambrosone; U., Coscia; M., DELLA NOCE; Ferrero, Sergio; P., Rava; Rivolo, Paola; M., Tucci
Design, Fabrication and Characterization of 1.5 mΩcm2, 800 V 4H-SiC n-Type Schottky Barrier Diodes
2005 Furno, Mauro Stefano; Bonani, Fabrizio; Ghione, Giovanni; Ferrero, Sergio; Porro, Samuele; Mandracci, Pietro; Scaltrito, Luciano; Perrone, Denis; Richieri, G.; Merlin, Luigi
Phase Formation at Rapid Thermal Annealing of Nickel Contacts on C – Face n – Type 4H – SiC.
2005 Ferrero, Sergio; A., Albonico; U. M., Meotto; G., Rombol; Porro, Samuele; Giorgis, Fabrizio; Perrone, D.; Scaltrito, Luciano; E., Bontempi; L. E., Depero; G., Richieri; L., Merlin
Growth, morphological and structural characterization of silicon carbide epilayers for power electronic devices applications
2005 Pirri, Candido; Porro, Samuele; Ferrero, Sergio; Celasco, Edvige; Guastella, SALVATORE ANTONIO; Scaltrito, Luciano; R., Yakimova; M., Syväjärvi; R. R., Ciechonski; S., De Angelis; D., Crippa
Growth, morphological and structural characterization of silicon carbide epilayers for power electronic devices applications
2005 Pirri, Candido; Porro, Samuele; Ferrero, Sergio; Celasco, Edvige; Guastella, SALVATORE ANTONIO; Scaltrito, Luciano; R., Yakimova; M., Syvjrvi; R. R., Ciechonski; S., DE ANGELIS; D., Crippa
Deep levels by proton and electron irradiation in 4H-SiC
2005 Castaldini, A.; Cavallini, A.; Rigutti, L.; Nava, F.; Ferrero, Sergio; Giorgis, Fabrizio
Raman spectroscopy on micro and nano-structures
2006 Giorgis, F; Ricciardi, Carlo; Celasco, Edvige; Perrone, D; Descrovi, Emiliano; Ferrero, Sergio; Rossi, A. M.
| Citazione | Data di pubblicazione | Autori | File |
|---|---|---|---|
| Properties of a-SiC:H films deposited in high power regime / Ambrosone, G; Ballarini, V; Coscia, U; Ferrero, Sergio; Giorgis, Fabrizio; Maddalena, P; Patelli, A; Rigato, V.. - In: THIN SOLID FILMS. - ISSN 0040-6090. - 427:(2003), pp. 289-293. | 1-gen-2003 | FERRERO, SERGIOGIORGIS, FABRIZIO + | - |
| Structural and electrical characterization of epitaxial 4H–SiC layers for power electronic device applications / Scaltrito, Luciano; Porro, Samuele; Cocuzza, Matteo; Giorgis, Fabrizio; Pirri, Candido; Mandracci, Pietro; Ricciardi, Carlo; Ferrero, Sergio; Sgorlon, Corrado; G., Richieri; L., Merlin; A., Castaldini; A., Cavallini; L., Polenta. - In: MATERIALS SCIENCE AND ENGINEERING B-SOLID STATE MATERIALS FOR ADVANCED TECHNOLOGY. - ISSN 0921-5107. - 102:(2003), pp. 298-303. [10.1016/S0921-5107(02)00726-2] | 1-gen-2003 | SCALTRITO, LUCIANOPORRO, SAMUELECOCUZZA, MATTEOGIORGIS, FABRIZIOPIRRI, CandidoMANDRACCI, PietroRICCIARDI, CarloFERRERO, SERGIOSGORLON, CORRADO + | - |
| Structural and electrical characterization of epitaxial 4H-SiC layers for power electronic device applications / Scaltrito, Luciano; Porro, Samuele; Ferrero, Sergio; Giorgis, Fabrizio; Pirri, Candido; Mandracci, Pietro; Ricciardi, Carlo; Polenta, L.. - In: MATERIALS SCIENCE AND ENGINEERING B-SOLID STATE MATERIALS FOR ADVANCED TECHNOLOGY. - ISSN 0921-5107. - 102:(2003), pp. 298-303. | 1-gen-2003 | SCALTRITO, LUCIANOPORRO, SAMUELEFERRERO, SERGIOGIORGIS, FABRIZIOPIRRI, CandidoMANDRACCI, PietroRICCIARDI, Carlo + | - |
| Low temperature growth of SiO2 on SiC by plasma enhanced chemical vapor deposition for power device applications / Mandracci, Pietro; Ferrero, Sergio; Ricciardi, Carlo; Scaltrito, Luciano; Richieri, G; Sgorlon, C.. - In: THIN SOLID FILMS. - ISSN 0040-6090. - 427:(2003), pp. 279-283. | 1-gen-2003 | MANDRACCI, PietroFERRERO, SERGIORICCIARDI, CarloSCALTRITO, LUCIANO + | - |
| Surface analysis and defect characterization of 4H-SiC wafers for power electronic device applications / Scaltrito, Luciano; Fanchini, G.; Porro, Samuele; Cocuzza, Matteo; Giorgis, Fabrizio; Tresso, Elena Maria; Pirri, Candido; Mandracci, Pietro; Ricciardi, Carlo; Ferrero, Sergio; Sgorlon, C.; Richieri, G.; Merlin, L.. - In: DIAMOND AND RELATED MATERIALS. - ISSN 0925-9635. - 12:(2003), pp. 1224-1226. | 1-gen-2003 | SCALTRITO, LUCIANOPORRO, SAMUELECOCUZZA, MATTEOGIORGIS, FABRIZIOTRESSO, Elena MariaPIRRI, CandidoMANDRACCI, PietroRICCIARDI, CarloFERRERO, SERGIO + | - |
| Defect influence on the electrical properties of 4H-SiC Schottky diodes / Scaltrito, Luciano; Celasco, Edvige; Porro, Samuele; Ferrero, Sergio; Giorgis, Fabrizio; Pirri, Candido; Perrone, Denis; Meotto, U; Mandracci, Pietro; Richieri, G; Merlin, L; Cavallini, A; Castaldini, A; Rossi, M.. - 457-460:2(2004), pp. 1081-1084. | 1-gen-2004 | SCALTRITO, LUCIANOCELASCO, EDVIGEPORRO, SAMUELEFERRERO, SERGIOGIORGIS, FABRIZIOPIRRI, CandidoPERRONE, DENISMANDRACCI, Pietro + | - |
| Vibrational and emission properties of porous 6H-SiC / A. M., Rossi; V., Ballarini; Ferrero, Sergio; Giorgis, Fabrizio. - 457-460:(2004), p. 1475. | 1-gen-2004 | FERRERO, SERGIOGIORGIS, FABRIZIO + | - |
| Structural characterisation of nickel suicide performed by two-dimensional X-ray microdiffraction / Colombi, P; Bontempi, E; Meotto, U. M.; Porro, Samuele; Ricciardi, Carlo; Scaltrito, Luciano; Ferrero, Sergio; Richieri, G; Merlin, L; Depero, L.. - In: MATERIALS SCIENCE AND ENGINEERING B-SOLID STATE MATERIALS FOR ADVANCED TECHNOLOGY. - ISSN 0921-5107. - 114-115:(2004), pp. 236-240. | 1-gen-2004 | PORRO, SAMUELERICCIARDI, CarloSCALTRITO, LUCIANOFERRERO, SERGIO + | - |
| Deposition of microcrystalline silicon-carbon alloys in low power regime / Ambrosone, G.; Barucca, G.; Coscia, U.; Ferrero, Sergio; Lettieri, S.; Maddalena, P.. - In: JOURNAL OF NON-CRYSTALLINE SOLIDS. - ISSN 0022-3093. - 338-340:(2004), pp. 163-167. | 1-gen-2004 | FERRERO, SERGIO + | - |
| Structural characterisation of nickel silicide performed by two-dimensional X-ray microdiffraction / P., Colombi; E., Bontempi; U. M., Meotto; Porro, Samuele; Ricciardi, Carlo; Scaltrito, Luciano; Ferrero, Sergio; G., Richieri; L., Merlin; L. E., Depero. - In: MATERIALS SCIENCE AND ENGINEERING B-SOLID STATE MATERIALS FOR ADVANCED TECHNOLOGY. - ISSN 0921-5107. - 114:(2004), pp. 236-240. [10.1016/j.mseb.2004.07.071] | 1-gen-2004 | PORRO, SAMUELERICCIARDI, CarloSCALTRITO, LUCIANOFERRERO, SERGIO + | - |
| Plasma-assisted SiC oxidation for power device fabrication / Mandracci, Pietro; Ferrero, Sergio; Porro, Samuele; Ricciardi, Carlo; G., Richieri; Scaltrito, Luciano. - In: APPLIED SURFACE SCIENCE. - ISSN 0169-4332. - 238:(2004), pp. 336-340. | 1-gen-2004 | MANDRACCI, PietroFERRERO, SERGIOPORRO, SAMUELERICCIARDI, CarloSCALTRITO, LUCIANO + | - |
| Deposition of microcrystalline silicon-carbon films by PECVD / Ambrosone, G; Coscia, U; Lettieri, S; Maddalena, P; Minarini, C; Ferrero, Sergio; Patelli, A; Rigato, V.. - In: THIN SOLID FILMS. - ISSN 0040-6090. - 451-452:(2004), pp. 1081-1084. | 1-gen-2004 | FERRERO, SERGIO + | - |
| Amorphous thin films grown by plasma techniques for biological analysis / Cocuzza, Matteo; Bianco, Stefano; Ferrero, Sergio; E., Giuri; Pirri, Candido; A., Ricci; G., Piacenza; M., Perucca; D., Bich; P., Schina; A., Merialdo. - (2005). (Intervento presentato al convegno 17th international Symposium on Plasma Chemistry tenutosi a Toronto, Canada nel August 2005). | 1-gen-2005 | COCUZZA, MATTEOBIANCO, STEFANOFERRERO, SERGIOPIRRI, Candido + | - |
| MICROCRYSTALLINE SILICON-CARBON ALLOYS GROWN BY PECVD / G., Ambrosone; U., Coscia; M., DELLA NOCE; Ferrero, Sergio; P., Rava; Rivolo, Paola; M., Tucci. - (2005), p. 1631. (Intervento presentato al convegno 20th European Photovoltaic Solar Energy Conference and Exhibition tenutosi a Barcellona (Spain) nel 6-10 June 2005). | 1-gen-2005 | FERRERO, SERGIORIVOLO, PAOLA + | - |
| Design, Fabrication and Characterization of 1.5 mΩcm2, 800 V 4H-SiC n-Type Schottky Barrier Diodes / Furno, Mauro Stefano; Bonani, Fabrizio; Ghione, Giovanni; Ferrero, Sergio; Porro, Samuele; Mandracci, Pietro; Scaltrito, Luciano; Perrone, Denis; Richieri, G.; Merlin, Luigi. - ELETTRONICO. - 483-485:(2005), pp. 941-944. (Intervento presentato al convegno 5th European Conference on Silicon Carbide and Related Materials, ECRSCRM2004 tenutosi a Bologna, Italy nel 31 August - 4 September 2004) [10.4028/www.scientific.net/MSF.483-485.941]. | 1-gen-2005 | FURNO, Mauro StefanoBONANI, FABRIZIOGHIONE, GIOVANNIFERRERO, SERGIOPORRO, SAMUELEMANDRACCI, PietroSCALTRITO, LUCIANOPERRONE, DENIS + | Design, Fabrication, and Characterization of.pdf |
| Phase Formation at Rapid Thermal Annealing of Nickel Contacts on C – Face n – Type 4H – SiC / Ferrero, Sergio; A., Albonico; U. M., Meotto; G., Rombol; Porro, Samuele; Giorgis, Fabrizio; Perrone, D.; Scaltrito, Luciano; E., Bontempi; L. E., Depero; G., Richieri; L., Merlin. - 483-485:(2005), p. 733. | 1-gen-2005 | FERRERO, SERGIOPORRO, SAMUELEGIORGIS, FABRIZIOSCALTRITO, LUCIANO + | - |
| Growth, morphological and structural characterization of silicon carbide epilayers for power electronic devices applications / Pirri, Candido; Porro, Samuele; Ferrero, Sergio; Celasco, Edvige; Guastella, SALVATORE ANTONIO; Scaltrito, Luciano; R., Yakimova; M., Syväjärvi; R. R., Ciechonski; S., De Angelis; D., Crippa. - In: CRYSTAL RESEARCH AND TECHNOLOGY. - ISSN 0232-1300. - 40:(2005), pp. 964-966. [10.1002/crat.200410468] | 1-gen-2005 | PIRRI, CandidoPORRO, SAMUELEFERRERO, SERGIOCELASCO, EDVIGEGUASTELLA, SALVATORE ANTONIOSCALTRITO, LUCIANO + | - |
| Growth, morphological and structural characterization of silicon carbide epilayers for power electronic devices applications / Pirri, Candido; Porro, Samuele; Ferrero, Sergio; Celasco, Edvige; Guastella, SALVATORE ANTONIO; Scaltrito, Luciano; R., Yakimova; M., Syvjrvi; R. R., Ciechonski; S., DE ANGELIS; D., Crippa. - In: CRYSTAL RESEARCH AND TECHNOLOGY. - ISSN 0232-1300. - 40:(2005), pp. 964-966. | 1-gen-2005 | PIRRI, CandidoPORRO, SAMUELEFERRERO, SERGIOCELASCO, EDVIGEGUASTELLA, SALVATORE ANTONIOSCALTRITO, LUCIANO + | - |
| Deep levels by proton and electron irradiation in 4H-SiC / Castaldini, A.; Cavallini, A.; Rigutti, L.; Nava, F.; Ferrero, Sergio; Giorgis, Fabrizio. - In: JOURNAL OF APPLIED PHYSICS. - ISSN 0021-8979. - 98:(2005), pp. 053706-1-053706-6. [10.1063/1.2014941] | 1-gen-2005 | FERRERO, SERGIOGIORGIS, FABRIZIO + | - |
| Raman spectroscopy on micro and nano-structures / Giorgis, F; Ricciardi, Carlo; Celasco, Edvige; Perrone, D; Descrovi, Emiliano; Ferrero, Sergio; Rossi, A. M.. - (2006). (Intervento presentato al convegno NIS colloquium 'Raman spectroscopy: a powerful technique to characterize nano-materials' tenutosi a Dip. Chimica (IFM) Torino (Italy) nel 9 June, 2006). | 1-gen-2006 | RICCIARDI, CarloCELASCO, EDVIGEDESCROVI, EMILIANOFERRERO, SERGIO + | - |
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