Defect influence on the electrical properties of 4H-SiC Schottky diodes / Scaltrito, Luciano; Celasco, Edvige; Porro, Samuele; Ferrero, Sergio; Giorgis, Fabrizio; Pirri, Candido; Perrone, Denis; Meotto, U; Mandracci, Pietro; Richieri, G; Merlin, L; Cavallini, A; Castaldini, A; Rossi, M.. - 457-460:2(2004), pp. 1081-1084.

Defect influence on the electrical properties of 4H-SiC Schottky diodes

SCALTRITO, LUCIANO;CELASCO, EDVIGE;PORRO, SAMUELE;FERRERO, SERGIO;GIORGIS, FABRIZIO;PIRRI, Candido;PERRONE, DENIS;MANDRACCI, Pietro;
2004

2004
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