Archivio Istituzionale della RicercaDefect influence on the electrical properties of 4H-SiC Schottky diodes / Scaltrito, Luciano; Celasco, Edvige; Porro, Samuele; Ferrero, Sergio; Giorgis, Fabrizio; Pirri, Candido; Perrone, Denis; Meotto, U; Mandracci, Pietro; Richieri, G; Merlin, L; Cavallini, A; Castaldini, A; Rossi, M.. - 457-460:2(2004), pp. 1081-1084.
Defect influence on the electrical properties of 4H-SiC Schottky diodes
SCALTRITO, LUCIANO;CELASCO, EDVIGE;PORRO, SAMUELE;FERRERO, SERGIO;GIORGIS, FABRIZIO;PIRRI, Candido;PERRONE, DENIS;MANDRACCI, Pietro;
2004
File in questo prodotto:
Non ci sono file associati a questo prodotto.
Pubblicazioni consigliate
I documenti in IRIS sono protetti da copyright e tutti i diritti sono riservati, salvo diversa indicazione.
Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento:
https://hdl.handle.net/11583/1854782
Attenzione
Attenzione! I dati visualizzati non sono stati sottoposti a validazione da parte dell'ateneo