Archivio Istituzionale della RicercaStructural characterisation of nickel silicide performed by two-dimensional X-ray microdiffraction / P., Colombi; E., Bontempi; U. M., Meotto; Porro, Samuele; Ricciardi, Carlo; Scaltrito, Luciano; Ferrero, Sergio; G., Richieri; L., Merlin; L. E., Depero. - In: MATERIALS SCIENCE AND ENGINEERING B-SOLID STATE MATERIALS FOR ADVANCED TECHNOLOGY. - ISSN 0921-5107. - 114:(2004), pp. 236-240. [10.1016/j.mseb.2004.07.071]
Structural characterisation of nickel silicide performed by two-dimensional X-ray microdiffraction
PORRO, SAMUELE;RICCIARDI, Carlo;SCALTRITO, LUCIANO;FERRERO, SERGIO;
2004
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https://hdl.handle.net/11583/1646668
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