Archivio Istituzionale della RicercaStructural and electrical characterization of epitaxial 4H–SiC layers for power electronic device applications / Scaltrito, L., Porro, S., Cocuzza, M., Giorgis, F., Pirri, C., Mandracci, P., Ricciardi, C., Ferrero, S., Sgorlon, C., G., R., L., M., A., C., A., C., L., P.. - In: MATERIALS SCIENCE AND ENGINEERING B-SOLID STATE MATERIALS FOR ADVANCED TECHNOLOGY. - ISSN 0921-5107. - 102:(2003), pp. 298-303. [10.1016/S0921-5107(02)00726-2]
Structural and electrical characterization of epitaxial 4H–SiC layers for power electronic device applications
SCALTRITO, LUCIANO;PORRO, SAMUELE;COCUZZA, MATTEO;GIORGIS, FABRIZIO;PIRRI, Candido;MANDRACCI, Pietro;RICCIARDI, Carlo;FERRERO, SERGIO;SGORLON, CORRADO;
2003
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https://hdl.handle.net/11583/2588469
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