Growth, morphological and structural characterization of silicon carbide epilayers for power electronic devices applications / Pirri, C., Porro, S., Ferrero, S., Celasco, E., Guastella, S.A., Scaltrito, L., R., Y., M., S., R. R., C., S., D.A., D., C.. - In: CRYSTAL RESEARCH AND TECHNOLOGY. - ISSN 0232-1300. - 40:(2005), pp. 964-966. [10.1002/crat.200410468]
Growth, morphological and structural characterization of silicon carbide epilayers for power electronic devices applications
PIRRI, Candido;PORRO, SAMUELE;FERRERO, SERGIO;CELASCO, EDVIGE;GUASTELLA, SALVATORE ANTONIO;SCALTRITO, LUCIANO;
2005
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https://hdl.handle.net/11583/2588457
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