Growth, morphological and structural characterization of silicon carbide epilayers for power electronic devices applications / C. F. Pirri;S. Porro;S. Ferrero;E. Celasco;S. Guastella;L. Scaltrito;R. Yakimova;M. Syväjärvi;R. R. Ciechonski;S. De Angelis;D. Crippa. - In: CRYSTAL RESEARCH AND TECHNOLOGY. - ISSN 0232-1300. - 40:(2005), pp. 964-966. [10.1002/crat.200410468]
Titolo: | Growth, morphological and structural characterization of silicon carbide epilayers for power electronic devices applications | |
Autori: | ||
Data di pubblicazione: | 2005 | |
Rivista: | ||
Digital Object Identifier (DOI): | http://dx.doi.org/10.1002/crat.200410468 | |
Appare nelle tipologie: | 1.1 Articolo in rivista |
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http://hdl.handle.net/11583/2588457
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