Surface analysis and defect characterization of 4H-SiC wafers for power electronic device applications / SCALTRITO L.; FANCHINI G.; PORRO S.; COCUZZA M.; GIORGIS F.; TRESSO E.; PIRRI C.F.; MANDRACCI P.; RICCIARDI C.; FERRERO S.; SGORLON C.; RICHIERI G.; MERLIN L.. - In: DIAMOND AND RELATED MATERIALS. - ISSN 0925-9635. - 12(2003), pp. 1224-1226.
Titolo: | Surface analysis and defect characterization of 4H-SiC wafers for power electronic device applications | |
Autori: | ||
Data di pubblicazione: | 2003 | |
Rivista: | ||
Appare nelle tipologie: | 1.1 Articolo in rivista |
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http://hdl.handle.net/11583/1406666
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