PORTO @ Archivio Istituzionale della Ricerca

Sfoglia per Autore  

Opzioni
Mostrati risultati da 61 a 80 di 151
Citazione Data di pubblicazione Autori File
Single-Event Upset Analysis and Protection in High Speed Circuits / Hosseinabady, M.; Lofti Kamran, P.; DI NATALE, Giorgio; DI CARLO, Stefano; Benso, Alfredo; Prinetto, Paolo Ernesto. - STAMPA. - (2006), pp. 29-34. (Intervento presentato al convegno IEEE 11th European Test Symposium (ETS) tenutosi a SouthAmpton (UK) nel 21-24 May 2006) [10.1109/ETS.2006.41]. 1-gen-2006 DI NATALE, GiorgioDI CARLO, STEFANOBENSO, AlfredoPRINETTO, Paolo Ernesto + 2006-ETS-SEU.pdf; 2006-ETS-SEU-AuthorVersion.pdf
ATPG for Dynamic Burn-In Test in Full-Scan Circuits / Benso, Alfredo; Bosio, Alberto; DI CARLO, Stefano; DI NATALE, Giorgio; Prinetto, Paolo Ernesto. - STAMPA. - (2006), pp. 75-82. (Intervento presentato al convegno IEEE 15th Asian Test Symposium (ATS) tenutosi a Fukuoka, JP nel 20-23 Nov. 2006) [10.1109/ATS.2006.260996]. 1-gen-2006 BENSO, AlfredoBOSIO, ALBERTODI CARLO, STEFANODI NATALE, GiorgioPRINETTO, Paolo Ernesto 2006-ATS-BurnIn.pdf
An on-line software-based self-test framework for microprocessor cores / Benso, Alfredo; Bosio, A; Prinetto, Paolo Ernesto; Savino, Alessandro. - STAMPA. - (2006), pp. 394-399. (Intervento presentato al convegno International Conference on Design and Test of Integrated Systems in Nanoscale Technology, 2006. DTIS 2006 tenutosi a Tunis (Tunisia) nel Sept. 5-7 2006) [10.1109/DTIS.2006.1708654]. 1-gen-2006 BENSO, AlfredoPRINETTO, Paolo ErnestoSAVINO, ALESSANDRO + -
A Black-Box-Oriented Test Methodology / Benso, Alfredo; Bosio, Alberto; Prinetto, Paolo Ernesto; Savino, Alessandro. - STAMPA. - (2006), pp. 11-15. (Intervento presentato al convegno IEEE East-West Design & Test Workshop (EWDTW06) tenutosi a Sochi (Russia) nel Sept. 15-19, 2006). 1-gen-2006 BENSO, AlfredoBOSIO, ALBERTOPRINETTO, Paolo ErnestoSAVINO, ALESSANDRO -
Memory Fault Simulator for Static-Linked Faults / Benso, Alfredo; Bosio, Alberto; DI CARLO, Stefano; DI NATALE, Giorgio; Prinetto, Paolo Ernesto. - STAMPA. - (2006), pp. 31-36. (Intervento presentato al convegno IEEE 15th AsianTest Symposium (ATS) tenutosi a Fukuoka, JP nel 20-23 Nov. 2006) [10.1109/ATS.2006.260989]. 1-gen-2006 BENSO, AlfredoBOSIO, ALBERTODI CARLO, STEFANODI NATALE, GiorgioPRINETTO, Paolo Ernesto 2006-ATS-MemorySim.pdf; 2006-ATS-MemorySim-AuthorVersion.pdf
Automatic March Tests Generations for Static Linked Faults in SRAMs / Benso, Alfredo; Bosio, Alberto; DI CARLO, Stefano; DI NATALE, Giorgio; Prinetto, Paolo Ernesto. - STAMPA. - 1:(2006), pp. 1-6. (Intervento presentato al convegno Design, Automation and Test in Europe, Conference and Exhibition (DATE) tenutosi a Munich, DE nel 6-10 Mar. 2006) [10.1109/DATE.2006.244097]. 1-gen-2006 BENSO, AlfredoBOSIO, ALBERTODI CARLO, STEFANODI NATALE, GiorgioPRINETTO, Paolo Ernesto 2006-DATE-MarchTest.pdf
A Functional Verification based Fault Injection Environment / Benso, Alfredo; Bosio, Alberto; DI CARLO, Stefano; Mariani, R.. - STAMPA. - (2007), pp. 114-122. (Intervento presentato al convegno IEEE 22nd International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI Systems (DFTS) tenutosi a Roma, IT nel 26-28 Sept. 2007) [10.1109/DFT.2007.31]. 1-gen-2007 BENSO, AlfredoBOSIO, ALBERTODI CARLO, STEFANO + 2007-DFT-FaultSim.pdf
Automating the IEEE std. 1500 compliance verification for embedded cores / Benso, Alfredo; DI CARLO, Stefano; Prinetto, Paolo Ernesto; Bosio, Alberto. - STAMPA. - (2007), pp. 171-178. (Intervento presentato al convegno IEEE International High Level Design Validation and Test Workshop (HLDVT) tenutosi a Irvine (CA), USA nel 7-9 Nov. 2007) [10.1109/HLDVT.2007.4392810]. 1-gen-2007 BENSO, AlfredoDI CARLO, STEFANOPRINETTO, Paolo ErnestoBOSIO, ALBERTO 2007-HLDVT-IEEE1500.pdf
Analysis of System-Failure Rate Caused by Soft-Errors using a UML-Based Systematic Methodology in an SoC / Hosseinabady, M.; Neishaburi, M. H.; Navabi, Z.; Benso, Alfredo; DI CARLO, Stefano; Prinetto, Paolo Ernesto; DI NATALE, Giorgio. - STAMPA. - (2007), pp. 205-206. (Intervento presentato al convegno IEEE 13th International On-Line Testing Symposium (IOLTS) tenutosi a Crete, GR nel 8-11 July 2007) [10.1109/IOLTS.2007.17]. 1-gen-2007 BENSO, AlfredoDI CARLO, STEFANOPRINETTO, Paolo ErnestoDI NATALE, Giorgio + 2007-IOLTS-SEU.pdf
Differential gene expression graphs: A data structure for classification in DNA microarrays / Benso, Alfredo; DI CARLO, Stefano; Politano, GIANFRANCO MICHELE MARIA; Sterpone, Luca. - STAMPA. - (2008), pp. 1-6. (Intervento presentato al convegno IEEE 8th International Conference on BioInformatics and BioEngineering (BIBE) tenutosi a Athens, GR nel 8-10 Ott. 2008) [10.1109/BIBE.2008.4696689]. 1-gen-2008 BENSO, AlfredoDI CARLO, STEFANOPOLITANO, GIANFRANCO MICHELE MARIASTERPONE, Luca 2008-BIBE-GEEG.pdf
A graph-based representation of Gene Expression profiles in DNA microarrays / Benso, Alfredo; DI CARLO, Stefano; Politano, GIANFRANCO MICHELE MARIA; Sterpone, Luca. - STAMPA. - (2008), pp. 75-82. (Intervento presentato al convegno IEEE Symposium on Computational Intelligence in Bioinformatics and Computational Biology (CIBCB) tenutosi a Sun Valley (ID), USA nel 15-17 Sept. 2008) [10.1109/CIBCB.2008.4675762]. 1-gen-2008 BENSO, AlfredoDI CARLO, STEFANOPOLITANO, GIANFRANCO MICHELE MARIASTERPONE, Luca 2008-CIBCB-GEG.pdf
IEEE Standard 1500 Compliance Verification for Embedded Cores / Benso, Alfredo; DI CARLO, Stefano; Prinetto, Paolo Ernesto; Zorian, Y.. - In: IEEE TRANSACTIONS ON VERY LARGE SCALE INTEGRATION (VLSI) SYSTEMS. - ISSN 1063-8210. - STAMPA. - 16:4(2008), pp. 397-407. [10.1109/TVLSI.2008.917412] 1-gen-2008 BENSO, AlfredoDI CARLO, STEFANOPRINETTO, Paolo Ernesto + 2008-TVLSI-IEEE1500.pdf
March Test Generation Revealed / Benso, Alfredo; Bosio, Alberto; DI CARLO, Stefano; DI NATALE, Giorgio; Prinetto, Paolo Ernesto. - In: IEEE TRANSACTIONS ON COMPUTERS. - ISSN 0018-9340. - STAMPA. - 57:12(2008), pp. 1704-1713. [10.1109/TC.2008.105] 1-gen-2008 BENSO, AlfredoBOSIO, ALBERTODI CARLO, STEFANODI NATALE, GiorgioPRINETTO, Paolo Ernesto 2008-TC-MarchTest.pdf
Using ER Models for Microprocessor Functional Test Coverage Evaluation / Benso, Alfredo; DI CARLO, Stefano; Prinetto, Paolo Ernesto; Savino, Alessandro; Scionti, A.. - STAMPA. - (2008), pp. 139-142. (Intervento presentato al convegno IEEE 11th International Biennial Baltic Electronics Conference (BEC) tenutosi a Tallinn, EE nel 6-8 Oct. 2008) [10.1109/BEC.2008.4657498]. 1-gen-2008 BENSO, AlfredoDI CARLO, STEFANOPRINETTO, Paolo ErnestoSAVINO, ALESSANDRO + 2008-BEC-ER-AuthorVersion.pdf
Gene expression reliability estimation through cluster-based analysis / Sterpone, Luca; Benso, Alfredo; DI CARLO, Stefano; Politano, GIANFRANCO MICHELE MARIA. - STAMPA. - (2009), pp. 229-231. (Intervento presentato al convegno IEEE International Workshop on Medical Measurement (MeMeA) tenutosi a Cetraro, IT nel 29-30 May 2009) [10.1109/MEMEA.2009.5167990]. 1-gen-2009 STERPONE, LucaBENSO, AlfredoDI CARLO, STEFANOPOLITANO, GIANFRANCO MICHELE MARIA 2009-MEMEA-Microarray.pdf
Gene expression classifiers and out-of-class samples detection / Benso, Alfredo; DI CARLO, Stefano; Politano, GIANFRANCO MICHELE MARIA. - STAMPA. - (2009), pp. 1-5. (Intervento presentato al convegno IEEE 9th International Conference on Information Technology and Applications in Biomedicine (ITAB) tenutosi a Larnaca, CY nel 5-7 Nov. 2009) [10.1109/ITAB.2009.5394401]. 1-gen-2009 BENSO, AlfredoDI CARLO, STEFANOPOLITANO, GIANFRANCO MICHELE MARIA 2009-ITAB-Rule.pdf
Are IEEE 1500 compliant cores really compliant to the standard? / Benso, Alfredo; Bosio, Alberto; DI CARLO, Stefano; Prinetto, Paolo Ernesto. - In: IEEE DESIGN & TEST OF COMPUTERS. - ISSN 0740-7475. - STAMPA. - 26:3(2009), pp. 16-24. [10.1109/MDT.2009.46] 1-gen-2009 BENSO, AlfredoBOSIO, ALBERTODI CARLO, STEFANOPRINETTO, Paolo Ernesto 2009-MTD-IEEE1500.pdf
GPU acceleration for statistical gene classification / Benso, Alfredo; DI CARLO, Stefano; Politano, GIANFRANCO MICHELE MARIA; Savino, Alessandro. - STAMPA. - 2:(2010), pp. 1-6. (Intervento presentato al convegno IEEE International Conference on Automation, Quality and Testing Robotics (AQTR) tenutosi a Cluj Napoca, RO nel 28-30 May 2010) [10.1109/AQTR.2010.5520794]. 1-gen-2010 BENSO, AlfredoDI CARLO, STEFANOPOLITANO, GIANFRANCO MICHELE MARIASAVINO, ALESSANDRO 2010-AQTR-CUDA.pdf
GPU cards as a low cost solution for efficient and fast classification of high dimensional gene expression datasets / Benso, Alfredo; DI CARLO, Stefano; Politano, GIANFRANCO MICHELE MARIA; Savino, Alessandro; Scionti, A.. - In: CONTROL ENGINEERING AND APPLIED INFORMATICS. - ISSN 1454-8658. - STAMPA. - 12:3(2010), pp. 34-40. 1-gen-2010 BENSO, AlfredoDI CARLO, STEFANOPOLITANO, GIANFRANCO MICHELE MARIASAVINO, ALESSANDRO + 2010-CEAI-Cuda.pdf
The Art of Fault Injection / Benso, Alfredo; DI CARLO, Stefano. - In: CONTROL ENGINEERING AND APPLIED INFORMATICS. - ISSN 1454-8658. - STAMPA. - 13:4(2011), pp. 9-18. 1-gen-2011 BENSO, AlfredoDI CARLO, STEFANO 2011-CEAI-FaultInjection.pdf
Mostrati risultati da 61 a 80 di 151
Legenda icone

  •  file ad accesso aperto
  •  file disponibili sulla rete interna
  •  file disponibili agli utenti autorizzati
  •  file disponibili solo agli amministratori
  •  file sotto embargo
  •  nessun file disponibile