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Citazione Data di pubblicazione Autori File
On the testing of special memories in GPGPUs / Rodriguez Condia, Josie E.; Reorda, Matteo Sonza. - ELETTRONICO. - (2020), pp. 1-6. (Intervento presentato al convegno 2020 IEEE 26th International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design (IOLTS) tenutosi a Napoli, Italy nel 13-15 July 2020) [10.1109/IOLTS50870.2020.9159711]. 1-gen-2020 Rodriguez Condia, Josie E.Reorda, Matteo Sonza camera ready.pdf; 09159711.pdf
On the transformation of manufacturing test sets into on-line test sets for microprocessors / SANCHEZ SANCHEZ, EDGAR ERNESTO; SONZA REORDA, Matteo; Squillero, Giovanni. - (2005), pp. 494-502. (Intervento presentato al convegno Defect and Fault Tolerance in VLSI Systems (DFT)) [10.1109/DFTVS.2005.53]. 1-gen-2005 SANCHEZ SANCHEZ, EDGAR ERNESTOSONZA REORDA, MatteoSQUILLERO, Giovanni -
On-line Analysis and Perturbation of CAN Networks / SONZA REORDA, Matteo; Violante, Massimo. - (2004), pp. 424-432. (Intervento presentato al convegno IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI Systems) [10.1109/DFTVS.2004.1347867]. 1-gen-2004 SONZA REORDA, MatteoVIOLANTE, MASSIMO -
On-line Detection of Control-Flow Errors in SoCs by means of an Infrastructure IP core / Bernardi, Paolo; VEIRAS BOLZANI, Leticia Maria; Rebaudengo, Maurizio; SONZA REORDA, Matteo; F., Vargas; Violante, Massimo. - (2005), pp. 50-58. (Intervento presentato al convegno IEEE Dependable Systems and Networks Symposium) [10.1109/DSN.2005.74]. 1-gen-2005 BERNARDI, PAOLOVEIRAS BOLZANI, Leticia MariaREBAUDENGO, MaurizioSONZA REORDA, MatteoVIOLANTE, MASSIMO + -
On-line functionally untestable fault identification in embedded processor cores / Bernardi, Paolo; Bonazza, M.; SANCHEZ SANCHEZ, EDGAR ERNESTO; SONZA REORDA, Matteo; Ballan, O.. - (2013). (Intervento presentato al convegno Design, Automation & Test in Europe Conference & Exhibition (DATE), 2013). 1-gen-2013 BERNARDI, PAOLOSANCHEZ SANCHEZ, EDGAR ERNESTOSONZA REORDA, Matteo + 2507899-1.pdf
On-Line Software-Based Self-Test of the Address Calculation Unit in RISC Processors / Bernardi, Paolo; Ciganda, LYL MERCEDES; DE CARVALHO, Mauricio; Grosso, Michelangelo; J., Lagos Benites; SANCHEZ SANCHEZ, EDGAR ERNESTO; SONZA REORDA, Matteo; O., Ballan. - (2012). (Intervento presentato al convegno European Test Symposium (ETS), 2012 17th IEEE). 1-gen-2012 BERNARDI, PAOLOCIGANDA, LYL MERCEDESDE CARVALHO, MAURICIOGROSSO, MICHELANGELOSANCHEZ SANCHEZ, EDGAR ERNESTOSONZA REORDA, Matteo + -
On-line testing of an off-the-shelf microprocessor board for safety-critical applications / Corno, Fulvio; M., Damiani; L., Impagliazzo; Prinetto, Paolo Ernesto; Rebaudengo, Maurizio; G., Sartore; SONZA REORDA, Matteo. - 1150:(1996), pp. 190-201. (Intervento presentato al convegno Dependable Computing — EDCC-2, 2nd European Dependable Computing Conference tenutosi a Taormina (ITA) nel October 2–4, 1996) [10.1007/3-540-61772-8_38]. 1-gen-1996 CORNO, FulvioPRINETTO, Paolo ErnestoREBAUDENGO, MaurizioSONZA REORDA, Matteo + -
Online hardening of programs against SEUs and SETs / Lisboa, C. A. L.; Carro, L; SONZA REORDA, Matteo; Violante, Massimo. - (2006), pp. 280-290. (Intervento presentato al convegno IEEE Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI Systems) [10.1109/DFT.2006.49]. 1-gen-2006 SONZA REORDA, MatteoVIOLANTE, MASSIMO + -
Online scheduling of concurrent Memory BISTs execution at Real-Time Operating-System level / Angione, Francesco; Bernardi, Paolo; Filipponi, Gabriele; Tempesta, Claudia; SONZA REORDA, Matteo; Appello, Davide; Ugioli, Roberto; Tancorre, Vincenzo. - (2022). (Intervento presentato al convegno International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems tenutosi a Austin (USA) nel 19-21 October 2022) [10.1109/DFT56152.2022.9962338]. 1-gen-2022 Francesco AngionePaolo BernardiGabriele FilipponiClaudia TempestaMatteo Sonza Reorda + Online_scheduling_of_concurrent_Memory_BISTs_execution_at_Real-Time_Operating-System_level.pdf
Optimal vector selection for low power BIST / Corno, Fulvio; Rebaudengo, Maurizio; SONZA REORDA, Matteo; Violante, Massimo. - (1999), pp. 219-226. (Intervento presentato al convegno Defect and Fault Tolerance in VLSI Systems, 1999. DFT '99. International Symposium on tenutosi a Albuquerque, NM, USA nel Nov 1999) [10.1109/DFTVS.1999.802888]. 1-gen-1999 CORNO, FulvioREBAUDENGO, MaurizioSONZA REORDA, MatteoVIOLANTE, MASSIMO -
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Tipologia
  • 4 Contributo in Atti di Convegno ... 475
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Autore
  • REBAUDENGO, MAURIZIO 116
  • CORNO, Fulvio 97
  • VIOLANTE, MASSIMO 97
  • BERNARDI, PAOLO 87
  • SANCHEZ SANCHEZ, EDGAR ERNESTO 72
  • SQUILLERO, GIOVANNI 70
  • PRINETTO, Paolo Ernesto 66
  • CANTORO, RICCARDO 47
  • GROSSO, MICHELANGELO 44
  • RODRIGUEZ CONDIA, JOSIE ESTEBAN 39
Data di pubblicazione
  • In corso di stampa 1
  • 2020 - 2024 76
  • 2010 - 2019 128
  • 2000 - 2009 167
  • 1990 - 1999 99
  • 1988 - 1989 4
Editore
  • IEEE 136
  • IEEE Computer Society 44
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  • Institute of Electrical and Elect... 19
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  • ACM Press 7
  • IEEE-INST ELECTRICAL ELECTRONICS ... 6
  • IEEE / Institute of Electrical an... 4
  • ACM 3
  • ieee 3
Rivista
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Serie
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  • IFIP ADVANCES IN INFORMATION AND ... 1
  • LECTURE NOTES IN COMPUTER SCIENCE 1
  • LECTURE NOTES IN COMPUTER SCIENCE 1
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Keyword
  • Reliability 13
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Lingua
  • eng 292
  • ger 1
  • ita 1
Accesso al fulltext
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