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A Secure Canary-Based Hardware Approach Against ROP / Sadeghipourrudsari, Mahboobe; Prinetto, Paolo; Nouri, Ebrahim; Sheikhshoaei, Fatemeh; Navabi, Zainalabedin. - 6:(2022). (Intervento presentato al convegno ITASEC'22: Italian Conference on Cybersecurity tenutosi a Rome, Italy nel June 20--23, 2022). 1-gen-2022 SadeghipourRudsari, MahboobePrinetto, Paolo + ITASEC2022.pdf; paper5.pdf
A simulation-based approach to test pattern generation for synchronous circuits / Camurati, Paolo Enrico; Corno, Fulvio; Prinetto, Paolo Ernesto; SONZA REORDA, Matteo. - STAMPA. - (1992), pp. 263-267. (Intervento presentato al convegno IEEE VLSI Test Symposium) [10.1109/VTEST.1992.232763]. 1-gen-1992 CAMURATI, Paolo EnricoCORNO, FulvioPRINETTO, Paolo ErnestoSONZA REORDA, Matteo -
A software development kit for dependable applications in embedded systems / Benso, Alfredo; Chiusano, SILVIA ANNA; Prinetto, Paolo Ernesto. - STAMPA. - (2000), pp. 170-178. (Intervento presentato al convegno IEEE International Test Conference nel 3-5 October 2000). 1-gen-2000 BENSO, AlfredoCHIUSANO, SILVIA ANNAPRINETTO, Paolo Ernesto -
A software-based self test of CUDA Fermi GPUs / DI CARLO, Stefano; Gambardella, G.; Indaco, M.; Martella, I.; Prinetto, Paolo Ernesto; Rolfo, D.; Trotta, P.. - STAMPA. - (2013), pp. 1-6. (Intervento presentato al convegno IEEE 18th European Test Symposium (ETS) tenutosi a Avignon (F) nel 27-30 May 2013) [10.1109/ETS.2013.6569353]. 1-gen-2013 DI CARLO, STEFANOPRINETTO, Paolo Ernesto + 2013-ETS-GPU-AuthorVersion.pdf
A Systematic Approach for Evaluating Satellite Communications Systems / DI CARLO, Stefano; Prinetto, Paolo Ernesto; Savino, Alessandro; Tiotto, Gabriele; Elia, P.. - STAMPA. - (2008), pp. 13-16. (Intervento presentato al convegno IEEE 6th East-West Design & Test Symposium (EWDTS) tenutosi a Lviv, UA nel 9-12 Oct. 2008). 1-gen-2008 DI CARLO, STEFANOPRINETTO, Paolo ErnestoSAVINO, ALESSANDROTIOTTO, GABRIELE + 2008-EWDTS-Satellite.pdf; 2008-EWDTS-Satellite-AuthorVersion.pdf
A Test Pattern Generation Algorithm Exploiting Behavioral Information / Chiusano, SILVIA ANNA; Corno, Fulvio; Prinetto, Paolo Ernesto. - (1998), pp. 480-485. (Intervento presentato al convegno IEEE Asian Test Symposium nel 2-4 December 1998). 1-gen-1998 CHIUSANO, SILVIA ANNACORNO, FulvioPRINETTO, Paolo Ernesto -
A test pattern generation methodology for low power consumption / Corno, Fulvio; Prinetto, Paolo Ernesto; Rebaudengo, Maurizio; SONZA REORDA, Matteo. - STAMPA. - (1998), pp. 453-457. (Intervento presentato al convegno 16th IEEE VLSI Test Symposium tenutosi a Monterey (CA) nel Apr 26-30 1998) [10.1109/VTEST.1998.670912]. 1-gen-1998 CORNO, FulvioPRINETTO, Paolo ErnestoREBAUDENGO, MaurizioSONZA REORDA, Matteo -
A unifying formalism to support automated synthesis of SBSTs for embedded caches / DI CARLO, Stefano; Gambardella, Giulio; Indaco, Marco; Rolfo, Daniele; Prinetto, Paolo Ernesto. - STAMPA. - (2011), pp. 39-42. (Intervento presentato al convegno IEEE East-West Design & Test Symposium (EWDTS) tenutosi a Sebastopoli, UA nel 9-12 Sept. 2011) [10.1109/EWDTS.2011.6116421]. 1-gen-2011 DI CARLO, STEFANOGAMBARDELLA, GIULIOINDACO, MARCOROLFO, DANIELEPRINETTO, Paolo Ernesto 2011-EWDTS-Cache-AuthorVersion.pdf
A Unique March Test Algorithm for the Wide Spread of Realistic Memory Faults in SRAMs / Benso, Alfredo; Bosio, Alberto; DI CARLO, Stefano; DI NATALE, Giorgio; Prinetto, Paolo Ernesto. - STAMPA. - (2006), pp. 155-156. (Intervento presentato al convegno IEEE 9th Workshop on Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems (DDECS) tenutosi a Prague, CZ nel 18-21 Apr. 2006) [10.1109/DDECS.2006.1649602]. 1-gen-2006 BENSO, AlfredoBOSIO, ALBERTODI CARLO, STEFANODI NATALE, GiorgioPRINETTO, Paolo Ernesto 2006-DDECS-MarchTest.pdf
A verifiable design methodology at system-level / Camurati, Paolo Enrico; Corno, Fulvio; Prinetto, Paolo Ernesto; C., Bayol; B., Soulas. - STAMPA. - (1993), pp. 364-367. (Intervento presentato al convegno ICVC93: IEEE 3rd International Conference on VLSI and CAD tenutosi a Taejon (Korea) nel Nov 1993). 1-gen-1993 CAMURATI, Paolo EnricoCORNO, FulvioPRINETTO, Paolo Ernesto + -
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Tipologia
  • 4 Contributo in Atti di Convegno ... 249
  • 4 Contributo in Atti di Convegno ... 246
  • 4 Contributo in Atti di Convegno ... 3
Autore
  • DI CARLO, STEFANO 83
  • SONZA REORDA, MATTEO 66
  • CORNO, Fulvio 53
  • BENSO, ALFREDO 45
  • REBAUDENGO, MAURIZIO 33
  • CAMURATI, Paolo Enrico 30
  • DI NATALE, GIORGIO 25
  • MEZZALAMA, MARCO 24
  • CHIUSANO, SILVIA ANNA 23
  • INDACO, MARCO 18
Data di pubblicazione
  • In corso di stampa 2
  • 2020 - 2023 14
  • 2010 - 2019 63
  • 2000 - 2009 66
  • 1990 - 1999 75
  • 1980 - 1989 25
  • 1978 - 1979 4
Editore
  • IEEE Computer Society 84
  • IEEE 44
  • Institute of Electrical and Elect... 11
  • Springer 8
  • CEUR Workshop Proceedings 4
  • IEEE Computer Society Press 4
  • IEEE / Institute of Electrical an... 3
  • North-Holland Publishing Co. 3
  • SPD FL Stepanov V.V.Ukraine, 6116... 3
  • Acta Press 2
Rivista
  • LECTURE NOTES IN COMPUTER SCIENCE 8
  • 2016 IEEE 34th VLSI Test Symposiu... 1
Serie
  • CEUR WORKSHOP PROCEEDINGS 4
Keyword
  • DIGITAL SYSTEM DESIGN TEST AND VE... 90
  • Automatic testing 16
  • System testing 16
  • Random access memory 12
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