Archivio Istituzionale della RicercaA test pattern generation methodology for low power consumption / Corno, Fulvio; Prinetto, Paolo Ernesto; Rebaudengo, Maurizio; SONZA REORDA, Matteo. - STAMPA. - (1998), pp. 453-457. (Intervento presentato al convegno 16th IEEE VLSI Test Symposium tenutosi a Monterey (CA) nel Apr 26-30 1998) [10.1109/VTEST.1998.670912].
A test pattern generation methodology for low power consumption
CORNO, Fulvio;PRINETTO, Paolo Ernesto;REBAUDENGO, Maurizio;SONZA REORDA, Matteo
1998
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https://hdl.handle.net/11583/2500872
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